使用NI軟件與PXI硬件進行高級無線電系統(tǒng)自動化測試

作者：時間：2013-10-14 來源：網(wǎng)絡

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? 測試針可存取板卡另一邊的所有測試點

? 包含除錯設備

? 可針對未來產(chǎn)品隨時擴充，如更多的射頻頻帶與頻寬

我們將測試分為3大塊：

? DC Testing: 測試組件數(shù)值、電源供應電壓、耗電量，以及低電壓關機、切換面板、LED指示燈的功能性測試。

? Built-In Self Test (BIST): 用于Boot loader與軟件安裝、測試RAM與閃存、確認以太網(wǎng)的地址分配。我們將這些測試植入設備中，通過指令線路界面即可存取。

? 射頻功能性測試與校準：測試并校準傳輸器、接收器、Aprisa SR板的系統(tǒng)功能。

圖2.最終試系統(tǒng)測

開發(fā)難題

為了跟上產(chǎn)品開發(fā)安排，我們必須配合產(chǎn)品開發(fā)測試系統(tǒng)，因此對其中5項板卡設計作出了變更。但又因為測試系統(tǒng)在設計之初，已考慮到其必要規(guī)格與靈活度，所以重新設計PCB也僅需對夾具進行1項變更。在4RF Communication與CPE systems之間保持良好的通信，并建立項目、配置管理程序之后，NI軟硬件讓我們能確保達到同步開發(fā)。

測試系統(tǒng)的主要限制之一，就是各組板卡需要5分鐘測試時間。因此需要優(yōu)化射頻校準算法，確保達到高效率運作。而NI PXIe-5663矢量信號分析儀(VSA)與NI PXIe-5673矢量信號生成器(VSG)均可支持算法的優(yōu)化程序。

Aprisa SR的PCB組件包含射頻傳輸與接收電路，且必須連帶其外殼一起測試。所以我們也需考慮并納入射頻干擾與屏蔽的情況，再篩選夾具設計。我們以產(chǎn)品的CAD模型容納射頻屏蔽外殼，構成夾具頂板部分(圖3)。只要將板卡置于外殼之中，即可達到測試設備所研發(fā)的屏蔽功能。