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簡易元器件測試器

作者: 時間:2013-08-29 來源:網(wǎng)絡 收藏

器可用來晶體三極管、二極管、、(單雙向)可控硅、電容和開關的通斷特性,電路見圖1。

本文引用地址:http://2s4d.com/article/174771.htm

電路

測晶體三極管時,將引腳分別插入C、B、E,并根據(jù)三極管類型置好NPN/PNP開關,按下S1,如晶體三極管良好,相應的便會發(fā)光。

測二極管時,陽極和陰極分別接在“+”和“-”端,開關置于NPN位置,1應發(fā)光。

測LED時,將LED的陽極和陰極分別插入B、E,開關置于NPN位置,按下S1,被測LED應發(fā)光。

測單向可控硅時,將開關置于NPN位置,將引腳A、K、G分別連接C、E、B,按下S1放開后,LED1應仍保留在發(fā)光狀態(tài)。

測雙向可控硅時,將開關置于NPN位置,將引腳T1、T2、G分別連接C、E、B,按下S1,LED1應發(fā)光,松開后應熄滅。

測電容時,將電容兩端在分別連接“+”和“-”端,來回掀動NPN/PNP開關,LED1和LED2應輪流發(fā)光,表示電容良好,但不能得出電容值。

測開關通斷時,NPN/PNP開關置于任意位置,將被測開關接入“+”和“

-”,如待測開關閉合且是好的,根據(jù)NPN/PNP開關位置的不同,LED1或LED2就發(fā)光,否則開關未閉合或開關已壞。



關鍵詞: 測試 LED

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