纖毫畢現(xiàn)，ACF導(dǎo)電粒子在線(xiàn)檢測(cè)微分干涉光學(xué)系統(tǒng)

微分干涉相襯觀察法（Differential Interference Contrast，DIC）是基于光學(xué)干涉原理，通過(guò)引入相位差和干涉現(xiàn)象的一種特殊顯微成像技術(shù)。從光源射出經(jīng)過(guò)起偏器后的線(xiàn)偏振光，通過(guò)一個(gè)有雙折射性質(zhì)的的分光束棱鏡，分解成兩束正交方向振動(dòng)的偏振光，當(dāng)這兩束空間間隔極小的相干光束照射到樣品表面時(shí)，樣品表面的微小凹凸和材料折射率的差異會(huì)導(dǎo)致兩個(gè)光束光程差的產(chǎn)生，兩束具有光程差的光束經(jīng)過(guò)分光棱鏡重新匯合，通過(guò)檢偏器后使它們的振動(dòng)方向一致從而發(fā)生干涉現(xiàn)象。

這種干涉現(xiàn)象與光程差的存在，將樣品表面的微小細(xì)節(jié)差異轉(zhuǎn)化為圖像明暗對(duì)比增強(qiáng)的效果，在2D成像時(shí)可以展現(xiàn)出一種立體浮雕般的三維效果。起初該技術(shù)旨在解決傳統(tǒng)顯微鏡對(duì)未染色透明生物樣品的低對(duì)比度問(wèn)題。

茉麗特DIC產(chǎn)品

隨著技術(shù)的進(jìn)步和DIC顯微鏡的改進(jìn)，DIC觀察法在分辨率、對(duì)比度和圖像質(zhì)量方面得到了提升。數(shù)字成像系統(tǒng)的引入使得觀察到的圖像可以直接轉(zhuǎn)化為數(shù)字圖像，并進(jìn)行后續(xù)的圖像分析和處理。

在工業(yè)機(jī)器視覺(jué)領(lǐng)域，DIC作為一種新興的觀察檢驗(yàn)方法，憑借其不同于常規(guī)明視場(chǎng)、暗視場(chǎng)照明的獨(dú)特成像原理，正越來(lái)越受到廣泛應(yīng)用。尤其近年來(lái)，在新型能源汽車(chē)的爆發(fā)式發(fā)展帶動(dòng)下，部分上游配套產(chǎn)業(yè)，如智能座艙所需更多的車(chē)載顯示面板、高壓快充所需第三代功率半導(dǎo)體（SiC、GaN）需求也迎來(lái)迅速增長(zhǎng)，DIC正成為其中部分制程中關(guān)鍵的觀察手段，如導(dǎo)電粒子壓合、晶圓表面缺陷檢測(cè)等。

2018年，茉麗特根據(jù)中國(guó)市場(chǎng)信息，結(jié)合自身技術(shù)實(shí)力，發(fā)布了第一款DIC筒鏡。通過(guò)調(diào)整DIC顯微鏡的參數(shù)，如偏振器的角度和起偏檢偏相對(duì)位置，可以改變干涉圖像的外觀和對(duì)比度。這使得茉麗特的DIC顯微鏡能夠提供高分辨率、高對(duì)比度和三維立體效果的圖像，揭示樣品中微小的相位差異和細(xì)微結(jié)構(gòu)的細(xì)節(jié)。

突出優(yōu)勢(shì)1：超高亮度

茉麗特同時(shí)擁有鏡頭、光源的設(shè)計(jì)與制造能力，成像仿真技術(shù)與照明技術(shù)相配合，超高的照明亮度可以搭配最大靶面28mm線(xiàn)掃相機(jī)，進(jìn)行高速線(xiàn)掃成像。

突出優(yōu)勢(shì)2：高粒子對(duì)比度/高分辨率

茉麗特結(jié)合50年來(lái)的光學(xué)設(shè)計(jì)與加工經(jīng)驗(yàn)積累，自行設(shè)計(jì)制造分光束棱鏡，更好的平衡分光寬度與分光高度，獲得更高的粒子對(duì)比度同時(shí)保證高分辨率。

突出優(yōu)勢(shì)3：高均勻性

光源和光學(xué)部分的一體化設(shè)計(jì)，優(yōu)化兩者配合，擁有更高的均勻性。   

應(yīng)用案例

不僅如此，除在工業(yè)領(lǐng)域幫助工程師和研究人員進(jìn)行精密制造和質(zhì)量控制外，DIC在材料科學(xué)、生命科學(xué)等領(lǐng)域也正發(fā)揮著強(qiáng)大的作用。茉麗特作為機(jī)器視覺(jué)行業(yè)的光學(xué)元件及解決方案提供商，也期待客戶(hù)能提出更多的行業(yè)需求與應(yīng)用信息，我們將通過(guò)領(lǐng)先的技術(shù)創(chuàng)新及產(chǎn)品創(chuàng)造，持續(xù)為中國(guó)及全球客戶(hù)提供優(yōu)質(zhì)的技術(shù)解決方案及服務(wù)。