首頁　 資訊　 商機(jī) 　 下載　 拆解 　 高校　 招聘 　 雜志　 會(huì)展　 EETV　 百科 　 問答　 電路圖　 工程師手冊 　 Datasheet　 100例 　 活動(dòng)中心　 E周刊閱讀 　 樣片申請
EEPW首頁 >> 主題列表 >> 器件測試

最新吉時(shí)利SMU模塊解決了低電流、高電容的棘手測試挑戰(zhàn)

  • Keithley 4200A-SCS參數(shù)分析儀模塊為擁有高測試連接電容、不穩(wěn)定低電流測量的應(yīng)用提供了理想的解決方案中國北京2019年11月13日 – 泰克科技公司日前宣布，為Keithley 4200A-SCS參數(shù)分析儀推出兩款最新源測量單元(SMU)模塊，即使在由于長電纜和復(fù)雜的測試設(shè)置而產(chǎn)生高負(fù)載電容時(shí)，其仍能執(zhí)行低電流測量。許多主要測試應(yīng)用都面臨著這一挑戰(zhàn)，如LCD顯示器制造和卡盤上的納米FET器件測試。在被測器件本身電容很小的情況下，許多低電流測量應(yīng)用中所需要的測試設(shè)置也會(huì)增加SMU輸出端的電容。
  • 關(guān)鍵字： 泰克科技  Keithley  器件測試  
共1條 1/1 1

器件測試介紹

您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條器件測試!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對(duì)器件測試的理解，并與今后在此搜索器件測試的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

熱門主題

樹莓派    linux   
關(guān)于我們 - 廣告服務(wù) - 企業(yè)會(huì)員服務(wù) - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案：1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473