一種安全可控的SoC可測(cè)性設(shè)計(jì)
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時(shí)間：2017-06-05
來(lái)源：網(wǎng)絡(luò)
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摘要：提出了一種安全可控的可測(cè)性設(shè)計(jì)DFT（Design For Test）。DFT既能夠完成對(duì)SoC的測(cè)試，又能保障SoC自身敏感信息和關(guān)鍵技術(shù)的安全。
本文引用地址：http://2s4d.com/article/201706/349244.htm關(guān)鍵詞：可測(cè)性設(shè)計(jì) 集成電路 微系統(tǒng)芯片
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