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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 分立電阻器

分立電阻器檢定測(cè)試系統(tǒng)的配置的測(cè)試說(shuō)明

  • 電阻器電壓系數(shù)測(cè)試高兆歐姆電阻器(>107Omega;)在施加電壓后，其電阻往往發(fā)生變化。這個(gè)電阻變化是通過(guò)電壓系數(shù)來(lái)描述的。為了計(jì)算電壓系數(shù)(單位：%/V), 需要使用不同電壓值時(shí)的兩個(gè)電阻讀數(shù):電壓系數(shù)=其中，R1 =
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分立電阻器檢定測(cè)試系統(tǒng)的操作步驟

  • 圖1是基于2400數(shù)字源表的電阻器生產(chǎn)測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖，該系統(tǒng)用于連續(xù)進(jìn)給電阻器并檢定。圖1基于2400數(shù)字源表的電阻器生產(chǎn)測(cè)試系統(tǒng)注意，電阻器置于測(cè)試夾具中，夾具與2400型數(shù)字源表相連。觸發(fā)后，2400型數(shù)字源表輸出
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分立電阻器檢定測(cè)試系統(tǒng)的IEEE總線操作

  • 在編寫建立和執(zhí)行公差帶測(cè)試和電壓系數(shù)測(cè)試程序時(shí)，這里有幾個(gè)常用步驟需要遵守。在進(jìn)行這些測(cè)試時(shí)，每個(gè)測(cè)試點(diǎn)都配置并存儲(chǔ)在源存儲(chǔ)單元中。源表內(nèi)存允許存儲(chǔ)高達(dá)100個(gè)完整的測(cè)試程序，而且可以利用單一命令通過(guò)IE
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分立電阻器檢定測(cè)試系統(tǒng)的配置

  • 分立電阻器在最后的封裝狀態(tài)要進(jìn)行單點(diǎn)通過(guò)/失敗測(cè)試，這對(duì)確保產(chǎn)品符合制造商性能指標(biāo)至關(guān)重要，而且可以在出貨前識(shí)別劣質(zhì)電阻器以及輕微不良的電阻器。通常要對(duì)電阻器進(jìn)行兩項(xiàng)測(cè)試：電阻器電壓系數(shù)測(cè)試以及電阻器公
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分立電阻器介紹

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