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采用綜合法封裝MEMS加速儀

作者:Jian Wen Vijay Sarihan Bill Myers Gary Li   時間:2011-11-30 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  (微機(jī)電系統(tǒng))在汽車安全氣囊系統(tǒng)中作為碰撞感應(yīng)器已經(jīng)有超過十年的歷史。最近,被進(jìn)一步應(yīng)用到電子消費品中,例如手機(jī)、筆記本電腦、游戲控制器和手持PDA(個人數(shù)字助理)。產(chǎn)品需要經(jīng)歷兩種不同的制造流程,即傳感器制造和封裝流程。采用了一種表面微機(jī)械加工工藝,為加速儀感應(yīng)器芯片的制造制作可移動的指針并檢測質(zhì)量。有效地封裝器件通常會面臨許多挑戰(zhàn),并且是阻礙MEMS技術(shù)實現(xiàn)突破性增長和采用的主要因素之一[1-2]。MEMS封裝技術(shù)主要來自于微電子封裝技術(shù)。在集成電路中,封裝主要用于防止電子器件受到外部損害。MEMS封裝與此相反,它必須允許器件真正地接觸或觀察外部環(huán)境以實現(xiàn)感應(yīng)功能,同時要保護(hù)器件避免受到損害和出現(xiàn)長期的故障。感應(yīng)器封裝的難題是,除了向PC板提供一個底座外,環(huán)境或封裝對變頻器產(chǎn)生的壓力不應(yīng)當(dāng)影響傳感器的性能。

本文引用地址:http://2s4d.com/article/126481.htm

  MEMS加速儀包含一個MEMS器件,該器件與一個ASIC(專用集成電路)接口,ASIC可以將MEMS器件的電容輸出轉(zhuǎn)換為一個表示MEMS器件感受到的加速度的電壓。加速度綜合起來就是器件的速度。在安全氣囊應(yīng)用中,當(dāng)速度足夠高時,安全氣囊就會被展開。MEMS加速儀發(fā)生的任何失真,例如過度的封裝壓力或器件振動,都會導(dǎo)致在安全氣囊算法中引入錯誤的信號。安全氣囊感應(yīng)器必須響應(yīng)汽車碰撞產(chǎn)生的力量,同時隔離安全氣囊所在的振動環(huán)境的反應(yīng)。該封裝和傳感器的力學(xué)特征是非常重要的考慮因素。例如,在某些汽車應(yīng)用中,振動信號的頻率可以高達(dá)20kHz。如果封裝的一個或多個固有頻率與高能量輸入信號的頻率相同或與之接近,那么傳感器的封裝輸出信號將發(fā)生失真,甚至?xí)箓鞲衅鳟a(chǎn)生機(jī)械損傷。

  MEMS加速儀的傳感器是通過在硅基片上進(jìn)行表面微機(jī)械加工制作的。使用蝕刻空腔外罩晶圓將傳感器的活動部件與外部環(huán)境隔絕,再使用玻璃熔塊將蝕刻空腔外罩晶圓密實地粘貼到基片上。粘合的傳感器晶圓成形后,通過固晶粘合到一個銅引線框架,然后用線與ASIC芯片連接在一起。傳感器外包一層凝膠涂層,組裝完成后再經(jīng)過超模壓處理。作為成本較低的解決方案,我們選用了16個引線的SOIC封裝,ASIC芯片和感應(yīng)單元并排放置。研究發(fā)現(xiàn),引起信號失真的主要原因與封裝共振和固晶共振有關(guān)。為了解決這些封裝問題,我們采用罐封方式,并使用了硬固晶膠。遺憾的是,實施的硬固晶材料造成芯片斷裂的ppm(百萬分率)性能很低。我們采用了一種綜合學(xué)科研究法來評估工藝和材料對芯片斷裂的影響,并提供更好的解決方案來徹底解決這一問題。

  問題和解決方案

  圖1(a)展示了16引線SOIC封裝的成品封裝模型及其加速儀的橫切面。封裝由一個傳感器芯片組成,其細(xì)節(jié)構(gòu)造如圖1(b)所示,傳感器芯片與一個外罩粘合在一起,一部分外罩延伸到靠近焊線墊的基片上。ASIC和感應(yīng)單元并排放置,芯片被連接到銅引線框架。在進(jìn)行超模處理之前,使用極低模量的有機(jī)硅凝膠覆蓋整個感應(yīng)單元。



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