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開關(guān)電源的可靠性設(shè)計

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作者:王會立 時間:2007-04-16 來源:電源技術(shù) 收藏
1 引言

是各種系統(tǒng)的核心部分。的需求越來越大,同時對可靠性提出了越來越高的要求。涉及系統(tǒng)可靠性的因素很多。目前,人們認識上的主要誤區(qū)是把可靠性完全(或基本上)歸結(jié)于元器件的可靠性和制造裝配的工藝,忽略了系統(tǒng)設(shè)計和環(huán)境溫度對可靠性的決定性的作用。據(jù)美國海軍電子實驗室的統(tǒng)計,整機出現(xiàn)故障的原因和各自所占的百分比如表1所示。

  整機故障原因統(tǒng)計


在民用電子產(chǎn)品領(lǐng)域,日本的統(tǒng)計資料表明,可靠性問題80%源于設(shè)計方面(日本把元器件的選型、質(zhì)量級別的確定、元器件的負荷率等部分也歸入設(shè)計上的原因)。以上兩方面的數(shù)據(jù)表明,設(shè)計及元器件(元器件的選型,質(zhì)量級別的確定,元器件的負荷率)的原因造成的故障,在故障原因中占80%左右。減少這兩方面造成的開關(guān)電源故障,具有重要的意義??傊?,對系統(tǒng)的設(shè)計者而言,需要明確建立“可靠性”這個重要概念,把系統(tǒng)的可靠性作為重要的技術(shù)指標,認真對待開關(guān)電源可靠性的設(shè)計工作,并采取足夠的措施提高開關(guān)電源的可靠性,才能使系統(tǒng)和產(chǎn)品達到穩(wěn)定、可靠的目標。本文就從這兩個方面來研

究與闡述。

2 系統(tǒng)可靠性的定義及指標

國際上,通用的可靠性定義為:在規(guī)定條件下和規(guī)定的時間內(nèi),完成規(guī)定功能的能力。此定義適用于一個系統(tǒng),也適用于一臺設(shè)備或一個單元。描述這種隨機事件的概率可用來作為表征開關(guān)電源可靠性的特征量和特征函數(shù)。從而,引出可靠度[R(t)]的定義:系統(tǒng)在規(guī)定條件下和規(guī)定時間內(nèi),完成規(guī)定功能的概率。

如系統(tǒng)在開始 (t=0)時有n0個元件在工作,而在時間為t時仍有n個元件在正常工作,

則可靠性   R(t)=n/n0  0≤R(t) ≤1

失效率   λ(t)= - dinR(t)/dt

λ定義為該種產(chǎn)品在單位時間內(nèi)的故障數(shù),即λ=dn/dt。

如失效率λ為常數(shù),則 

dn/dt=-λt

n=n0e-λt

R(t)=e-λt0     

MTBF(平均無故障時間)=1/λ

平均無故障時間(MTBF)是開關(guān)電源的一個重要指標,用來衡量開關(guān)電源的可靠性。

3 影響開關(guān)電源可靠性的因素
  
從各研究機構(gòu)研究成果可以看出,環(huán)境溫度和負荷率對可靠性影響很大,這兩個方面對開關(guān)電源的影響很大,下面將從這兩方面分析,如何設(shè)計出高可靠的開關(guān)電源。其中:PD為使用功率;PR為額定功率主。UD為使用電壓;UR為額定電壓。

3.1 環(huán)境溫度對元器件的影響

3.1.1 環(huán)境溫度對半導(dǎo)體的影響

硅三極管以PD/PR=0.5使用負荷設(shè)計,則環(huán)溫度對可靠性的影響,如表2所示。

  環(huán)境溫度對半導(dǎo)體器件可靠性的影響


由表2可知,當環(huán)境溫度Ta從20℃增加到80℃時,失效率增加了30倍。

3.1.2 環(huán)境溫度對電容器的影響
  
以UD/UR=0.65使用負荷設(shè)計 則環(huán)境溫度對可靠性的影響如表3所示。

  環(huán)境溫度對電容器可靠性的影響


從表3可知,當環(huán)境溫度Ta從20℃增加到80℃時,失效率增加了14倍。

3.1.3 環(huán)境溫度對電阻器的影響

以PD/PR=0.5使用負荷設(shè)計,則環(huán)境溫度對可靠性的影響如表4所示。

  環(huán)境溫度對電阻器可靠性的影響


從表4可知,當環(huán)境溫度Ta從20℃增加到80℃時,失效率增加了4倍。

3.2 負荷率對元器件的影響

3.2.1 負荷率對半導(dǎo)體的影響
    
當環(huán)境溫度為50℃時,PD/PR對失效率的影響如表5所示。

  負荷率對半導(dǎo)體器件可靠性的影響


由表5可知,當PD/PR=0.8時,失效率比0.2時增加了1000倍。

3.2.2 負荷率對電阻的影響

負荷率對電阻的影響如表6所示。

  負荷率對電阻可靠性的影響


從表6可以看出,當PD/PR=0.8時,失效率比PD/PR=0.2時增加了8倍。

4 可靠性設(shè)計的原則

我們可以從上面的分析中得出開關(guān)電源的可靠性設(shè)計原則。

4.1可靠性設(shè)計指標應(yīng)包含定量的可靠性要求。

4.2可靠性設(shè)計與器件的功能設(shè)計相結(jié)合,在滿足器件性能指標的基礎(chǔ)上,盡量提高器件的可靠性水平。

4.3應(yīng)針對器件的性能水平、可靠性水平、制造成本、研制周期等相應(yīng)制約因素進行綜合平衡設(shè)計。

4.4在可靠性設(shè)計中盡可能采用國、內(nèi)外成熟的新技術(shù)、新結(jié)構(gòu)、新工藝和新原理。

4.5對于關(guān)鍵性元器件,采用并聯(lián)方式,保證此單元有足夠的冗佘度。

4.6 原則上要盡一切可能減少元器件使用數(shù)目。

4.7在同等體積下盡量采用高額度的元器件。

4.8 選用高質(zhì)量等級的元器件。

4.9 原則上不選用電解電容。

4.10 對電源進行合理的熱設(shè)計,控制環(huán)境溫度,不致溫度過高,導(dǎo)致元器件失效率增加。

4.11 盡量選用硅半導(dǎo)體器件,少用或不用鍺半導(dǎo)體器件。

4.12 應(yīng)選擇金屬封裝、陶瓷封裝、玻璃封裝的器件,禁止選用塑料封裝的器件。

5 可靠性設(shè)計

5.1 負荷率的設(shè)計

由于負荷率對可靠性有重大影響,故可靠性設(shè)計重要的一個方面是負荷率的設(shè)計,跟據(jù)元器件的特性及實踐經(jīng)驗,元器件的負荷率在下列數(shù)值時,電源系統(tǒng)的可靠性及成本是較優(yōu)

的。

5.1.1半導(dǎo)體元器件
   
半導(dǎo)體元器件的電壓降額應(yīng)在0.6以下,電流降額系數(shù)應(yīng)在0.5以下。半導(dǎo)體元器件除負荷率外還有容差設(shè)計,設(shè)計開關(guān)電源時,應(yīng)適當放寬半導(dǎo)體元器件的參數(shù)允許變化范圍,包括制造容差、溫度漂移、時間漂移、輻射導(dǎo)致的漂移等。以保證半導(dǎo)體元器件的參數(shù)在一定范圍內(nèi)變化時,開關(guān)電源仍能正常工作。

5.1.2電容器
    
電容器的負荷率(工作電壓和額定電壓之比)最好在0.5左右,一般不要超過0.8,并且盡量使用無極性電容器。而且,在高頻應(yīng)用的情況下,電壓降額幅度應(yīng)進一步加大,對電解電容器更應(yīng)如此。應(yīng)特別注意,電容器有低壓失效的問題,對于普通鋁電解電容器和無極性電容的電壓降額不低于0.3,但鉭電容的電壓降額應(yīng)在0.3以下。電壓降額不能太多,否則電容器的失效率將上升。

5.1.3電阻器、電位器
    
電阻器、電位器的負荷率要小于0.5,此為電阻器設(shè)計的上限值;但是大量試驗證明,當電阻器降額數(shù)低于0.1時,將得不到預(yù)期的效果,失效率有所增加,電阻降額系數(shù)以0.1為可靠性降額設(shè)計的下限值。
    
總之,對各種元器件的負荷率只要有可能,一般應(yīng)保持在0.3左右。最好不要超過0.5。這樣的負荷率,對電源系統(tǒng)造成不可靠的機率是非常小的。

5.2 電源的熱設(shè)計
    
開關(guān)電源內(nèi)部過高的溫升將會導(dǎo)致溫度敏感的半導(dǎo)體器件、電解電容等元器件的失效。當溫度超過一定值時,失效率呈指數(shù)規(guī)律增加。有統(tǒng)計資料表明,電子元器件溫度每升高2℃,可靠性下降10%;溫升50℃時的壽命只有溫升25℃時的1/6。除了電應(yīng)力之外,溫度是影響開關(guān)電源可靠性的最重要的因素。高頻開關(guān)電源有大功率發(fā)熱器件,溫度更是影響其可靠性的最重要的因素之一,完整的熱設(shè)計包括兩個方面:一 如何控制發(fā)熱源的發(fā)熱量;二 如何將熱源產(chǎn)生的熱量散出去。使開關(guān)電源的溫升控制在允許的范圍之內(nèi),以保證開關(guān)電源的可靠性。下面將從這兩個方面論述。

5.2.1 控制發(fā)熱量的設(shè)計
    
開關(guān)電源中主要的發(fā)熱元器件為半導(dǎo)體開關(guān)管、功率二極管、高頻變壓器、濾波電感等。不同器件有不同的控制發(fā)熱量的方法。功率管是高頻開關(guān)電源中發(fā)熱量較大的器件之一,減小它的發(fā)熱量,不僅可以提高功率管的可靠性,而且可以提高開關(guān)電源的可靠性,提高平均無故障時間(MTBF)。開關(guān)管的發(fā)熱量是由損耗引起的,開關(guān)管的損耗由開關(guān)過程損耗和通態(tài)損耗兩部分組成,減小通態(tài)損耗可以通過選用低通態(tài)電阻的開關(guān)管來減小通態(tài)損耗;開關(guān)過程損耗是由于柵電荷大小及開關(guān)時間引起的,減小開關(guān)過程損耗可以選擇開關(guān)速度更快、恢復(fù)時間更短的器件來減少。但更為重要的是通過設(shè)計更優(yōu)的控制方式和緩沖技術(shù)來減小損耗,如采用軟開關(guān)技術(shù),可以大大減小這種損耗。減小功率二極管的發(fā)熱量,對交流整流及緩沖二極管,一般情況下不會有更好的控制技術(shù)來減小損耗,可以通過選擇高質(zhì)量的二極管來減小損耗。對于變壓器二次側(cè)的整流可以選擇效率更高的同步整流技術(shù)來減小損耗。對于高頻磁性材料引起的損耗,要盡量避免趨膚效應(yīng),對于趨膚效應(yīng)造成的影響,可采用多股細漆包線并繞的辦法來解決。

5.2.2 開關(guān)電源的散熱設(shè)計
   
MOS管導(dǎo)通時有一定的壓降,也即器件有一定的損耗,它將引起芯片的溫升,但是器件的發(fā)熱情況與其耐熱能力和散熱條件有關(guān)。由此,器件功耗有一定的容限。其值按熱歐姆定律可表示為:
                  
                                                                                     PD="Tj-Tc/RT"
  
式中,Tj 是額定結(jié)溫(Tj=150℃),Tc是殼溫,RT是結(jié)到管殼間的穩(wěn)態(tài)熱阻,Tj代表器件的耐熱能力,Tc和 RT代表器件的散熱條件,而PD就是器件的發(fā)熱情況。它必須在器件的耐熱能力和散熱條件之間取得平衡。
    
散熱有三種基本方式:熱傳導(dǎo)、熱輻射、熱對流。根據(jù)散熱的方式,可以選自然散熱:加裝散熱器;或選擇強制風冷:加裝風扇。加裝散熱器主要利用熱傳導(dǎo)和熱對流,即所有發(fā)熱元器件均先固定在散熱器上,熱量通過傳導(dǎo)方式傳遞給散熱器,散熱器上的熱量再通過能流換熱的方式由空氣

帶出機箱。實際的散熱情況為三種傳熱方式的綜合,可以用牛頓公式來統(tǒng)一表達: Ø=KSг,其中S為散熱表面積,K為表面散熱系數(shù)。表面散熱系數(shù)通常由試驗確定,在一般的工程流體力學中有數(shù)據(jù)可查。它把傳熱的三種形式全部統(tǒng)一起來了。
    
通過Ø=KSг,我們可以在計算出耗散功率以后,根據(jù)允許的溫升г來確定散熱表面積S,并由此而確定所要選擇的散熱器。這種計算對于提高開關(guān)電源的可靠性、功率密度、性價比等都有重要意義。若采用強制風冷,加裝風扇,則對整流模塊來說,風扇的MTBF是所有元器件中最低的,一直都是制約整流模塊提高MTBF的瓶頸,所以采取各種措施提高散熱效率來延長風扇壽命具有重要的意義。

6 結(jié) 語
  
本文簡要闡述了負荷率及溫度對開關(guān)電源可靠性的影響,大量實驗證明了開關(guān)電源的負荷率設(shè)計是否合理對開關(guān)電源的可靠性有重要影響,最后分析了開關(guān)電源發(fā)熱和散熱兩方面的情況,優(yōu)先采用降低發(fā)熱的各種技術(shù),同時提高散熱效果,許多廠家都采用這種設(shè)計思想,取得了很好的效果。電源設(shè)備可靠性的高低,不僅與電氣設(shè)計,而且同器件、結(jié)構(gòu)、裝配、工藝等方面有關(guān)。本文主要從元器件的負荷率及溫度對開關(guān)電源可靠性的影響進行了闡述,為從事開關(guān)電源設(shè)計的技術(shù)人員提供一些借鑒的設(shè)計方法。

參考文獻

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