新聞中心

EEPW首頁 > 測試測量 > 新品快遞 > 最新吉時利SMU模塊解決了低電流、高電容的棘手測試挑戰(zhàn)

最新吉時利SMU模塊解決了低電流、高電容的棘手測試挑戰(zhàn)

作者: 時間:2019-11-14 來源: 收藏

4200A-SCS參數(shù)分析儀模塊為擁有高測試連接電容、不穩(wěn)定低電流測量的應(yīng)用提供了理想的解決方案

本文引用地址:http://2s4d.com/article/201911/407062.htm

中國北京2019年11月13日 – 公司日前宣布,為 4200A-SCS參數(shù)分析儀推出兩款最新源測量單元(SMU)模塊,即使在由于長電纜和復(fù)雜的測試設(shè)置而產(chǎn)生高負載電容時,其仍能執(zhí)行低電流測量。許多主要測試應(yīng)用都面臨著這一挑戰(zhàn),如LCD顯示器制造和卡盤上的納米FET

在被測器件本身電容很小的情況下,許多低電流測量應(yīng)用中所需要的測試設(shè)置也會增加SMU輸出端的電容。當(dāng)測試連接電容太大時,最終的低電流測量結(jié)果可能會變得不穩(wěn)定。為解決這些挑戰(zhàn),新模塊在提供電壓和測量電流時,支持的電纜長度和連接電容都要超過傳統(tǒng)SMU。

image001.jpg

最新4201-SMU和4211-SMU是為采用長電纜、開關(guān)矩陣、通過柵極接觸卡盤及其他夾具的測試裝置專門設(shè)計的。這就讓研究人員和制造測試工程師節(jié)省了大量的時間和成本,而這些時間和成本本來可以花費在故障排除和重新配置測試設(shè)置上。

“因為要降低電流來節(jié)省能耗,精細測試裝置所產(chǎn)生的高負載電容正成為一個日益嚴(yán)重的問題。在測試智能手機或平板電腦采用的大型LCD面板時,就面臨著同樣的問題?!?a class="contentlabel" href="http://2s4d.com/news/listbylabel/label/泰克科技">泰克科技公司吉時利系統(tǒng)和軟件總經(jīng)理Peter Griffiths說,“我們的新模塊特別擅長進行穩(wěn)定的低電流測量,并將立即使我們的許多現(xiàn)有和未來的客戶受益。”

在最低電流測量范圍內(nèi),4201-SMU和4211-SMU可以提供和測量的系統(tǒng)電容要比當(dāng)前水平高出1,000倍。例如,如果電流在1 ~ 100 pA (皮安)之間,那么最新吉時利模塊可以在低達1 μF (微法拉)的負載電容下保持穩(wěn)定。相比之下,同類產(chǎn)品最多只能容忍1,000 pF (皮法)的負載電容,之后測量穩(wěn)定性就會劣化,這要比最新吉時利模塊差1,000倍。

4201-SMU和4211-SMU在訂貨時可以預(yù)先配置一個4200A-SCS,構(gòu)成全面的參數(shù)分析解決方案;也可以現(xiàn)場輕松升級現(xiàn)有的設(shè)備,不需把設(shè)備發(fā)送到服務(wù)中心,可望節(jié)省幾周的中斷時間。

關(guān)于4200A-SCS

4200A-SCS是一種可以量身定制的全集成參數(shù)分析儀,可以同步查看電流-電壓(I-V)、電容-電壓(C-V)和超快速脈沖式I-V特點,加快半導(dǎo)體、材料和工藝開發(fā)和制造過程。每臺4200A-SCS可以配置最多9個SMU。該系統(tǒng)的Clarius軟件用戶界面擁有觸控和滑動或點擊控制功能,支持在現(xiàn)代半導(dǎo)體、材料和工藝表征中進行高級測試定義、參數(shù)分析、圖表繪制和自動化。

供貨情況

4201-SMU和4211-SMU模塊現(xiàn)已在全球范圍內(nèi)供貨。如需進一步信息,敬請訪問:https://www.tek.com/keithley-4200a-scs-parameter-analyzer。

關(guān)于

泰克公司總部位于美國俄勒岡州畢佛頓市,致力提供創(chuàng)新、精確、操作簡便的測試、測量和監(jiān)測解決方案,解決各種問題,釋放洞察力,推動創(chuàng)新能力。70多年來,泰克一直走在數(shù)字時代前沿。歡迎加入我們的創(chuàng)新之旅,敬請登錄:tek.com.cn

# # #

Tektronix是泰克公司的注冊商標(biāo)。所有其他商號均為各自公司的服務(wù)標(biāo)志、商標(biāo)或注冊商標(biāo)。



關(guān)鍵詞: 泰克科技 Keithley 器件測試

評論


相關(guān)推薦

技術(shù)專區(qū)

關(guān)閉