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正確的無線電設計測試

作者: 時間:2012-04-17 來源:網(wǎng)絡 收藏

現(xiàn)今的Bluetooth電設計?裼昧艘恍┫低辰峁梗?郵褂美啾鵲鞅淶拇??F系統(tǒng),到數(shù)位IQ調(diào)變器/解調(diào)器配置不等。不論設計的配置為何,在開發(fā)產(chǎn)品的過程中都必須設法解決下列幾個問題:

本文引用地址:http://2s4d.com/article/194037.htm

• 全球的法規(guī)需求

• Bluetooth技術認證

• 簡單、高良率的制造與測試

• 與其他廠商的設計達到完美的相互操作性,他們的設計當中有些可能僅勉強符合Bluetooth規(guī)格而已

在以下的篇幅中,我們將檢視設計的一些不同特性、研發(fā)測試的意涵、以及可讓開發(fā)工作變得更容易的工具。接著,我們會說明如何執(zhí)行這些量測,并討論可預期的一些量測價值。

Bluetooth RF技術 – 概要

Bluetooth裝置會在2.402到2.48 GHz的ISM頻帶內(nèi)操作,通常是在79個通道上。它們利用一種名為0.5BT GFSK(高斯移頻鍵控)的數(shù)位調(diào)頻技術來互相進行通訊。這表示載波會以每秒100萬個符號(或位元)的速率上移157 kHz,以代表 ’1’,或下移以代表 ’0’。’0.5’ 將–3 dB的資料濾波器頻寬限定為500 kHz,藉此為?子玫?F頻譜設下限制。

兩個裝置間的通訊屬于分時雙工(TDD),意思是發(fā)射器和接收器依次在不同的時槽交替進行傳輸。此外,還使用高達1600 hops/s的超快跳頻模式,來提高可能顯得擁擠的頻帶內(nèi)的鏈路之可靠度。如果最近的U.S. FCC規(guī)定預期頻帶的用量幾乎確定會增加,那么可靠度就很重要了。

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圖1. Bluetooth RF功率波封與VCO頻率時序

圖1顯示在625µs的時槽中,傳送和接收一個366µsDH1封包的可能時序。在下方軌跡可以看到安定時間間隔。在這個間隔中,裝置必須跳至下一個通道頻率,而電壓控制振?器(VCO)必須及時安定,以便發(fā)射或接收封包資料。請注意,封包的開頭與RF叢發(fā)的上升緣并沒有直接的相關,這可以從代表可能的替代上升緣之虛線看出來。叢發(fā)的上升緣也與時槽的開頭無關。

所有的封包資料都傳送出去之后,設計可能會立刻降低功率,或等到接近時槽末端才降低功率。

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圖2. 直接調(diào)頻的VCO,類比?頻器

圖2所示的Bluetooth范例中的接收器?丫種皇褂靡桓魷倫??。;?嬌槭遣煌?杓浦惺÷曰蚪換渙慵?牟糠藎?O裾庋?納杓浦換崾褂靡桓霰鏡卣癖U器。輸出的頻率會提高一倍,而且會在接收與發(fā)射功能間切換。使用FSK可以對VCO進行簡單的直接調(diào)變?;l資料會通過高斯濾波器,并在固定的時序延遲及沒有過擊的情況下進行特性分析。脈波僅應用于發(fā)射器。使用sample-and-hold電路或相位調(diào)變器,可以防止鎖相?路(PLL)去除頻寬內(nèi)的相位調(diào)變。中頻通常會非常高,故可限制濾波器元件的實體大小,并確保IF頻率距離LO頻率夠遠,以達到滿意的影像斥拒。

當位準夠高而能過載接收器的輸入時,可以使用天線交換。

功率–T- 輸出放大器是一個選項,使用它可以提高Class 1(+20 dBm)輸出版本所需的功率。位準準確度的規(guī)格并不嚴苛,但必須小心避免產(chǎn)生過多的功率輸出,并確保電池不會發(fā)生非必要的消耗。

不論設計提供+20 dBm或較小的值,接收器都必須準備好提供接收信號強度指標(RSSI)資訊,以使不同功率等級的裝置可以相互操作。設計中像這樣的功率上下變換現(xiàn)象,可以藉由控制放大器的偏壓電流輕易地達到。

有別于DECT或GSM等TDMA系統(tǒng),Bluetooth頻譜測試并不會被閘控,以區(qū)隔功率控制和調(diào)變錯誤。量測間隔必須夠長,才能擷取上下變換與調(diào)變所造成的效應。實際上,這可能不會造成認證問題,但時閘量測可能會因為具備迅速找出瑕疵的能力而變得非常重要。

如圖3所示,有一些設計會在調(diào)變開始之前,利用非指定的?期來準備接收器。在此范例中,既不會發(fā)射1,也不會發(fā)射0。

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圖3. 在FM前所應用的功率

頻率錯誤 – Bluetooth規(guī)格中的所有頻率量測,都有賴于4µs或10µs的短閘?期,這會造成結果的差異,我們可以透過幾種方式來理解。第一,較窄的時窗代表量測頻寬的截止頻率較高,因此會在量測中包含各種雜訊結構。第二種方法是考慮錯誤結構,例如量測裝置的量化錯誤或振?器旁帶雜訊,它們在短?期中產(chǎn)生的比例會高過于較長的量測間隔,因為在后一種情況中,這些錯誤往往會被平均掉。除了晶體參考所造成的靜態(tài)錯誤之外,在設計限制中還必須考慮到這項事實。

頻率漂移 – 漂移量測將短期、10位元的相鄰資料組,與長期的跨叢發(fā)漂移結果結合在一起。如果在發(fā)射器中使用sample-and-hold設計,則此設計所造成的錯誤可能會很明顯。在其他的設計中,從4到100 kHz的多余調(diào)變成份或雜訊,可以視同圖形中的漣波。這證實是確認電源供應器已經(jīng)充分去耦的另一種方法。

調(diào)變 – 在發(fā)射器路徑中,圖2所示的VCO?裰苯擁鞅淶姆絞?。?苊?LL去除頻寬內(nèi)的調(diào)變成份,可以在傳輸時將它開啟,或使用相位錯誤更正(兩點調(diào)變)。sample-and-hold技術可能是有效的,但必須注意避免頻率漂移。除非使用數(shù)位技術來調(diào)整合成器的除頻比,否則就應校驗相位調(diào)變器,以避免不同資料碼型的調(diào)變響應缺乏平坦度。圖4顯示用于認證測試的典型調(diào)變模式。

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關鍵詞: 無線 設計測試

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