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新型光學觸摸屏的實現(xiàn)

作者:張兵 馮金垣 戚其豐 時間:2014-09-25 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏
編者按:  摘要:本文解決了目前市售觸摸屏存在的有觸摸死角、假兩點等問題。設計了一套實驗裝置用來求取攝像頭模塊中的攝像頭的內(nèi)參數(shù)和畸變參數(shù),方法為在觸摸區(qū)域拍攝多幅圖,通過每幅圖上多個點的像素數(shù)和這些像素點對應的觸摸點在觸摸區(qū)域的世界坐標的關(guān)系求得一個內(nèi)參數(shù)矩陣,之后對獲取的多個內(nèi)參數(shù)矩陣進行優(yōu)化以求取內(nèi)參數(shù)的最優(yōu)解,之后再求取畸變參數(shù)的最優(yōu)解。求解過程中多次用Levenberg-Marquardt優(yōu)化算法對實驗數(shù)據(jù)進行優(yōu)化處理,由于該算法是較為有效的修正的最小二乘法,所求參數(shù)的精確度較高。   引言   光

  摘要:本文解決了目前市售觸摸屏存在的有觸摸死角、假兩點等問題。設計了一套實驗裝置用來求取模塊中的的內(nèi)參數(shù)和畸變參數(shù),方法為在觸摸區(qū)域拍攝多幅圖,通過每幅圖上多個點的像素數(shù)和這些像素點對應的觸摸點在觸摸區(qū)域的世界坐標的關(guān)系求得一個內(nèi)參數(shù)矩陣,之后對獲取的多個內(nèi)參數(shù)矩陣進行優(yōu)化以求取內(nèi)參數(shù)的最優(yōu)解,之后再求取畸變參數(shù)的最優(yōu)解。求解過程中多次用Levenberg-Marquardt優(yōu)化算法對實驗數(shù)據(jù)進行優(yōu)化處理,由于該算法是較為有效的修正的最小二乘法,所求參數(shù)的精確度較高。

本文引用地址:http://2s4d.com/article/263366.htm

  引言

  是一種利用光學成像技術(shù)獲取觸摸位置的觸摸屏設備[1]。在準確率、反應速度、大尺寸應用方面上都優(yōu)于其他觸摸屏,且成本低廉[2]。本文分析了市售存在的一些問題,并實現(xiàn)了一種新型的光學觸摸屏克服這些設計缺陷。該實現(xiàn)相對于市售觸摸屏增加了模塊的數(shù)量。同時本文提出了一種實驗方法以求取該實現(xiàn)所用的攝像頭的內(nèi)參數(shù),該方法最大的特點就是求解過程中多次使用Levenberg-Marquardt優(yōu)化算法[3~4],該算法具有梯度法和牛頓法的優(yōu)點[4],是一種廣泛使用的最小二乘法,因此所求參數(shù)精確度較高。

  1 光學觸摸屏總體方案簡介

  1.1 市售觸摸屏簡介及其不足

  目前市售光學觸摸屏產(chǎn)品主要是利用兩個攝像頭去捕捉觸摸位置。以一款式光學觸摸屏為例,該觸摸屏觸摸區(qū)域的左、右上角分別對稱放置一個圖像,每個綁一個發(fā)射器。觸摸區(qū)域的四個邊框有反光條,反光條是利用光學原理,能把光線逆反射回到光源處的一種特殊結(jié)構(gòu)的 PVC膜。發(fā)射器射出不可見光照射到反光條上,在沒有觸摸物時,兩個都將看到一段全白的圖像,在有觸摸物時傳感器看到的是一段被陰影切斷的圖像。由于觸摸位置不同時兩個傳感器看到的陰影位置不同,可由如圖1所示的交匯測量系統(tǒng)[9]的測量原理確定觸摸坐標。

  在觸摸平面上建立坐標系O1-XY,O1、O2為兩攝像頭模塊的鏡頭光心,兩側(cè)攝像頭光路如圖1所示,設兩傳感器光心距離為L,傳感器光軸與X軸的夾角為θ,任取觸摸點P(Px ,Py ),PO1、PO2與X軸的夾角分別為α、β ,λ為鏡頭到CMOS探測器的距離,以兩個攝像頭的光軸為基準,令 α、β順時針為負逆時針為正,則有:

  tan α= L1/λ (1-1)
  tan β= L2/λ (1-2)
  tan (θ-α)=Px/Py (1-3)
  tan (θ+β)=Py(L-Px) (1-4)

  由上述關(guān)系可得:

 ?、?存在觸摸死角[8],如圖2所示。當觸摸點離攝像頭1較近時,由于紅外線燈照在觸摸物上的反光,攝像頭1看到的是全白的圖像,攝像頭2看到了觸摸物但無法判斷遠近,因此觸摸點在此處的物理坐標是無法確定的。

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