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基于FPGA的系統(tǒng)易測試性的研究

作者: 時間:2011-09-29 來源:網(wǎng)絡 收藏
快速使用View#e#

本文引用地址:http://2s4d.com/article/150147.htm

  5 快速使用View

  使用View的步驟如下所述:

  (1) 插入內(nèi)核

  這步是配置內(nèi)核,把它插入到FPGA設(shè)計中。例如,在使用ALTERA或Xilinx器件時,可以使用FPGA開發(fā)工具提供的邏輯分析儀接口編輯器,創(chuàng)建最適合自己需求的核。

  對大多數(shù)的內(nèi)核,可以指定下述參數(shù):

  ①針腳數(shù)量(pin count):表示希望專用于邏輯分析儀接口的針腳數(shù)量;

  ②組數(shù)(bank count):表示希望映射到每個針腳上的內(nèi)部信號數(shù)量;

 ?、圯敵觯东@模式(output/capture mode):選擇希望執(zhí)行的采集類型;可以選擇組合邏輯/定時模式(combina-tion/timing)或寄存器/狀態(tài)模式(registered/state);

 ?、軙r鐘(clock):如果用戶選擇了registered/state的捕獲模式,這一選項允許選擇測試內(nèi)核的取樣時鐘;

 ?、萃姞顟B(tài)(power-up state):這個參數(shù)允許指明用于邏輯分析儀接口的針腳的通電狀態(tài)。

  (2) 把測試內(nèi)核信息加載到FPGAView中

  從FPGAView軟件窗口中,可以與JTAG編程電纜建立連接,并且連接到TLA系列邏輯分析儀(TLA邏輯分析儀使用Windows平臺)或PC工作站上。

  在使用ALTERA FPGA芯片時,按打開(Open)工具條按鈕,調(diào)出一個文件瀏覽器,選擇QuartusⅡLAI Editor軟件以前生成的邏輯分析儀接口(.lai)文件。這樣就加載了與LAI核心有關(guān)的所有信息,包括每一組的信號數(shù)量、組數(shù)和信號名稱,另外如果設(shè)備中的LAI內(nèi)核多于一個,那么還包括每個LAI內(nèi)核的信息。


  (3) 把FPGA針腳映射到邏輯分析儀上


  映射FPGA針腳和TLA邏輯分析儀探頭之間的物理連接。FPGAView可以自動更新邏輯分析儀上顯示的信號名稱,與測試內(nèi)核當前監(jiān)測的信號相匹配。為此,簡單地點擊探頭(probes)按鈕,將出現(xiàn)一個拖放窗口,把測試內(nèi)核輸出信號名稱與邏輯分析儀上的相應通道連接起來。對某條目標連接,這個通道分配過程只需一次。

  (4) 進行測量

  使用組(bank)列表下拉菜單,選擇想要測量的組。一旦選擇了組,F(xiàn)PGAView會通過JTAG接口與FPGA通信,并配置測試內(nèi)核,以便選擇希望的組。

  FPGAView還將這些通道名稱通過對TLA系列邏輯分析儀的控制進行自動分配,從而可以簡便地理解測量結(jié)果。為測量不同的一套內(nèi)部信號,用戶只需選擇不同的信號組。全功能TLA系列邏輯分析儀會自動地把這些FPGA信號與中的其他信號關(guān)聯(lián)起來。

  在TLA邏輯分析儀中,針對設(shè)計人員關(guān)心的各種時間信息,提供了業(yè)內(nèi)獨有的定時參數(shù)自動測量功能,通過鼠標簡單地拖放操作,能夠得到周期、頻率、占空比、脈沖寬度、通道/通道延遲、邊沿計數(shù)、周期計數(shù)、違規(guī)計數(shù)、周期抖動、以及周期間抖動等信息。

  6 結(jié)論

  調(diào)試針對Altera和Xilinx的FPGA時用嵌入式邏輯分析儀和外部邏輯分析儀這2種方法各有其優(yōu)勢和不足,而FPGAView等新方法進一步提高了外部邏輯分析儀方法的吸引力。能夠快速方便地移動探點,而不需重新匯編設(shè)計,同時能夠把內(nèi)部FPGA信號活動與電路板級信號關(guān)聯(lián)起來,能夠較好地滿足產(chǎn)品開發(fā)周期的要求。


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關(guān)鍵詞: 研究 測試 系統(tǒng) FPGA 基于

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