使用NI TestStand、NI LabVIEW與PXI測(cè)試車(chē)輛的ECU
作者：DillonGlissmann
時(shí)間：2012-06-07
來(lái)源：電子產(chǎn)品世界
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測(cè)試系統(tǒng)的整體靈活性為用戶提供了一個(gè)的適應(yīng)性強(qiáng)并易于使用的系統(tǒng)，用于創(chuàng)建和執(zhí)行測(cè)試。NI TestStand提供了一種現(xiàn)成可用的解決方案，通過(guò)一些關(guān)鍵功能幫助我們減少了開(kāi)發(fā)時(shí)間，而LabVIEW中內(nèi)置了控制測(cè)試系統(tǒng)硬件必要的功能?！ ?/p>本文引用地址：http://2s4d.com/article/133312.htm
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