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模數(shù)轉(zhuǎn)換器與嵌入式微處理器的接口技術(shù)

作者: 時(shí)間:2017-06-04 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

模數(shù)轉(zhuǎn)換器主要包括Sigma-Delta型、逐次逼近型和閃速型,應(yīng)用中工程師普遍關(guān)注的問題是如何提高轉(zhuǎn)換精度?本文給出了按實(shí)際需要選擇并校正模數(shù)轉(zhuǎn)換器的一些軟件和硬件的應(yīng)用技巧。

模數(shù)轉(zhuǎn)換器()接收模擬輸入(電壓或電流),并轉(zhuǎn)換為可被微處理器讀取的數(shù)字值。圖1給出了一個(gè)簡單的電壓輸入,假定該器件的輸入由兩部分組成:參考信號和測量信號,另外還帶有一個(gè)輸出和表示輸入值的8位數(shù)字字。

參考電壓是所能轉(zhuǎn)換的最大值,示例中的8位ADC可轉(zhuǎn)換為介于0V和參考電壓之間的任意電壓,電壓范圍分為256個(gè)值或步長。步長的大小由下式給定:Vref/256,這里Vref表示參考電壓,轉(zhuǎn)換器的步長定義為轉(zhuǎn)換器的分辨率。對于5V的參考電壓,步長為:

5V/256=0.0195V或19.5mV

8位轉(zhuǎn)換器將模擬輸入表示為數(shù)字字,數(shù)字字的最高有效位指示輸入電壓是否大于參考電壓的一半(5V參考電壓的一半為2.5V),后續(xù)的各位均表示前一位所表示范圍的一半。

表1說明了這一點(diǎn),將0010 1100中各位表示的電壓相加,可以得到:

0.625+0.156+0.078 =0.859V

ADC的分辨率由參考輸入和字寬決定,分辨率定義了可被ADC測量的最小電壓變化。如前所述,分辨率的大小等于最小的步長大小,并可用參考電壓除以轉(zhuǎn)換值的數(shù)目加以計(jì)算。

上例的分辨率為19.5mV,這意味著任何低于19.5mV的輸入電壓得到的輸出結(jié)果為0,介于19.5mV和39mV之間的輸入電壓得到的輸出結(jié)果為1,介于39mV和58.6mV之間的輸入電壓得到的輸出結(jié)果為2。

可以通過降低參考輸入提高分辨率,如將參考輸入由5V變成2.5V,那么分辨率將為2.5/256,或9.7mV。但這時(shí)可被測量的最大電壓將為2.5V,而非5V。

既能提高分辨率,又不降低可測量電壓范圍的唯一方法是增加ADC的位數(shù)。10位的ADC具有210或1,024個(gè)可能的輸出代碼,因此此時(shí)的分辨率為5V/1024,即4.88mV;而相同的參考輸入條件下,12位ADC具有1.22mV的分辨率。

ADC的類型

ADC具有各種速率,使用不同的接口電路,并可提供不同的精確度。最常用的ADC類型包括閃速ADC、逐次逼近ADC和sigma-delta ADC。

1. 閃速ADC

閃速ADC是轉(zhuǎn)換速率最快的一類ADC。閃速ADC在每個(gè)電壓階躍中使用一個(gè)比較器和一組電阻。因此4位ADC具有16個(gè)比較器,8位ADC則具有256個(gè)比較器。所有的比較器輸出連接到一塊邏輯器件上,該邏輯器件根據(jù)比較器的電壓高低確定輸出。

閃速ADC的轉(zhuǎn)換速率是比較器延遲和邏輯器件延遲(邏輯器件的延遲通??梢院雎圆挥?jì))之和。閃速ADC的轉(zhuǎn)換速率很快,但需要占據(jù)巨大的IC空間;而且由于所需的比較器數(shù)目很大,閃速ADC簡直就是功率“黑洞”,需要消耗很高的電流強(qiáng)度。10位閃速ADC所需的電流約為0.5A。

閃速ADC的一種變形就是半閃速ADC,該ADC利用內(nèi)置的數(shù)模轉(zhuǎn)換器()減少了內(nèi)部比較器的數(shù)目。半閃速轉(zhuǎn)換器的轉(zhuǎn)換速率低于真正的閃速轉(zhuǎn)換器,但高于其它類型的ADC。這里將其歸為閃速轉(zhuǎn)換器類型。
2. 逐次逼近ADC

逐次逼近轉(zhuǎn)換器采用一個(gè)比較器和計(jì)數(shù)邏輯器件完成轉(zhuǎn)換。轉(zhuǎn)換的第一步是檢驗(yàn)輸入是否高于參考電壓的一半,如果高于,將輸出的最高有效位(MSB)置為1。然后輸入值減去輸出參考電壓的一半,再檢驗(yàn)得到的結(jié)果是否大于參考電壓的1/4,依此類推直至所有的輸出位均置“1”或清零。逐次逼近ADC所需的時(shí)鐘周期與執(zhí)行轉(zhuǎn)換所需的輸出位數(shù)相同。

3. Sigma-delta ADC

Sigma-delta ADC采用1位、濾波和附加采樣來實(shí)現(xiàn)非常精確的轉(zhuǎn)換,轉(zhuǎn)換精度取決于參考輸入和輸入時(shí)鐘頻率。

Sigma-delta轉(zhuǎn)換器的主要優(yōu)勢在于其較高的分辨率。閃速和逐次逼近ADC采用并聯(lián)電阻或串聯(lián)電阻,這些方法的問題在于電阻的精確度將直接影響轉(zhuǎn)換結(jié)果的精確度。盡管新式ADC采用非常精確的激光微調(diào)電阻網(wǎng)絡(luò),但在電阻并聯(lián)中仍然不甚精確。sigma-delta轉(zhuǎn)換器中不存在電阻并聯(lián),但通過若干次采樣可得到收斂的結(jié)果。

Sigma-delta轉(zhuǎn)換器的主要劣勢在于其轉(zhuǎn)換速率。由于該轉(zhuǎn)換器的工作機(jī)理是對輸入進(jìn)行附加采樣,因此轉(zhuǎn)換需要耗費(fèi)更多的時(shí)鐘周期。在給定的時(shí)鐘速率條件下,Sigma-delta轉(zhuǎn)換器的速率低于其它類型的轉(zhuǎn)換器;或從另一角度而言,對于給定的轉(zhuǎn)換速率,Sigma-delta轉(zhuǎn)換器需要更高的時(shí)鐘頻率。

Sigma-delta轉(zhuǎn)換器的另一劣勢在于將占空(duty cycle)信息轉(zhuǎn)換為數(shù)字輸出字的數(shù)字濾波器的結(jié)構(gòu)很復(fù)雜,但Sigma-delta轉(zhuǎn)換器因其具有在IC裸片上添加數(shù)字濾波器或DSP功能而日益得到廣泛應(yīng)用。

ADC比較器

圖2顯示了sigma-delta、逐次逼近和閃速轉(zhuǎn)換器的分辨率范圍,同時(shí)還給出了每種轉(zhuǎn)換器類型的最大轉(zhuǎn)換速率。如圖所示,sigma-delta ADC的轉(zhuǎn)換速率在逐次逼近ADC的轉(zhuǎn)換速率范圍以內(nèi),但比不上轉(zhuǎn)換速率最低的閃速轉(zhuǎn)換ADC。表中沒有給出速率和精確度的折衷結(jié)果。例如,可以找到8至16位的逐次逼近ADC,但在給定的系列產(chǎn)品中16位ADC的轉(zhuǎn)換速率并不是最快的;而且在閃速ADC中,速率最快的不是12位ADC,而是6位或8位ADC。

上述圖表簡要描述了ADC技術(shù)的當(dāng)前發(fā)展?fàn)顩r。隨著CMOS工藝的不斷改進(jìn),逐次逼近轉(zhuǎn)換的時(shí)間已由以前的數(shù)十微秒迅速下降至數(shù)微秒。雖然并非所有的技術(shù)進(jìn)步都將對所有類型的轉(zhuǎn)換器產(chǎn)生影響,CMOS工藝的改進(jìn)仍將提高各類轉(zhuǎn)換器的速率,但在ADC芯片上添加更為復(fù)雜的DSP功能并不能改進(jìn)逐次逼近轉(zhuǎn)換器的性能。DSP功能可以改進(jìn)sigma-delta型ADC,因?yàn)樵摦a(chǎn)品可以在芯片上添加更好、更快,也更復(fù)雜的濾波器。

采樣與保持

ADC轉(zhuǎn)換直流信號的工作原理簡單明了。但如果在轉(zhuǎn)換期間輸入信號的變化超過一個(gè)最低有效位(LSB),ADC將得到不正確(或至少是不精確)的結(jié)果。減小誤差的一種方法是在ADC之前添加低通濾波器,并選擇適當(dāng)?shù)膮?shù)以保證ADC的輸入在一個(gè)轉(zhuǎn)換周期中的變化不超過一個(gè)最低有效位。

處理變化的輸入信號的另一種方法是在ADC之前添加采樣-保持(S/H)電路,圖3顯示了采樣-保持電路的工作原理。S/H電路具備帶有控制輸入的模擬(固態(tài))開關(guān),當(dāng)開關(guān)閉合時(shí),輸入信號將連接至保持電容,而緩沖器的輸出將跟蹤輸入。當(dāng)開關(guān)開啟時(shí),輸入信號將與保持電容斷開。

圖中還給出了S/H的工作波形,S/H輸入連接一個(gè)緩慢上升的信號,當(dāng)控制信號較低時(shí)(采樣模式),輸出將跟蹤輸入;隨著控制信號的增強(qiáng)(保持模式),輸出將與輸入的保持電容斷開,并保持在S/H切換至保持模式時(shí)的輸入值。當(dāng)電路再次閉合,電容迅速充電,輸出再次跟蹤輸入。通常S/H在ADC轉(zhuǎn)換開始前切換至保持模式,而當(dāng)轉(zhuǎn)換結(jié)束后切回至采樣模式。

在理想條件下,保持電容不會發(fā)生漏電并且緩沖放大器具有無窮大的輸入阻抗,因此輸出將保持恒定。但在實(shí)際中,保持電容會漏電,而且緩沖放大器的輸入阻抗是有限的,因而輸出電平將隨著電容放電產(chǎn)生緩慢的漂移。

S/H電路在保持模式下保持輸出的性能取決于保持電容的質(zhì)量、緩沖放大器(主要是輸入阻抗)的特性和采樣/保持開關(guān)(實(shí)際的電子開關(guān)在開路時(shí)總會有漏電)的質(zhì)量。保持模式下輸出呈現(xiàn)出的漂移量稱為固定偏差率(droop rate),可用毫伏/秒、毫伏/微秒或微伏/微秒來表示。

實(shí)際中,S/H電路由于電子開關(guān)無法達(dá)到理想狀況而具有有限的輸入阻抗。這意味著在采樣模式下,保持電容需要通過某些電阻進(jìn)行充電,這限制了S/H可獲取的輸入速率。S/H在采樣模式下為獲得滿刻度輸入所必須保持的采樣時(shí)間稱為采集時(shí)間,單位是納秒或微秒。

采樣時(shí)一些電阻與保持電容相串聯(lián),這樣的效果等同于低通RC濾波器。這無疑限制了S/H所能獲取的最大頻率,該頻率稱為滿功率帶寬,單位是千赫或兆赫。

如前所述,由于電子開關(guān)無法達(dá)到理想狀況,某些輸入信號將出現(xiàn)在輸出中,即便在保持模式下也是如此,這種狀況稱為饋通,單位是分貝。

輸出偏移表示輸入信號與輸出信號之間的差異,S/H電路數(shù)據(jù)表通常以毫伏的形式表示保持模式下的偏移和采樣模式的偏移。

應(yīng)用軟件

使用S/H的ADC系統(tǒng)必須能處理硬件異常情況。在某些系統(tǒng)中,軟件通過端口或寄存器輸出位直接控制S/H的控制輸入。S/H通常置為采樣模式,而軟件必須滿足采集時(shí)間要求。在某些系統(tǒng)中,這項(xiàng)工作的完成僅僅只需將S/H置為采樣模式,直到需要轉(zhuǎn)換為止。

當(dāng)S/H置為保持模式后,另一位(或?qū)懭氲刂罚蜻M(jìn)行其它操作)將啟動(dòng)ADC。轉(zhuǎn)換完成后,軟件將讀取結(jié)果。然而,一旦異常中斷(或出現(xiàn)最壞情況的中斷堆棧)導(dǎo)致S/H的輸出電路變化至少一個(gè)最低有效位,將會出現(xiàn)問題。這種情況一旦發(fā)生,軟件必須在S/H切換至保持模式之前禁止中斷,并在開始轉(zhuǎn)換之前開放中斷,這樣就能保證ADC在發(fā)生S/H偏差之前完成轉(zhuǎn)換工作。

軟件還必須能調(diào)節(jié)S/H的充電時(shí)間。當(dāng)電子開關(guān)閉合并與S/H電容的輸入信號連通時(shí),電容必須在有限的時(shí)間內(nèi)充電,因?yàn)榇藭r(shí)開關(guān)和任何驅(qū)動(dòng)輸入的電源都將具有非零阻抗。如果這些阻抗之和充分大,軟件將需要增加延遲,以使得保持電容在轉(zhuǎn)換之前,在終值的一個(gè)最低有效位變化以內(nèi)有充分的時(shí)間進(jìn)行充電。

內(nèi)部微控制器ADC

許多微控制器均帶有片上ADC。典型的器件包括Microchip的PIC167C7xx系列產(chǎn)品和Atmel的AT90S4434。大多數(shù)微控制器ADC采用逐次逼近法,因?yàn)檫@種方法能對轉(zhuǎn)換速率和微控制器裸片空間成本進(jìn)行最佳折衷。

PIC16C7xx微控制器包含一個(gè)帶有模擬輸入多路復(fù)用器的8位逐次逼近ADC。該系列微控制器具有4至8個(gè)通道,內(nèi)部寄存器控制所選的通道并啟動(dòng)轉(zhuǎn)換。輸入一旦選定,在啟動(dòng)A/D轉(zhuǎn)換之前,必須經(jīng)過一段穩(wěn)定時(shí)間使S/H電容充電。軟件必須保證上述操作所需的延遲時(shí)間。

轉(zhuǎn)換精確度

一些微控制器(如Microchip系列產(chǎn)品)允許使用一個(gè)輸入引腳作為參考電壓,該引腳通常與某種精密參考電源相連。轉(zhuǎn)換后從A/D轉(zhuǎn)換器上讀取的值為:

(Vin/Vref)×256

某些微控制器使用電源電壓作為參考。在5V系統(tǒng)下,這意味著Vref為5V。因此采用8位ADC測量3.2V信號將得到如下結(jié)果:
(Vin×256)/Vref =(3.2v×256)/5V =16310 =A316

然而得到的結(jié)果還取決于5V電源值。如果電源電壓超過1%,即為5.05V,那么A/D轉(zhuǎn)換的結(jié)果將為:

(3.2V×256)/5.05V=16210=A216

因此電源電壓1%的變化將導(dǎo)致轉(zhuǎn)換結(jié)果計(jì)數(shù)改變1。典型電源的電壓變化范圍為2%或3%, 因此電源電壓的變化將對轉(zhuǎn)換結(jié)果產(chǎn)生顯著的影響。電源電壓的輸出常常受到電源間負(fù)載、溫度、交流輸入變化的影響。

這里提出了一個(gè)影響所有ADC設(shè)計(jì)的問題:參考電壓的精確度。典型的ADC參考電壓可為2.5V額定值,但可在2.47V和2.53V(這些數(shù)值來自數(shù)據(jù)表的實(shí)數(shù)部分)之間變化。如果采用10位的ADC,在上述給定的參考范圍極限條件下,轉(zhuǎn)換2V的輸入將得到如下結(jié)果:當(dāng)Vref=2.47V時(shí), 轉(zhuǎn)換結(jié)果=(2V×1,024)/2.47=82910;當(dāng)Vref = 2.53V時(shí),轉(zhuǎn)換結(jié)果=(2V×1,024)/2.53=80910。

各部分之間參考電壓的變化可導(dǎo)致輸出發(fā)生20個(gè)計(jì)數(shù)的變化。圖4顯示了參考變化對ADC結(jié)果的影響。盡管誤差的百分比在整個(gè)范圍內(nèi)維持不變,但ADC值越大,誤差值顯然也越大。

軟件校正

有時(shí)由于需要得到精確的參考電壓,對精確度的要求甚至超過了產(chǎn)品成本所能承受的范圍。當(dāng)無法進(jìn)行手工調(diào)節(jié)時(shí),即可采用軟件來補(bǔ)償參考電壓的變化。這通??赏ㄟ^提供已知的用于校正ADC的精確輸入來實(shí)現(xiàn)。這個(gè)參考電壓可以非常精確(當(dāng)然也非常昂貴),因?yàn)橹挥泻苌俚纳a(chǎn)線需要這類參考電壓。

在上述2.47V示例中,ADC的輸入可采用2V的精確電壓。當(dāng)軟件讀取ADC時(shí),知道正確的值應(yīng)為819,由此校正常數(shù)為829/819,或1.012。類似地,2.53V參考電壓的校正常數(shù)為809/819,或0.988。

這意味著需要浮點(diǎn)運(yùn)算來校正ADC值。如果使用的處理器可處理浮點(diǎn)運(yùn)算,那么這種方法就是可取的。但對于比較簡單的處理器,則有可能不具備必要的處理時(shí)間或代碼空間來實(shí)現(xiàn)浮點(diǎn)運(yùn)算。

進(jìn)行ADC校正的一種有效方法是查表。但該方法的缺陷是需要足夠大的固定存儲器來維持對應(yīng)于每個(gè)可能的ADC值的查表值,對于10位的ADC,查表需要1024字的存儲空間。

電壓參考與其額定值相當(dāng)接近,否則就不能稱其為參考了。假定在工作溫度中參考電壓足夠穩(wěn)定,ADC誤差占ADC讀數(shù)值的百分比將是恒定的。因?yàn)锳DC具有有限的分辨率,精度校正ADC誤差的精度不會大于1LSB。

這樣我們就可按下面給出的方法簡化ADC的校正工藝。作為查詢表的替代,我們可以另外存儲一個(gè)值,該值通知軟件將要從ADC讀取值中添加或刪除的(二進(jìn)制)百分比,由此校正誤差。我們可以添加或刪除輸入的1/8、1/16或1/24,但都將導(dǎo)致精確度下降1 LSB。我們只需存儲單個(gè)校正常數(shù),而除法運(yùn)算則可由一系列移位加或移位減運(yùn)算實(shí)現(xiàn)。

上述2.47V示例可由ADC值與.988相乘的結(jié)果加以校正,也可通過初始值減去1/128,再減去1/256和1/512得到相同的結(jié)果。在初始的2V示例中,采用整數(shù)表示法,可得到如下結(jié)果:

829-829/128-829/156-829/512 =829-6-3-1 =819

上述結(jié)果將ADC讀取值校正為819,這是額定參考電壓為2.5V條件下的理想值。類似地,2.53V參考電壓可通過增加1/128 和1/256加以校正。

我們還必須確信在期望的工作溫度范圍內(nèi)參考電壓充分穩(wěn)定,否則在期望溫度附近只能得到較好的校正結(jié)果。如果參考電壓的溫度穩(wěn)定性不夠好,那么必須選擇更好的參考電壓,或者將工作溫度范圍分為多個(gè)段并在每個(gè)段上使用不同的校正值。當(dāng)然,這也意味著需要使用熱敏電阻或其它方法來測量溫度。

該方法通過對移位結(jié)果進(jìn)行截?cái)嗌崛攵鴮?shí)現(xiàn)舍入誤差處理。在2.47V示例給出的電子表格中,所有情形下的校正值均在理想值的兩個(gè)計(jì)數(shù)以內(nèi)。大多數(shù)校正值都是正確無誤的,或者僅偏差一個(gè)計(jì)數(shù)。2V輸入條件下得到的校正結(jié)果明顯優(yōu)于最初的偏差(10個(gè)計(jì)數(shù)),這正好滿足了諸多應(yīng)用系統(tǒng)的需要。如果應(yīng)用系統(tǒng)連這點(diǎn)偏差都無法承受,那么確實(shí)需要更好的參考電壓或者求助于手工調(diào)節(jié)。

校正技術(shù)同樣可用來補(bǔ)償其它系統(tǒng)的不精確度,如電阻累計(jì)誤差。如果所測量的系統(tǒng)包含電壓輸入,即可在輸入中應(yīng)用精確電壓,并進(jìn)行適當(dāng)?shù)男U?,由此在ADC中補(bǔ)償參考輸入的變化并在輸入條件下補(bǔ)償電阻公差的影響。

校正值的計(jì)算和使用

校正值可通過讀取已知的參考輸入并找到適當(dāng)?shù)男U禂?shù)(二進(jìn)制系數(shù))計(jì)算得到。對于上述給定的示例,理想值與最壞條件下的ADC值之間的差異將不會超過1.2%,因此初始值的1/2和1/4中不會出現(xiàn)分?jǐn)?shù),而能被測試和使用的值只能為1/128、1/256和1/512。這樣就可以從接近期望值的地方開始工作。

我們可以輕易地利用計(jì)算器求得校正系數(shù),但如果要在應(yīng)用系統(tǒng)的固定點(diǎn)處理器上計(jì)算校正系數(shù),那么還需要采用基于整數(shù)的方法。根據(jù)該方法,單個(gè)字節(jié)(或字)用來存儲校正常數(shù),而第7位指示參考電壓的高低狀態(tài)(如參考電壓為低,則需減去校正值,否則加上校正值)。第0、1和2位指示是否需要使用1/128、1/256和1/512系數(shù)。

當(dāng)然也可為每個(gè)可能的系數(shù)分別使用一個(gè)字節(jié),其中第4個(gè)字節(jié)指示參考電壓的高低狀態(tài)。

寫入校正值

不管使用表格還是校正常數(shù),如何使校正值寫入系統(tǒng)呢?任何校正設(shè)計(jì)的一項(xiàng)關(guān)鍵組成部分就是固定存儲器的有效性。許多微控制器都帶有片上EEPROM,而校正通常在電路板測試過程中進(jìn)行。在高產(chǎn)量環(huán)境下,校正或許可以利用某類自動(dòng)測試設(shè)備加以實(shí)施。

我們通常希望通過使引腳接地,將處理器置于某種“校正模式”中。生產(chǎn)測試設(shè)備可用程序加以控制,因此可在模擬輸入應(yīng)用非常精確的電壓,并使校正引腳接地。微控制器可進(jìn)入校正模式,并在該模式下讀取參考值并計(jì)算補(bǔ)償值或生成檢索表。

在某些情形下,由于內(nèi)存不夠而無法向微控制器添加校正代碼。此時(shí)就必須使微控制器將ADC值返回至輸出引腳(串聯(lián)情況),或者返回至一組引腳(并聯(lián)情況),該值由生產(chǎn)測試設(shè)備讀取。這樣外部計(jì)算機(jī)就能計(jì)算校正值或查表值,并經(jīng)由相同的接口返回至微控制器。

如果生產(chǎn)測試設(shè)備能對微控制器的內(nèi)部電路進(jìn)行程序控制,那么校正數(shù)據(jù)就能嵌入閃存的程序數(shù)據(jù)中。如果校正的參考電壓在微控制器以內(nèi),那么測試設(shè)備首先必須將校正程序載入微控制器中并運(yùn)行校正程序,然后載入實(shí)際的應(yīng)用代碼。

但是某些非常小的微控制器由于沒有充足的引腳,因而無法進(jìn)行必要的校正。在這類情形中,必須使輸出引腳還充當(dāng)校正引腳,可以采用外部電阻使該引腳實(shí)現(xiàn)此雙重功能。生產(chǎn)測試設(shè)備通常在啟動(dòng)選擇校正模式之前使引腳接地。

上述功能實(shí)現(xiàn)中,微控制器啟動(dòng)時(shí)所有的引腳均處于輸入狀態(tài),并在將校正引腳配置為輸出引腳之前讀取校正值。如果引腳的電壓為高,則啟動(dòng)正常的工作方式;如果引腳的電壓為低,則必須在外部接地,由此使微控制器進(jìn)入校正模式。當(dāng)然引腳在外部接地時(shí),輸出不應(yīng)對系統(tǒng)產(chǎn)生任何破壞。

如果要校正應(yīng)用于備用ADC輸入的精確參考電壓,那么可以應(yīng)用備用輸入本身對系統(tǒng)校正。只需使用一個(gè)電阻器即可在備用輸入中使ADC電壓歸零(在上述示例中只需接地即可)。當(dāng)引腳測量得到的電壓超過某些預(yù)先確定的閾值(即超過滿標(biāo)度電壓的2/3)時(shí),必須使軟件進(jìn)入校正模式。

選擇校正電壓時(shí),必須在參考電壓為最低可能值時(shí),不使ADC到達(dá)飽和時(shí)的最大值。這能保證計(jì)算校正常數(shù)(或表)時(shí),不會因?yàn)樾U?shù)的位舍入誤差而降低精確度。這通常使校正電壓高于滿標(biāo)度的90%,盡管期望能選擇最接近標(biāo)準(zhǔn)的參考電壓以方便設(shè)計(jì)。

在某些應(yīng)用中,還可以通過改變ADC的輸入來解決參考輸入問題:可以采用變化范圍為10%的光傳感器,取代具有固定值的光傳感器,或者采用變化范圍為25%的溫度傳感器。當(dāng)然還必須考慮這些傳感器的精度,但這已超出了本文討論的范圍。

盡管有時(shí)很難確定哪種ADC適用于具體的應(yīng)用系統(tǒng),但該產(chǎn)品的多個(gè)系列使得我們可以輕松地挑選滿足需要的產(chǎn)品。使軟件與硬件相匹配就能確保選擇的ADC滿足應(yīng)用系統(tǒng)的精確度和穩(wěn)定性要求。

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Stuart Ball在嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)領(lǐng)域具有20余年經(jīng)驗(yàn)的電器工程師,編寫了3本有關(guān)嵌入式系統(tǒng)的書籍。本文的內(nèi)容節(jié)選自Stuart最新出版的著作“Analog Interfacing to Embedded Microprocessors”,該書由Butterworth-Heinemann公司出版。他的聯(lián)系郵件:SBall85964@aol.com或 stuart@stuartball.com。

作者:Stuart Ball Email: SBall85964@aol.com或stuart@stuartball.com

本文引用地址:http://2s4d.com/article/201706/348638.htm


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