開關(guān)電源功率半導(dǎo)體器件
在過去的20多年,出現(xiàn)了一些新功率半導(dǎo)體開關(guān)器件和功率模塊,在如功率MOS-FET,絕緣柵雙極晶體管IGBT,碳化硅(SiC)器件等領(lǐng)域都有 了不同程度的新進(jìn)展(以下未特別注明的MOSFET、IGBT或IGCT等,均是指用硅晶片制成的)。
1)功率MOSFET
1979年,功率MOSFET場(chǎng)效應(yīng)晶體管問世。由于它的輸入阻抗高、開關(guān)速度快和熱穩(wěn)定性好,可以完全代替功率晶體管GTR和中小電流的晶閘管 ,使電力電子電路如開關(guān)電源實(shí)現(xiàn)高頻化成為可能。其電壓電流定額已經(jīng)達(dá)到了500V/240 A、1500V/200 A。功率MOSFET的特點(diǎn)是開關(guān)損耗小, 但是通態(tài)功耗大,而且功率MOSFET的擊穿電壓UB越高,通態(tài)電阻RDS(on)越大。以理想的N溝道功率MOSFET為例,通態(tài)電阻RDS(on)和擊穿電壓UB 有如下關(guān)系:
1989年,Infineon公司推出冷MOS管(Cco1 MCGFET),它采用了超級(jí)結(jié)(Super-Junction)結(jié)構(gòu),故又稱做超結(jié)功率MOSFET,工作電壓為600~ 800V,通態(tài)電阻幾乎降低了一個(gè)數(shù)量級(jí),但仍保持著開關(guān)速度快的特點(diǎn),是一種具有發(fā)展前途的高頻功率半導(dǎo)體開關(guān)器件。
2)絕緣柵雙極晶體管IGBT
1982年,B.J.Ba1iga將雙極晶體管和功率MOSFET技術(shù)組合在一起,成功地開發(fā)出第-個(gè)絕緣柵雙極晶體管,取名為IGT(Insulated Gate Transistor),后來國際電力電子界通稱為GBT(Insu1ated Gate Bipo1ar Transistor)。它是將MOS門極(柵極)的優(yōu)良輸人特性和雙極晶體管的 良好輸出特性的功能集成在一起構(gòu)成的。它的通態(tài)壓降小、電流密度大,完全可以代替功率晶體管GTR和中小電流的晶問管,成為公認(rèn)的最有發(fā) 展前景的一種電力電子半導(dǎo)體開關(guān)器件。
IGBT的技術(shù)進(jìn)展,實(shí)際上是通態(tài)壓降、快速開關(guān)和高耐壓能力三者的折中。IGBT的門極結(jié)構(gòu)有平面型和溝型兩種。隨著工藝和結(jié)構(gòu)形式的不 同,在⒛多年的歷史發(fā)展進(jìn)程中,開發(fā)的IGBT有以下幾種類型:穿通(PT)型、非穿通(NPT)型、軟穿通(SPT)型、溝槽型和電場(chǎng)截止(PS)型等。 IGBT的未來發(fā)展方向是:①逆阻型IGBT模塊、減小輸人電流畸變;②最佳模塊組合,減小通態(tài)噪聲;③控制du/dt和di/dt的能力,減少噪聲發(fā) 射。
據(jù)報(bào)道,IGBT則出現(xiàn)時(shí),電壓電流的額定值只有600V/25 A。在很長的一段時(shí)間內(nèi)耐壓水平都限定在1200~1700 V,經(jīng)過長時(shí)間的探索研究和 改造,現(xiàn)在IGBT的電壓電流的額定值已經(jīng)達(dá)到3300V/1200 A、4500V/1800AL等,高壓IGBT單片耐壓甚至達(dá)到6500V。一般IGBT的工作頻率上限為 20~40 kHz?;赑T結(jié)構(gòu)、應(yīng)用新技術(shù)所制造的IGBT,可以工作在150kHz(硬開關(guān))和300 kHz(軟開關(guān))。
3)集成門極換流晶間管IGCT
集成門極換流晶閘管(Integrated Gate Commutation Thyristor)是1977年出現(xiàn)的一種新型高電壓大電流開關(guān)器件,簡稱IGCT。它利用功率 MOSFET的優(yōu)點(diǎn),將MOS技術(shù)與晶間管組合。它的損耗比可關(guān)斷晶閘管GTO小,接線比GTO簡單可靠,并可以采用風(fēng)冷?,F(xiàn)在已開始應(yīng)用于中大型功 率的電力電子變頻調(diào)速系統(tǒng),如MW級(jí)的變頻器、新型的靜止式無功功率補(bǔ)償裝置等。
4500V/4000 A IGCT的參數(shù)為工作頻率1kHz,正向壓降為2.7V,di/dt=1000A/μs。
4)碳化硅功率半導(dǎo)體開關(guān)器件
碳化硅SiC(Si1icon Carbide)是功率半導(dǎo)體開關(guān)器件晶片的理想材料。其優(yōu)點(diǎn)是:禁帶寬、工作溫度高(可達(dá)600℃)熱穩(wěn)定性好、通態(tài)電阻小 、導(dǎo)熱性能好、漏電流極小、PN結(jié)耐壓高,有利于制造出耐高溫的高頻大功率半導(dǎo)體開關(guān)器件。
現(xiàn)在已經(jīng)制造出40 mm SiC晶片,1990年已有30 mm SiC晶片上市,在電力電子技術(shù)中,開始用SiC器件代替Si器件。例如,SiC肖特基二極管 已有商品問世,定額為300V、600V、1200V/20A,反向恢復(fù)時(shí)間接近于零,175℃以下SiC肖特基二極管的反向電流幾乎不變。
據(jù)《電力電子》雜志2004年第4期報(bào)道,已經(jīng)試制出一批SiC器件樣品,如SiC功率MOSFET,定額為:750V/15mA,RDC(on)=66mΩ;1998年研制 出耐壓達(dá)1400V,通態(tài)電阻為311mΩ的SiC功率MOSFET。其他又如SiC晶閘管,950V/16A,通態(tài)壓降為3.67V;1999年研制出耐壓達(dá)790V,通態(tài)壓 降為1.5V,電流密度為75A/cm2的SiC IGBT。
可以預(yù)見,碳化硅將是21世紀(jì)最可能成為應(yīng)用成功的新型功率半導(dǎo)體器件的材料。
評(píng)論