一種適用于UHF頻段RFID 近場天線的阻抗測量方法

　　圖 5 是這款天線加工實物的阻抗測量照片，可以看出天線直接外接出一根長為l 的同軸線和矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀相連接。表格I 給出了天線測量時的主要尺寸。

　　2 De-embedding 技術(shù)

　　通過第一節(jié)的方法，可以得出帶有同軸線參數(shù)的NFRA 回波損耗參數(shù)。De-embedding技術(shù)就是用來消除同軸線參數(shù)的影響得到NFRA 真實阻抗的一種技術(shù)[5,6]。圖6 給出了使用De-embedding 技術(shù)測量的等效電路模型，其中，同軸線被一段長為l 的傳輸線等效

　　3 測量結(jié)果

　　圖 7 給出的是沒有添加匹配網(wǎng)絡(luò)時的S 參數(shù)的測量值和仿真結(jié)果的比較，可以看出測量的結(jié)果和使用HFSS 軟件得到的仿真結(jié)果基本吻合。仿真結(jié)果的回波損耗在865MHz-868MHz 很小，這將會導(dǎo)致仿真的阻抗值的不精確?？梢钥闯?，在865MHz-868MHz，

　　仿真得出的回波損耗為0.88dB 而測量得出的回波損耗為1.3dB.