LTE芯片及終端測試

1 引言

　　測試儀表和測試系統(tǒng)作為TD-LTE產(chǎn)業(yè)鏈中重要的環(huán)節(jié)，目前，對TD-LTE測試儀表的需求已經(jīng)涵蓋了整個產(chǎn)業(yè)鏈的各個階段。

　　2 RS的LTE測試解決方案

　　羅德與施瓦茨公司(RS)作為歐洲最大的測試測量儀表供應(yīng)商，具有強大的研發(fā)和生產(chǎn)實力?；谄湓?G和3G測試領(lǐng)域的領(lǐng)先地位，RS對于LTE從早期的研發(fā)階段就開始跟蹤研究，積累了豐富的經(jīng)驗。為了推動TD-LTE產(chǎn)業(yè)的發(fā)展，RS公司為客戶提供從LTE(包括TD-LTE和FDD LTE)仿真、設(shè)計、研發(fā)、生產(chǎn)、測試等一系列的測試測量解決方案，可以滿足客戶各個階段的需求(見圖1)。

　　圖1 RS的LTE測試解決方案

　　3 LTE芯片和終端研發(fā)

　　(1)LTE信號產(chǎn)生和分析

　　RS的信號源如SMU，AMU以及SMBV系列加上選件后就可以按照規(guī)范實時地產(chǎn)生LTE上/下行射頻或基帶信號，用于元器件性能測試以及終端的接收機測試;RS的FSx系列頻譜和信號分析儀能分析LTE上/下行射頻或基帶信號，用于元器件性能測試以及終端的發(fā)射機測試。

　　由于被測設(shè)備可能采用特殊的數(shù)字基帶信號格式，RS提供EX-IQ-BOX來針對不同數(shù)字基帶信號格式進行適配。

　　(2)LTE終端協(xié)議和IOT測試

　　LTE協(xié)議棧的測試用來驗證一些信令功能，例如呼叫建立和釋放、呼叫重配置、狀態(tài)處理和移動性等。和2G，3G系統(tǒng)的互操作性(IOT)測試是對LTE的另外一個需求。為了保證終端的協(xié)議棧和應(yīng)用可以處理高數(shù)據(jù)率的數(shù)據(jù)，需要測試驗證終端吞吐量的要求。在LTE實現(xiàn)的早期，研發(fā)部門需要包含各個參數(shù)配置的多種測試場景來進行LTE協(xié)議棧的測試。此外，LTE物理層具有很多重要功能，這包括小區(qū)搜索，HARQ協(xié)議，調(diào)度安排，鏈路自適應(yīng)，上行時間控制和功率控制等，而且這些過程有著很嚴格的定時要求。因此，也需要對物理層進行完全測試來保證LTE的性能。

　　RS的CMW500協(xié)議測試儀可以用于LTE終端的協(xié)議一致性測試、性能測試和互操作測試。同時，RS還提供用于PC機上的虛擬測試(Virtual Tester)軟件，使工程師在早期就進行協(xié)議開發(fā)的工作。所以使用CMW500可以并行進行軟件和硬件的協(xié)同開發(fā)、測試和優(yōu)化，從而加快產(chǎn)品的上市時間。

　　CMW500可以提供MLAPI和LLAPI這兩個協(xié)議棧測試所需的底層和高層編程接口，這樣開發(fā)者在早期就可以對協(xié)議棧進行靈活測試，而且這樣的測試是和后期的一致性測試完全兼容的，可以節(jié)省后期測試的時間和成本。

　　(3)LTE終端射頻認證/預(yù)認證測試