測試設(shè)計的新語言CTL(04-100)

　　可用CTL來執(zhí)行分級DFT并做為設(shè)計環(huán)境和ATE環(huán)境之間一個信息豐富的測試接口。對于測試圖形再用所生成的CTL結(jié)構(gòu)支持在事件之后依賴協(xié)議管理的測試方法。例如，由一個接口提供的測試圖形可變化為用另一個替代接口，用稱之為重新對準目標(biāo)的測試器圖形要領(lǐng)來改善ATE利用。

　　一些主要從事EDA、ATE、IP核和SoC開發(fā)的公司已為半導(dǎo)體業(yè)行提供CTL基DFT方案。由Synopsys、Agilent和ARM公司提供的初始CTL基方案已發(fā)布。ST公司也從事檢驗早期CTL基產(chǎn)品方案和積極地促進行業(yè)論壇工作。初始產(chǎn)品和工具已適用于用戶，CTL被行業(yè)接受應(yīng)該很快。

　　CTL基EDA工具

　　Synopsys公司推出CTL基設(shè)計生成和ATPG支持工具。它的DFT CompilerTM SOCBIST 工具能產(chǎn)生核生成流(為核供應(yīng)商輸出CTL)和SoC集成流(對于下一級集成接受DFT/ATPG任務(wù)的核級CTL)見圖1。另外，通過CTL采用分級DFT消除了與很大設(shè)計有關(guān)的問題，所給出的標(biāo)準DFT工具具有處理設(shè)計的能力，這在以前是不可能提供的。

　　基于CTL尚未被通過，所以Synopsys設(shè)計工具流建立在形成標(biāo)準的專用設(shè)計。為了確保用戶平滑的DFT流，Synopsys公司與Agilent公司緊密合作開發(fā)的測試程序生成器和相關(guān)工具，特別是Agilent SmarTest PGCTL瀏覽器。