分立電阻器檢定測(cè)試系統(tǒng)的IEEE總線操作

在編寫(xiě)建立和執(zhí)行公差帶測(cè)試和電壓系數(shù)測(cè)試程序時(shí)，這里有幾個(gè)常用步驟需要遵守。在進(jìn)行這些測(cè)試時(shí)，每個(gè)測(cè)試點(diǎn)都配置并存儲(chǔ)在源存儲(chǔ)單元中。源表內(nèi)存允許存儲(chǔ)高達(dá)100個(gè)完整的測(cè)試程序，而且可以利用單一命令通過(guò)IEEE總線啟動(dòng)程序。2400型數(shù)字源表可以在沒(méi)有計(jì)算機(jī)干預(yù)的情況下訪問(wèn)這些存儲(chǔ)位置，從而節(jié)省IEEE總線時(shí)間，并提高系統(tǒng)吞吐量。

1. 對(duì)GPIB和2400型數(shù)據(jù)源表進(jìn)行初始化。

2. 設(shè)置2400型數(shù)據(jù)源表參數(shù)，對(duì)這兩個(gè)測(cè)試都是一樣的(如積分時(shí)間、數(shù)據(jù)格式等)。

3. 定義電阻器公差帶測(cè)試。

a) 2400型數(shù)字源表電流源設(shè)置命令:設(shè)置電流源范圍、數(shù)值和延遲。

b) 2400型數(shù)字源表電阻測(cè)試命令:設(shè)置測(cè)量范圍和限定值。

c) 為每個(gè)通過(guò)/失敗結(jié)果設(shè)置限定值和數(shù)字輸出位模式。

d) 在源存儲(chǔ)單元#1中保存公差帶測(cè)試配置。

4. 定義電阻器電壓系數(shù)測(cè)試。

a) 2400型數(shù)字源表源電壓設(shè)置命令# 1:設(shè)置電壓源范圍、數(shù)值和延遲。

b) 2400型數(shù)字源表電阻測(cè)試命令# 1:設(shè)置測(cè)量范圍和限定值。

c). 將電阻測(cè)量值#1反饋至電阻器電壓系數(shù)方程(CALC1:MATH:NAME ‘VOLTCOEF’).

d). 將點(diǎn)#1的電壓系數(shù)測(cè)試序列保存至源存儲(chǔ)單元#2。

e). 對(duì)于電阻測(cè)量#2，重復(fù)步驟a～c。

f). 將電阻測(cè)量值#2反饋至電阻器電壓系數(shù)方程(CALC1:MATH:NAME ‘VOLTCOEF’)。這個(gè)函數(shù)利用來(lái)自電阻測(cè)量#1和電阻測(cè)量#2的數(shù)據(jù)計(jì)算電壓系數(shù)。

g. 將點(diǎn)#2的電壓系數(shù)測(cè)試序列保存至源存儲(chǔ)單元#3。

h. 為計(jì)算得到的電壓系數(shù)值設(shè)立通過(guò)/失效限度值。

5. 設(shè)置觸發(fā)模型。

6. 啟動(dòng)測(cè)試。

7. 存儲(chǔ)數(shù)據(jù)。