基于LabVIEW的EVM和ACPR全自動(dòng)化掃描測(cè)試

程序的最外面是一個(gè)While循環(huán)和事件結(jié)構(gòu)用于選擇觸發(fā)哪種測(cè)試模式。在ACPR掃描測(cè)試模式下，_掃描通過(guò)For循環(huán)實(shí)現(xiàn)，次數(shù)由APC預(yù)定值表格的行數(shù)來(lái)確定。一個(gè)順序結(jié)構(gòu)被嵌套在For循環(huán)里實(shí)現(xiàn)分步驟操作控制，在第0，1幀通過(guò)更改芯片寄存器完成了發(fā)射鏈路的功率衰減配置，第2幀實(shí)現(xiàn)測(cè)量并存儲(chǔ)數(shù)據(jù)。

LabVIEW中實(shí)現(xiàn)儀器訪問(wèn)是通過(guò)VISA接口實(shí)現(xiàn)的。在指明儀器的地址后，可以通過(guò)VISA的寫(xiě)模塊發(fā)送SCPI指令，而通過(guò)讀模塊讀取儀器的反饋信息。

首先，要標(biāo)記載波的峰值功率，圖5中“DISP：WIND：TRAC：Y：RLEV 8”指令將頻譜儀的縱軸的參考功率設(shè)置為8 dBm，這樣可以將頻譜圖壓低在儀器顯示界面中以便與后面的操作：使標(biāo)記Marker1找到頻譜中的峰值，并將其讀取出來(lái)。

接著，還需要同樣的命令將縱軸參考功率設(shè)置為-6 dBm，因?yàn)樵谡麄€(gè)掃描的過(guò)程中，發(fā)射鏈路的功率由0 dB衰減到-76 dB，在衰減很大的情況下，載波信號(hào)幅度已經(jīng)很小，甚至可能被噪底所淹沒(méi)，這就需要將整個(gè)儀器的頻譜再次提高，以保證儀器ACPR計(jì)算的準(zhǔn)確性。

最后，通過(guò)“FETC：ACP?”指令將儀器測(cè)量結(jié)果存儲(chǔ)到LabVIEW的數(shù)組里面，同樣通過(guò)下標(biāo)指向要讀取的參數(shù)并將其存儲(chǔ)的CSV數(shù)據(jù)文件當(dāng)中。

4 測(cè)試結(jié)果與分析

通過(guò)測(cè)試基于RDA8206的TD-SCDMA通信系統(tǒng)發(fā)射鏈路EVM和ACPR驗(yàn)證了所提出方法的正確性。實(shí)測(cè)掃描結(jié)果如圖6，圖7所示。

實(shí)例測(cè)試表明在發(fā)射鏈路功率衰減到-50 dB時(shí)仍能保證調(diào)制質(zhì)量，所以EVM掃描可以直觀的看出數(shù)字通信系統(tǒng)發(fā)射鏈路調(diào)制質(zhì)量惡化情況分析造成問(wèn)題的原因。

ACPR掃描可以用于分析載波信號(hào)功率泄漏相鄰頻段所造成的干擾狀況。本文提出的方法在保證測(cè)量精度的條件下，相對(duì)手動(dòng)操作可以將測(cè)試效率提高60％，充分發(fā)揮了自動(dòng)化儀器儀表測(cè)試的優(yōu)勢(shì)。