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目標(biāo)物聯(lián)網(wǎng),愛德萬測(cè)試打造靈活測(cè)試方案

作者:王瑩 時(shí)間:2015-05-14 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  進(jìn)入中國(guó)整整20年的測(cè)試不斷擴(kuò)展自己的業(yè)務(wù)范圍,針對(duì)最近越來越火熱的物聯(lián)網(wǎng)市場(chǎng),測(cè)試整合旗下的相關(guān)產(chǎn)品,推出了靈活性可擴(kuò)展的多種測(cè)試方案。

本文引用地址:http://2s4d.com/article/274098.htm

  測(cè)試將經(jīng)典產(chǎn)品V93000系列進(jìn)行了更好的劃分,按照不同的測(cè)試需求進(jìn)行更好的產(chǎn)品搭配,可為每個(gè)客戶提供最高效的特定應(yīng)用解決方案。 從最廉價(jià)的支持的V93000-A到可以支持LTE芯片測(cè)試需求以及測(cè)試超過8000個(gè)引腳芯片的V93000-L系列,覆蓋了物聯(lián)網(wǎng)應(yīng)用中包括微處理器,混合信號(hào)、閃存、射頻以及ADC等各種不同芯片測(cè)試需求。愛德萬SoC測(cè)試業(yè)務(wù)拓展經(jīng)理Martin Dresler特別指出,V93000系列現(xiàn)在采用不同的板卡可以進(jìn)行測(cè)試功能的擴(kuò)展,目前V93000的擴(kuò)展方向主要針對(duì)物聯(lián)網(wǎng)應(yīng)用進(jìn)行相關(guān)的研發(fā),希望能幫助中國(guó)客戶更好地完成測(cè)試需求。

  T2000作為更為開放構(gòu)架的SoC測(cè)試平臺(tái),靈活的平臺(tái)配合模塊化可擴(kuò)展的功能卡,讓用戶可根據(jù)實(shí)際應(yīng)用需要進(jìn)行不同測(cè)試功能卡的購(gòu)買,能達(dá)到經(jīng)濟(jì)有效地對(duì)幾乎所有SoC芯片進(jìn)行測(cè)試。愛德萬測(cè)試業(yè)務(wù)發(fā)展高級(jí)總監(jiān)陸亞奇介紹,T2000可以支持最多4個(gè)測(cè)試項(xiàng)目同時(shí)進(jìn)行,提升了客戶的測(cè)試效率,愛德萬還根據(jù)一些熱點(diǎn)應(yīng)用進(jìn)行了相關(guān)參考解決方案的開發(fā),便于客戶更好的開展測(cè)試。




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