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幾種抗擾度試驗標(biāo)準(zhǔn)

作者: 時間:2012-04-04 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

摘要:詳細(xì)地介紹了幾種試驗的目的、方法、嚴(yán)酷度等級及要求。

本文引用地址:http://2s4d.com/article/190551.htm

關(guān)鍵詞:標(biāo)準(zhǔn)試驗

Standard of Jamming Immunity Test in Common Use

Abstract: Aims,mehtods,harshess levels and reguirements of a few jamming immunity tests are presented.

Keywords:Standard,Jamming immunity test

中圖法分類號:TN97文獻(xiàn)標(biāo)識碼:A文章編號:02192713(2000)0943508

 

  我國電磁兼容認(rèn)證工作已經(jīng)起動,第一批實施電磁兼容的產(chǎn)品類別及所含內(nèi)容也已基本確定,它們是聲音和電視廣播接收機(jī)及有關(guān)設(shè)備,信息技術(shù)設(shè)備,家用和類似用途電動、電熱器具,電動工具及類似電器、電源、照明電器、車輛機(jī)動船和火花點火發(fā)動機(jī)的驅(qū)動裝置、金融及貿(mào)易結(jié)算電子設(shè)備、安防電子產(chǎn)品、聲音和電視信號的電纜分配系統(tǒng)設(shè)備與部件,低壓電器。盡管產(chǎn)品不同,引用的產(chǎn)品族測試標(biāo)準(zhǔn)也不同,但其中的試驗內(nèi)容基本相同,它們是靜電放電、射頻輻射電磁場、脈沖群、浪涌、射頻場引起的傳導(dǎo)干擾和電壓跌落等6項。為了幫助讀者對這些標(biāo)準(zhǔn)的理解,作者試圖從試驗?zāi)康?、儀器特性要求、基本配置情況、標(biāo)準(zhǔn)試驗方法和對標(biāo)準(zhǔn)的評述等方面入手,用比較簡潔的文字介紹這些試驗,以加深對標(biāo)準(zhǔn)的理解。

1IEC61000-4-2(GB/T17626.2)靜電放電抗干擾試驗

1.1靜電放電的起因

靜電放電的起因有多種,但I(xiàn)EC61000-4-2(GB/T17626.2)主要描述在低濕度情況下,通過摩擦等因素,使人體積累了靜電。當(dāng)帶有靜電的人與設(shè)備接觸時,就可能產(chǎn)生靜電放電。

1.2試驗?zāi)康?/p>

試驗單個設(shè)備或系統(tǒng)的抗靜電干擾的能力。它模擬:

(1)操作人員或物體在接觸設(shè)備時的放電。

(2)人或物體對鄰近物體的放電。

靜電放電可能產(chǎn)生的如下后果:

(1)直接通過能量交換引起半導(dǎo)體器件的損壞。

(2)放電所引起的電場與磁場變化,造成設(shè)備的誤動作。

1.3靜電放電的模擬

圖1和圖2分別給出了靜電放電發(fā)生器的基本線路和放電電流的波形。

Qzy1-11.gif (3602 字節(jié))

圖1靜電放電發(fā)生器

Qzy1-12.gif (5149 字節(jié))

圖2靜電放電的電流波形

圖1中高壓真空繼電器是目前唯一的能夠產(chǎn)生重復(fù)與高速的放電波形的器件(放電開關(guān))。圖2是標(biāo)準(zhǔn)放電電流波形,圖中Im表示電流峰值,上升時間tr=(0.7~1)ns。放電線路中的儲能電容CS代表人體電容,現(xiàn)公認(rèn)150pF比較合適。放電電阻Rd為330Ω,用以代表手握鑰匙或其他金屬工具的人體電阻?,F(xiàn)已證明,用這種放電狀態(tài)來體現(xiàn)人體放電的模型是足夠嚴(yán)酷的。

Qzy1-21.gif (10833 字節(jié))

圖3信號發(fā)生器的輸出電壓波形

(a)未調(diào)制的射頻信號UPP=2.8VUrms=1.0V

(b)調(diào)制的射頻信號UPP=5.18VUrms=1.12V

1.4放電方式

直接放電(直接對設(shè)備的放電):接觸放電為首選形式;只有在不能用接觸放電的地方(如表面涂有絕緣層,計算機(jī)鍵盤縫隙等情況)才改用氣隙放電。

1.5試驗方法

有型式試驗(在實驗室進(jìn)行)及安裝現(xiàn)場試驗兩種,標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定以前者為主。

試驗中一般以1次/秒的速率進(jìn)行放電,以便讓設(shè)備對試驗未來得及響應(yīng)。另外正式試驗前要用20次/秒的放電速率,對被試設(shè)備表面很快掃視一遍,目的是找出設(shè)備對靜電放電敏感的部位。

試驗電壓要由低到高逐漸增加到規(guī)定值。

1.6試驗的嚴(yán)酷度等級

該試驗的嚴(yán)酷度等級見表1。

表1嚴(yán)酷度等級

等級接觸放電(kV)氣隙放電(kV)
1級2級3級4級246824815

等級的選擇取決于環(huán)境等因素,但對具體的產(chǎn)品來說,往往已在相應(yīng)的產(chǎn)品或產(chǎn)品族標(biāo)準(zhǔn)中加以規(guī)定。

1.7對試驗的評述

標(biāo)準(zhǔn)中接觸放電之所以可以用比較低的試驗電壓來進(jìn)行試驗,是因為接觸放電有著極其陡峭的上升時間,其諧波成分更豐富,對設(shè)備的考核也更嚴(yán)格。

2IEC61000-4-3(GB/T17626.3)射頻輻射電磁場的抗擾度試驗

2.1造成射頻輻射的起因

射頻輻射電磁場對設(shè)備的干擾往往是由設(shè)備操作、維修和安全檢查人員在使用移動電話時所產(chǎn)生的,其他如無線電臺、電視發(fā)射臺、移動無線電發(fā)射機(jī)和各種工業(yè)電磁輻射源(以上屬有意發(fā)射),以及電焊機(jī)、晶閘管整流器、熒光燈工作時產(chǎn)生的寄生輻射(以上屬無意發(fā)射),也都會產(chǎn)生射頻輻射干擾。

2.2試驗?zāi)康?/p>

建立一個共同的標(biāo)準(zhǔn)來評價電氣和電子設(shè)備的抗射頻輻射電磁場干擾的能力。

2.3試驗的嚴(yán)酷度等級

該試驗的嚴(yán)酷度等級見表2。

表2嚴(yán)酷度等級

等級試驗場強(qiáng)/V·m-1
123X1310待定

其中:1級為低輻射環(huán)境,如離電臺、電視臺1km以上,附近只有小功率移動電話在使用。2級為中等輻射環(huán)境,如在不近于1m處使用小功率移動電話,為典型的商業(yè)環(huán)境。3級為較嚴(yán)酷的輻射環(huán)境,如在1m左右的地方使用移動電話,或附近有大功率發(fā)射機(jī)在工作,為典型的工業(yè)環(huán)境。

移動電話工作時所產(chǎn)生場強(qiáng)的經(jīng)驗公式:式中:P為移動電話的功率,W;d為移動電話至設(shè)備的距離,m。

上述公式反映了在離設(shè)備很近的地方使用功率較大的移動電話,會給設(shè)備造成很強(qiáng)的射頻輻射電磁場的干擾。

2.4模擬試驗

隨著技術(shù)的發(fā)展,電磁環(huán)境也隨著惡化,測試頻率已由早期的(27~500)MHz,擴(kuò)展到(80~1000)MHz。其中高頻段的擴(kuò)展是與移動電話的普遍使用有關(guān),它的工作頻率現(xiàn)已擴(kuò)展到900MHz(甚至更高);對80MHz的選擇則與對測試場地的要求、對射頻功率放大器的功率要求和對天線的選用要求有關(guān)。至于80MHz以下部分,將由IEC61000-4-6標(biāo)準(zhǔn)加以補(bǔ)充。

試驗時要用1kHz正弦波進(jìn)行幅度調(diào)制,調(diào)制深度為80%,參見圖3(在早期的中不需要調(diào)制)。將來有可能再增加一項鍵控調(diào)頻(歐共體標(biāo)準(zhǔn)已采用),調(diào)制頻率為200Hz,占空比為1∶1。

2.5基本試驗儀器

(1)信號發(fā)生器(主要指標(biāo)是帶寬、有調(diào)幅功能、能自動或手動掃描、掃描點上的留駐時間可設(shè)定、信號的幅度能自動控制等)。

(2)功率放大器(要求在3m法或10m法的情況下,達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的場強(qiáng)。對于小產(chǎn)品,也可以采用1m法進(jìn)行試驗,但當(dāng)1m法和3m法的試驗結(jié)果有爭執(zhí)時,以3m法為準(zhǔn))。

(3)天線(在不同的頻段下使用雙錐和對數(shù)周期天線。國外已有在全頻段內(nèi)使用的復(fù)合天線)。

(4)場強(qiáng)測試探頭。

(5)場強(qiáng)測試與記錄設(shè)備。

當(dāng)在基本儀器的基礎(chǔ)上再增加一些諸如功率計、計算機(jī)(包括專用的控制軟件)、場強(qiáng)探頭的自動行走機(jī)構(gòu)等,可構(gòu)成一個完整的自動測試系統(tǒng)。

2.6試驗的場地

最好采用電波暗室(主要考慮場地均勻性問題。如果在這個電波暗室中還要考慮產(chǎn)品本身在工作中產(chǎn)生的電磁波騷擾測試時,則這個電波暗室還涉及到與開闊場的比對問題)。

為了保證試驗結(jié)果的可比性和重復(fù)性,要對試驗場地的均勻性進(jìn)行校驗。

2.7試驗方法

試驗在電波暗室中進(jìn)行,試驗時人員不能進(jìn)入,用工業(yè)電視監(jiān)視試品的工作情況(或從試品引出可以說明試品工作狀態(tài)的信號至測定室,由專門儀器予以判定)。暗室內(nèi)有天線(包括天線的升降塔)、轉(zhuǎn)臺、試品及工業(yè)電視攝象機(jī)。

工作人員、測定試品性能的儀器、信號發(fā)生器、功率計和計算機(jī)等設(shè)備在測定室里。高頻功率放大器則放在功放室里。

試驗中,對試品的布線非常講究,應(yīng)記錄在案,以便必要時重現(xiàn)試驗結(jié)果。

2.8場強(qiáng)、試驗距離與功率放大器之間的關(guān)系(僅

供參考)。

場強(qiáng)、試驗距離與功率放大器的關(guān)系見表3。

表3場強(qiáng)、試驗距離與功率放大器關(guān)系

功率放大器場強(qiáng)與試驗距離
25W用1m法可產(chǎn)生3V/m的場強(qiáng),當(dāng)頻率高于200MHz時,用1m法可產(chǎn)生10V/m的場強(qiáng)
100W用3m法可產(chǎn)生80%調(diào)制深度的3V/m場強(qiáng)用1m法時可產(chǎn)生10V/m的場強(qiáng)
200和500W用3m法可在1.5m×1.5m虛擬平面上產(chǎn)生10V/m場強(qiáng),當(dāng)距離縮減時,可產(chǎn)生30V/m的場強(qiáng)

3IEC61000-4-4(GB/T17626.4)電快速瞬變脈沖群的抗擾度試驗

3.1電快速瞬變脈沖群的起因及后果

電路中,機(jī)械開關(guān)對電感性負(fù)載的切換,通常會對同一電路的其他電氣和電子設(shè)備產(chǎn)生干擾。這類干擾的特點是:脈沖成群出現(xiàn)、脈沖的重復(fù)頻率較高、脈沖波形的上升時間短暫、單個脈沖的能量較低。實踐中,因電快速瞬變脈沖群造成設(shè)備故障的機(jī)率較少,但使設(shè)備產(chǎn)生誤動作的情況經(jīng)??梢?,除非有合適的對策,否則較難通過。

3.2試驗?zāi)康?/p>

進(jìn)行電快速瞬變脈沖群試驗的目的是要對電氣和電子設(shè)備建立一個評價抗擊電快速瞬變脈沖群的共同依據(jù)。

Qzy1-31.gif (2583 字節(jié))

圖4快速瞬變脈沖群發(fā)生器

注:U—高壓電源RS—波形形成電阻RC—充電電阻

Rm—阻抗匹配電阻CC—貯能電容Cd—隔直電容

 

Lfl1a.gif (3590 字節(jié))

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Qzy11-c.gif (3080 字節(jié))

圖5電快速瞬變脈沖群

(a)接50Ω負(fù)載時單個脈沖波形

(b)單脈沖重復(fù)周期

(c)脈沖群周期

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