手機(jī)芯片UV膠綁定可靠性問題分析

影響手機(jī)質(zhì)量的一個(gè)重要因素，是手機(jī)主板上芯片焊點(diǎn)的可靠性問題。為了提高芯片焊點(diǎn)的可靠性，很多知名公司都采用底部填充的工藝；而在筆記本電腦制造行業(yè)已經(jīng)成熟的UV膠綁定工藝，目前在手機(jī)領(lǐng)域還沒有得到大規(guī)模的應(yīng)用。

本文主要探討在無鉛工藝下，比較不點(diǎn)膠、UV膠綁定和底部填充對手機(jī)主板芯片的焊點(diǎn)可靠性的影響（采用滾筒跌落試驗(yàn)作可靠性驗(yàn)證和切片試驗(yàn)等進(jìn)行失效分析），同時(shí)探討手機(jī)芯片邊角UV膠綁定的相關(guān)工藝和可靠性問題。

實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)
對同一產(chǎn)品的一個(gè)批次隨機(jī)選擇6塊手機(jī)主板，實(shí)施三種工藝流程：2塊不點(diǎn)膠或底部填充，2塊對主芯片底部填充，2塊對主芯片的四個(gè)角作UV膠綁定，如表1所示：

驗(yàn)證流程
參照標(biāo)準(zhǔn)GB2423.8，選用滾筒跌落儀進(jìn)行可靠性驗(yàn)證，具體流程如下：1、確保選擇的板子通過AOI、目檢、X-Ray檢查，并通過所有功能測試；2、對選擇的6塊主板：2塊不做點(diǎn)膠；2塊做底部填充；2塊做UV膠邊角綁定，烘干固化后進(jìn)行試驗(yàn)；3、模擬手機(jī)組裝固定方式制作主板的跌落夾具； 4、按照試驗(yàn)經(jīng)驗(yàn)選擇1,000mm高度的滾筒進(jìn)行跌落試驗(yàn); 5、每跌落100次做全功能測試，直到出現(xiàn)問題為止；6、對出現(xiàn)不良的主板進(jìn)行失效分析。

試驗(yàn)結(jié)果
實(shí)際滾筒跌落試驗(yàn)結(jié)果如圖2所示。

主板跌落后測試結(jié)果：6部跌落試驗(yàn)樣機(jī)主板跌落失效信息均為無法開機(jī)。

失效分析
經(jīng)過測試技術(shù)人員對失效主板進(jìn)行分析，確認(rèn)為主芯 片或閃存失效導(dǎo)致無法開機(jī)。對失效位置進(jìn)行切片（見圖3）驗(yàn)證，結(jié)果如下：

A1板切片后，主芯片焊點(diǎn)U17在焊盤和錫球焊接處有開裂現(xiàn)象，如圖4所示。

A2板切片后，主芯片焊點(diǎn)U1在PCB側(cè)焊盤處出現(xiàn)局部開裂現(xiàn)象，如圖5所示。