一種改進(jìn)的對(duì)抗軟錯(cuò)誤電路結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)

摘要：給出了一種改進(jìn)的基于時(shí)鐘沿的自我檢測(cè)和糾正的電路結(jié)構(gòu)，以糾正由單粒子翻轉(zhuǎn)(SEU)引起的數(shù)據(jù)錯(cuò)誤。簡(jiǎn)單概述了已有的檢測(cè)和糾正SEU的電路結(jié)構(gòu)，并在該電路的基礎(chǔ)上提出了改進(jìn)的電路結(jié)構(gòu)．以實(shí)現(xiàn)對(duì)觸發(fā)器以及SRAM等存儲(chǔ)器的實(shí)時(shí)監(jiān)控，并可以及時(shí)糾正其由于SEU引起的數(shù)據(jù)錯(cuò)誤。采用內(nèi)建命令進(jìn)行錯(cuò)誤注入模擬單粒子翻轉(zhuǎn)對(duì)電路的影響。改進(jìn)的電路與原來(lái)的電路相比，以微小的面積和較少的資源換取更高的糾錯(cuò)率。
關(guān)鍵詞：SEU；檢測(cè)和糾正；時(shí)鐘沿；FPGA；觸發(fā)器

0 引言
在一些電磁環(huán)境比較惡劣的情況下，一些大規(guī)模集成電路常常會(huì)受到干擾，導(dǎo)致不能正常工作，特別是儲(chǔ)存單元，使原來(lái)存儲(chǔ)的“0”變?yōu)?ldquo;1”，或者“1”變?yōu)?ldquo;0”，即單粒子翻轉(zhuǎn)效應(yīng)(SEU)。隨著集成電路的發(fā)展，超大規(guī)模集成電路(VLSI)是必然的發(fā)展趨勢(shì)。但是，單粒子翻轉(zhuǎn)效應(yīng)已經(jīng)嚴(yán)重影響了VLSI的發(fā)展。
由于單粒子翻轉(zhuǎn)對(duì)電路穩(wěn)定性的影響，新的電路設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)必須減少其對(duì)電路穩(wěn)定性的影響。在這些新提出的電路結(jié)構(gòu)中，比較常用的檢查和糾正單粒子翻轉(zhuǎn)的方法是三模冗余(TMR)和軟件錯(cuò)誤檢測(cè)和糾正電路。三模冗余是解決SEU影響的最有效方式，其設(shè)計(jì)原理是將要保護(hù)的電路復(fù)制成完全相同的三份，同時(shí)運(yùn)行這三部分電路，并且對(duì)該三部分電路的運(yùn)行結(jié)果進(jìn)行大數(shù)表決，表決出一個(gè)置信度高的結(jié)果輸出，同時(shí)檢測(cè)出那個(gè)冗余邏輯塊翻轉(zhuǎn)并進(jìn)行修復(fù)。但它的最大缺點(diǎn)是需要消耗大量的資源，才能實(shí)現(xiàn)該電路結(jié)構(gòu)。軟件錯(cuò)誤檢測(cè)和糾正電路的原理是根據(jù)不同的編解碼方式，實(shí)現(xiàn)對(duì)所存儲(chǔ)數(shù)據(jù)進(jìn)行檢測(cè)和糾正。最常用的海明碼方式，其設(shè)計(jì)原理是在存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)源碼中加入一些冗余碼，使這些數(shù)據(jù)源碼和數(shù)據(jù)源碼之間建立一定的關(guān)系，一旦數(shù)據(jù)源碼或是冗余碼出現(xiàn)某種錯(cuò)誤時(shí)，數(shù)據(jù)碼和冗余碼之間的關(guān)系被破壞，就形成非法編碼。接收端可以通過(guò)檢測(cè)數(shù)據(jù)碼和冗余碼來(lái)檢測(cè)數(shù)據(jù)碼的正確性，并對(duì)檢測(cè)出來(lái)的錯(cuò)誤數(shù)據(jù)源碼進(jìn)行修改。
近來(lái)，一種基于時(shí)鐘沿來(lái)檢測(cè)和糾正單粒子翻轉(zhuǎn)的電路結(jié)構(gòu)，實(shí)現(xiàn)了檢測(cè)單元占用更小的面積，使用更少的邏輯單元，實(shí)現(xiàn)相近的檢測(cè)和糾正率。本文在基于該文提出的檢測(cè)和糾錯(cuò)原理的基礎(chǔ)上，提出了一種新的可以多次檢測(cè)和糾正單粒子翻轉(zhuǎn)的電路結(jié)構(gòu)。

1 時(shí)鐘沿檢測(cè)和糾錯(cuò)電路原理
1．1 時(shí)鐘沿產(chǎn)生原理
基于時(shí)鐘沿的檢測(cè)和糾正電路原理可知，對(duì)于觸發(fā)器來(lái)說(shuō)，只有在時(shí)鐘上升沿的時(shí)候，輸出數(shù)據(jù)發(fā)生轉(zhuǎn)變才是有效的正確數(shù)據(jù)，而其他任何時(shí)刻的變化都是由于外界原因引起的信號(hào)錯(cuò)誤(本文主要是針對(duì)SEU引起的錯(cuò)誤)。該電路結(jié)構(gòu)就是基于上述原理，通過(guò)對(duì)比數(shù)據(jù)與時(shí)鐘的轉(zhuǎn)變沿來(lái)對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行檢測(cè)和糾正的，其過(guò)程可描述為時(shí)鐘沿經(jīng)過(guò)3個(gè)非門(mén)的延時(shí)，產(chǎn)生信號(hào)not_clk，該信號(hào)和時(shí)鐘信號(hào)相與產(chǎn)生1個(gè)上升沿脈沖。
1．2 錯(cuò)誤檢測(cè)和糾正電路
另外一個(gè)需要解決的重要問(wèn)題就是錯(cuò)誤的檢測(cè)和糾正。首先，該文信號(hào)的錯(cuò)誤檢測(cè)原理圖如圖1所示。時(shí)鐘產(chǎn)生的脈沖與數(shù)據(jù)翻轉(zhuǎn)產(chǎn)生的脈沖進(jìn)行比較。比較單元的核心部分可由如下表達(dá)式表述：
SEU_O=Data_pulse×Clk_pulse’ (1)
式中：Data_pulse是數(shù)據(jù)信號(hào)經(jīng)過(guò)沿檢測(cè)電路后的信號(hào)；Clk_pulse是時(shí)鐘信號(hào)經(jīng)過(guò)沿檢測(cè)電路后的信號(hào)。在時(shí)鐘上升沿時(shí)，Clk_pulse會(huì)產(chǎn)生一個(gè)正向脈沖，如果此時(shí)數(shù)據(jù)發(fā)生翻轉(zhuǎn)，Data_pulse也會(huì)產(chǎn)生一個(gè)正相脈沖，SEU_O將保持0不變，當(dāng)SEU影響，使數(shù)據(jù)發(fā)生翻轉(zhuǎn)時(shí)，Data_pulse會(huì)產(chǎn)生一個(gè)脈沖，而此時(shí)由于不是在時(shí)鐘上升沿，信號(hào)Clk_pulse將保持為1，此時(shí)的輸出信號(hào)SEU_O就被置為1。由上述分析可知，當(dāng)沒(méi)有SEU錯(cuò)誤發(fā)生時(shí)SEU_O為0；當(dāng)發(fā)生SEU錯(cuò)誤時(shí)SEU_O為1；
該文的錯(cuò)誤糾正電路原理如圖1所示，該部分電路的核心是運(yùn)用一個(gè)多路輸出選擇器來(lái)糾正觸發(fā)器的錯(cuò)誤輸出信號(hào)。多路輸出選擇器的輸入信號(hào)為SEU_O，輸出選擇信號(hào)為觸發(fā)器的輸出信號(hào)，兩個(gè)輸出信號(hào)分別連接到觸發(fā)器的復(fù)位端和清零端。
由上面的分析可知，檢測(cè)到有錯(cuò)誤發(fā)生時(shí)，SEU_O的值為1。此時(shí)，如果Q值為1(正確值應(yīng)該為0)，那么就把SEU_O的值1賦給S1，觸發(fā)器被清零，Q被置為0；如果Q值為0(正確值應(yīng)該為1)，那么把SEU_O的值1賦給S0，觸發(fā)器被置1，Q被置為1，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)Q值的糾正；如果沒(méi)有錯(cuò)誤發(fā)生時(shí)，SEU_O的值為0，此時(shí)不論觸發(fā)器的輸出信號(hào)Q為1或0，都不會(huì)對(duì)Q值產(chǎn)生影響。
為了避免檢測(cè)電路把糾正之后的Q值作為SEU引起的錯(cuò)誤值來(lái)進(jìn)行處理和糾正，該電路添加了一個(gè)觸發(fā)器，用以鎖存以前的電路狀態(tài)，如圖1所示。信號(hào)SEU_O與信號(hào)S3，S4，S5有關(guān)，可以由下述表達(dá)式表示：
SEU_O=S4×S3’×S5’ (2)

由原理圖可知，每一個(gè)時(shí)鐘上升沿到來(lái)時(shí)就會(huì)對(duì)觸發(fā)器清零，電路可以對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行檢測(cè)和糾正。若在一個(gè)時(shí)鐘周期內(nèi)，第1次發(fā)生單粒子翻轉(zhuǎn)并被檢測(cè)到SEU_O由0變?yōu)?，同時(shí)觸發(fā)器被置1，進(jìn)而SEU_O的值又變?yōu)?，糾正后的數(shù)據(jù)產(chǎn)生數(shù)據(jù)沿脈沖不會(huì)對(duì)SEU_O的值產(chǎn)生影響，從而完成這一次的數(shù)據(jù)檢測(cè)和糾正。