微電子所在超高速ADC/DAC芯片研制方面取得突破性進(jìn)展
ADC芯片采用帶插值平均的Flash結(jié)構(gòu),集成約1250只晶體管。測(cè)試結(jié)果表明,芯片可以在8GHz時(shí)鐘頻率下穩(wěn)定工作,最高采樣頻率可達(dá)9GHz。超高速DAC芯片采用基于R-2R的電流開(kāi)關(guān)結(jié)構(gòu),同時(shí)集成了10Gbps自測(cè)試碼流發(fā)生電路,共包含1045只晶體管。測(cè)試結(jié)果表明,該芯片可以在10GHz時(shí)鐘頻率下正常工作。
超高速ADC/DAC芯片在光通訊及無(wú)線寬帶通信領(lǐng)域有廣闊的應(yīng)用前景。這兩款芯片的研制成功,大大提升了國(guó)內(nèi)單片高速ADC和DAC電路的最高采樣頻率,也為今后研制更高性能ADC/DAC電路打下了堅(jiān)實(shí)的基礎(chǔ)。
圖1:高速ADC芯片評(píng)估板以及芯片照片
圖2:8GS/s采樣率下時(shí)鐘輸出以及D0、D1、D2數(shù)據(jù)信號(hào)眼圖實(shí)測(cè)結(jié)果
圖3:高速DAC芯片評(píng)估板以及芯片照片
圖4:微分非線性誤差(DNL)、積分非線性誤差(INL)測(cè)試結(jié)果
評(píng)論