時(shí)間繼電器測(cè)試(06-100)
電路中的元器件:
本文引用地址:http://2s4d.com/article/81409.htmC45—小型斷路器,SA1、SA2—控制開(kāi)關(guān),—工作電壓指示(AC) ,Hz—頻率表,KT—被測(cè)產(chǎn)品,K—小型中間繼電器,KT1—保持用時(shí)間繼電器,KT2—休止用時(shí)間繼電器 KC—計(jì)數(shù)繼電器,PT—石英計(jì)時(shí)儀。
在檢測(cè)開(kāi)始先閉合SA1開(kāi)關(guān),Hz頻率表來(lái)監(jiān)視AC220V電壓頻率,電壓表來(lái)指示被測(cè)產(chǎn)品的工作電壓,選擇PT石英計(jì)時(shí)儀“S”檔(根據(jù)被測(cè)產(chǎn)品延時(shí)時(shí)間來(lái)確定)。
將被測(cè)KT接入檢測(cè)線(xiàn)路中,閉合SA2,中間繼電器K得電吸合,常開(kāi)K-2閉合,被測(cè)試KT線(xiàn)圈得電延時(shí)開(kāi)始,同時(shí)繼電器K常閉觸點(diǎn)K-1斷開(kāi),使PT石英計(jì)時(shí)儀與被測(cè)產(chǎn)品計(jì)時(shí)同步開(kāi)始;當(dāng)被測(cè)KT延時(shí)到達(dá)后,延時(shí)閉合的動(dòng)合觸點(diǎn)接通,延時(shí)斷開(kāi)的動(dòng)斷觸點(diǎn)斷開(kāi),使PT石英計(jì)時(shí)儀顯示時(shí)間數(shù)據(jù)保持暫停記錄其延時(shí)值,并使保持時(shí)間繼電器KT1得電開(kāi)始延時(shí),當(dāng)所設(shè)保持時(shí)間0.5~1S延時(shí)時(shí)間到后,KT1延時(shí)閉合的動(dòng)合觸點(diǎn)閉合,延時(shí)斷開(kāi)的動(dòng)斷觸點(diǎn)斷開(kāi),使KT2休止用時(shí)間繼電器線(xiàn)圈得電開(kāi)始延時(shí),并對(duì)KT延時(shí)閉合的動(dòng)合觸點(diǎn)自鎖,使KT1繼續(xù)保持通電狀態(tài)。當(dāng)休止用時(shí)間繼電器KT2延時(shí)時(shí)間到后,KT2延時(shí)閉合動(dòng)合觸點(diǎn)和延時(shí)斷開(kāi)動(dòng)斷觸點(diǎn)分別接通斷開(kāi),動(dòng)合觸點(diǎn)加入KC計(jì)數(shù)繼電器計(jì)數(shù)端對(duì)被測(cè)產(chǎn)品測(cè)試次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù),KT1保持用時(shí)間繼電器失電,使中間繼電器K又重新開(kāi)始得電工作,進(jìn)行下一次(輪)對(duì)被測(cè)產(chǎn)品的延時(shí)參數(shù)進(jìn)行檢測(cè),工作程序如上分析。當(dāng)被測(cè)次數(shù)n與KC計(jì)數(shù)繼電器所預(yù)置相同時(shí),計(jì)數(shù)繼電器控制常閉觸點(diǎn)KC斷開(kāi),使整個(gè)測(cè)試過(guò)程結(jié)束。
此測(cè)試電路的缺點(diǎn)是:電路較為復(fù)雜,另外對(duì)被測(cè)產(chǎn)品不同的電壓規(guī)格不夠兼容(如被測(cè)產(chǎn)品其它電壓規(guī)定,則需對(duì)此電路需加改進(jìn));每次檢測(cè)產(chǎn)品數(shù)量少(單只產(chǎn)品),延時(shí)記錄需人工對(duì)每次測(cè)試結(jié)果進(jìn)行記錄,并最終對(duì)其記錄數(shù)據(jù)進(jìn)行計(jì)算處理;保持用KT1和休止用KT2兩個(gè)時(shí)間繼電器需根據(jù)產(chǎn)品延時(shí)時(shí)間進(jìn)行相應(yīng)設(shè)置。
基于單片機(jī)的測(cè)試系統(tǒng)
基于單片機(jī)的測(cè)試系統(tǒng)示于圖2。
評(píng)論