IEEE和SEMI簽署了一項關于共同制定納米技術和微電子機械系統(tǒng)標準的協(xié)議

根據(jù)該理解備忘錄，SEMI和IEEE將確定有關聯(lián)絡事宜，說明定期的信息交流計劃并安排定期召開聯(lián)合會議。備忘錄中還提供各自委員會會議的最新資料并發(fā)布關于納米技術和微電子機械系統(tǒng)標準信息。

IEEE標準協(xié)會正在積極推進其納米技術標準，并預計在2005年出臺碳納米管的測量標準。同樣，SEMI的MEMS動議也顯示了對這一標準的關注。

“該備忘錄將對納米技術、MEMS和其他涉及電子裝置性能的新興領域內(nèi)的標準系列發(fā)展起巨大的推動作用，”IEEE標準協(xié)會的執(zhí)行董事Judith Gorman指出，“未來的熱點領域可能包括有機物、分子、碳納米管及硅納米基裝置。這份剛簽署的備忘錄只是我們雙方長期協(xié)作的第一步，在此過程中，雙方將互通有無，共享專知，必能互惠互利，造福整個行業(yè)?！?/P>

“納米技術發(fā)展引起廣泛關注的今天，這份協(xié)議的制定可謂適逢其時?！盨EMI的國際標準和MEMS總監(jiān)Bettina Weiss說，“我們希望通過在開發(fā)周期的早期啟動標準制定工作，加速商業(yè)化，降低成本，提高生產(chǎn)率，從而推進整個行業(yè)的發(fā)展。SEMI所制定的標準將廣泛見于材料、工具和接口等領域，而IEEE標準則主要涉及測試方法、材料、裝置、可互操作性和其它議題?！?/P>

SEMI標準項目包括半導體工藝設備和材料制造的各個方面，從晶片制造、測試、組裝及包裝到平面顯示器和MEMS的制造。SEMI在各大市場的高新技術生產(chǎn)領域均占有一席之地，尤其納米技術的重要應用領域——半導體領域。

IEEE除了在碳納米結構標準方面的工作外（即IEEE P1650，“有關碳納米管電子性能測量的標準測試方法”），最近又完成了IEEE 1620?“有機晶體管和材料特征性的測試方法標準”該標準還為評估有機場效應晶體管（OFET）提供了統(tǒng)一的框架，以用作大批量生產(chǎn)的平臺。IEEE正將其有機場效應晶體管項目向設備標準拓展。