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基于嵌入式的電纜故障檢測(cè)儀設(shè)計(jì)

作者: 時(shí)間:2011-03-25 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

是通信、測(cè)試等系統(tǒng)信號(hào)傳輸?shù)闹匾d體,隨著數(shù)量的增多及運(yùn)行時(shí)間的延長(zhǎng),也越來(lái)越頻繁地發(fā)生。電纜線路的隱蔽性及測(cè)試設(shè)備的局限性,使電纜的查找非常困難。本文了一種以微處理器Nios為核心的電纜,應(yīng)用A/D器件和FPGA組成可變頻率的高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng),利用低壓脈沖反射法原理來(lái)實(shí)現(xiàn)線纜的斷路、短路、斷路點(diǎn)、短路點(diǎn)的檢測(cè)與定位。該儀器可廣泛應(yīng)用于通信維護(hù)、工程施工和綜合布線,對(duì)市話電纜、同軸電纜等各種線纜進(jìn)行測(cè)試和障礙維護(hù)。

本文引用地址:http://2s4d.com/article/150926.htm

  1 系統(tǒng)總體結(jié)構(gòu)

  利用低壓脈沖反射法檢測(cè)電纜故障。主要原理是:向電纜發(fā)送一個(gè)電壓脈沖,當(dāng)發(fā)射脈沖在傳輸線上遇到故障時(shí),由于故障點(diǎn)阻抗不匹配,產(chǎn)生反向脈沖,通過(guò)計(jì)算二者的時(shí)間差△T,并分析反射脈沖的特性來(lái)進(jìn)行故障的定性與定位。該方法適用于斷線、接觸不良、低電阻或短路故障的測(cè)試。

  故障點(diǎn)距離L為:L=V·△T/2。式中,V是脈沖在電纜中的傳播速度。根據(jù)反向脈沖的極性可判斷故障性質(zhì):斷線或接觸不良引起的反向脈沖為正,低電阻或短路故障引起的反向脈沖為負(fù)。

  該儀器是一個(gè)便攜式電纜故障檢測(cè)設(shè)備,可利用現(xiàn)代電子技術(shù)(如高速A/D技術(shù)、異步FIFO技術(shù)、現(xiàn)場(chǎng)可編程邏輯陣列FPGA等)來(lái)提高集成度和靈活性。系統(tǒng)總體結(jié)構(gòu)如圖1所示。

系統(tǒng)總體結(jié)構(gòu)

圖1 系統(tǒng)總體結(jié)構(gòu)

  脈沖發(fā)生電路產(chǎn)生探測(cè)脈沖,高速的A/D轉(zhuǎn)換器對(duì)脈沖及其反射回波信號(hào)進(jìn)行采樣,使用異步FIFO作為A/D采樣數(shù)據(jù)的緩存。軟核Nios作為系統(tǒng)核心,控制檢測(cè)任務(wù)的啟動(dòng)和結(jié)束、脈沖發(fā)送接收模式的選擇、A/D采樣數(shù)據(jù)的處理計(jì)算、故障性質(zhì)和位置的判斷及顯示等。其中,軟核處理器和邏輯功能都是在現(xiàn)場(chǎng)可編程邏輯器件中編程實(shí)現(xiàn)的。

  2 功能及性能指標(biāo)

  短路測(cè)試:檢測(cè)電纜芯線之間是否有不必要的連接及其位置。

  斷路測(cè)試:檢測(cè)電纜中某芯線是否斷路及其位置。

  顯示:顯示測(cè)試結(jié)果,即測(cè)量中開(kāi)路及短路的位置。

  測(cè)量范圍:2~1000 m。

  測(cè)試精度:可選擇2 m和10 m兩種精度。

  脈沖振幅:負(fù)載開(kāi)路5 V。

  脈沖寬度:20 ns,100 ns。

  最大采樣速率:100 MHz。

  波形記錄長(zhǎng)度:1024點(diǎn)。

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