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以閃電的速度獲取最好的測(cè)試覆蓋率

作者: 時(shí)間:2015-04-03 來(lái)源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  公司(Keysight Technologies Inc.)現(xiàn)已正式開(kāi)通網(wǎng)絡(luò)產(chǎn)品培訓(xùn)課程,您可通過(guò)官網(wǎng)在線參與免費(fèi)培訓(xùn),了解Keysight 邊界掃描分析儀靈活、強(qiáng)大的測(cè)試功能如何幫助您應(yīng)對(duì)當(dāng)前NETCOM和服務(wù)器主板最具挑戰(zhàn)性的測(cè)試要求。

本文引用地址:http://2s4d.com/article/272064.htm

  近年來(lái),由于大型復(fù)雜的網(wǎng)絡(luò)通訊類(lèi)產(chǎn)品和儲(chǔ)存、服務(wù)器類(lèi)產(chǎn)品的電路板均沒(méi)有足夠的測(cè)試點(diǎn)在ICT上進(jìn)行全面結(jié)構(gòu)性的測(cè)試。為了更好的讓您了解該項(xiàng)技術(shù),本次網(wǎng)上課程及演示將給您帶來(lái)如何在有限接入點(diǎn)的特殊情況下利用ICT和產(chǎn)品快速完成測(cè)試程序的開(kāi)發(fā),使其達(dá)到最佳的測(cè)試覆蓋率等相關(guān)培訓(xùn)。

  具體培訓(xùn)日程如下:

  ? 日期:2015年4 月 16日 (星期四)

  ? 時(shí)間:15:00(北京時(shí)間)

  ? 注冊(cè):請(qǐng)點(diǎn)擊這里,快速登錄

  更多邊界掃描分析儀的產(chǎn)品信息,請(qǐng)?jiān)L問(wèn)以下網(wǎng)站:

  ? 資料:www.keysight.com/x 1149

  ? 圖片:www.keysight.com/x1149_images



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