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惠瑞捷V93000平臺獲ISE Labs硅谷及德州奧斯汀廠采用

—— 進(jìn)一步擴(kuò)展雙方對于測試開發(fā)服務(wù)的合作關(guān)系
作者: 時間:2012-03-28 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  半導(dǎo)體測試設(shè)備供應(yīng)商 (Verigy) (Advantest Group 愛德萬集團(tuán)子公司)今天宣布ISE Labs 在加州費(fèi)利蒙、德州奧斯汀的測試封裝廠引進(jìn) 數(shù)位量測模組以及Pin Scale種之測試設(shè)備,進(jìn)一步擴(kuò)展雙方對于測試開發(fā)服務(wù)的合作關(guān)系。

本文引用地址:http://2s4d.com/article/130787.htm

  雙方長遠(yuǎn)結(jié)盟關(guān)系的最新計畫即為ISE Labs 奧斯汀廠將開始采用的Pin Scale 技術(shù)開發(fā)先進(jìn)的測試方法,針對最新一代低功耗安謀(ARM)架構(gòu)服務(wù)器處理器,搭配高速DDR3記憶模組、PCI Express 界面、消費(fèi)性IC 如智慧媒體芯片內(nèi)建系統(tǒng)(SOC) 設(shè)備,應(yīng)用于下一代的媒體閘道器與機(jī)上盒。為達(dá)成上述目標(biāo), ISE Labs 奧斯汀廠安裝L 級測試頭的V93000 Pin Scale 臺,在的Pin Scale 400 以及800 數(shù)位量測模組下,具備超過900 個數(shù)位信號腳位供測試。

  此外,硅谷最大的半導(dǎo)體測試實(shí)驗(yàn)室— ISE Labs 費(fèi)利蒙廠,亦引進(jìn)了兩?臺配備Pin Scale 1600數(shù)位量測模組的 ,用以測試客戶量產(chǎn)的IC。其中一套系統(tǒng)使用Pin Scale 1600 以及9G 數(shù)位量測模組,有超過1, 000 個腳位的C 級測試頭;另一個系統(tǒng)則配備惠瑞捷最小的A 級測試頭,配有512 個數(shù)位量測腳位以及MB-AV8 PLUS 類比信號量測模組。兩套系統(tǒng)均可擴(kuò)充升級,提供增加數(shù)位量測腳數(shù),或新增測量資源,如惠瑞捷的Port Scale 射頻解決方案。 ISE Labs 所采用的惠瑞捷Smart Scale 技術(shù),是硅谷測試服務(wù)供應(yīng)商中的首創(chuàng)之舉。

  ISE Labs工程與測試服務(wù)副總裁Rabbi-ul Islam 表示:「我們對于與惠瑞捷的長期合作關(guān)系,一直感到相當(dāng)滿意,也很高興能夠在奧斯汀技術(shù)中心開始實(shí)施其經(jīng)認(rèn)證的Pin Scale 技術(shù)?!?/p>

  惠瑞捷北美銷售暨支援部門副總裁Sanjeev Mohan 強(qiáng)調(diào):「能獲得ISE Labs 青睞,將新一代Smart Scale 系統(tǒng)運(yùn)用于技術(shù)開發(fā)以及商業(yè)測試服務(wù),對我們來說是一件令人振奮的消息。V93000 per-pin的彈性建置讓我們在各項(xiàng)測試應(yīng)用都能達(dá)到業(yè)界領(lǐng)先的水準(zhǔn)?!?/p>

  惠瑞捷的可擴(kuò)展Smart Scale 測試系統(tǒng)以及數(shù)位信號量測模組,展現(xiàn)最??具經(jīng)濟(jì)效益的先??進(jìn)半導(dǎo)體設(shè)計測試,包括28nm 技術(shù)節(jié)點(diǎn)及以下的3D 堆疊與IC設(shè)計。

  Pin Scale 1600 數(shù)位量測模組在測試靈活性方面開拓一個嶄新領(lǐng)域。此模組的萬用per-pin 架構(gòu),讓每個通道在測試下都能夠發(fā)揮各種裝置所需的功能,帶來最大的靈活性。 Per-pin功能包括獨(dú)立時脈網(wǎng)域、高精準(zhǔn)度的直流電與業(yè)界領(lǐng)先的數(shù)位效能,都可以透過Pin Scale 1600 進(jìn)行強(qiáng)化。

  惠瑞捷的Pin Scale 9G 針腳量測模組是唯一完全整合、高速、數(shù)位化且能夠涵蓋自直流到超過每秒8Gb,符合成本的高速測試制具。高度多樣化的Pin Scale 9G 針腳量測模組可測試包括平行或序列式、單點(diǎn)或多點(diǎn)、單向或雙向的界面。



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