NI擴展PXI平臺的功能 降低半導體分析和測試成本

　　2011年8月——美國國家儀器有限公司(National Instruments，簡稱NI)擴展其PXI平臺的功能，通過新發(fā)布的每個引腳參數(shù)測量單元模塊(PPMU)和源測量單元模塊(SMU)用于半導體的特性描述和生產(chǎn)測試。NI PXIe-6556 200 MHz高速數(shù)字I / O具備PPMU， NI PXIe- 4140和NI PXIe-4141四通道的SMU可降低資本設備成本，縮短測試時間，并提升各種測試設備的混合信號靈活性。

　　使用NI PXIe-6556高速數(shù)字I / O模塊，工程師可以產(chǎn)生和獲得一個高達200 MHz的數(shù)字波形或在同一針腳上，以 1% 誤差率執(zhí)行 DC 參數(shù)測量，從而簡化布線，減少測試時間和提高直流參數(shù)測試儀的測量密度。此外，其內(nèi)置的時序校準功能可自動調(diào)整時序，幫助工程師們消除不同連線與線路長度所造成的時序偏移。NI PXIe-6556可選擇是否以其他精度更高的NI SMU切換，工程師可基于硬件或軟件觸發(fā)器，進而觸發(fā)參數(shù)測量。

　　NI PXIe-4140/41 SMU模塊可用于PXI Express插槽，提供多達4個SMU的通道，而4U的單一PXI機箱可提供多達68個SMU的通道,以輕松應對高針數(shù)設備的測試。高達每秒600,000樣本的采樣率，工程師們可以大大減少測量時間，或獲取設備重要的瞬態(tài)特性。此外，NI PXIe-4141具備新一代的SourceAdapt技術(shù)，工程師們可根據(jù)任何給定的負載自定義調(diào)整SMU輸出，以實現(xiàn)最大的穩(wěn)定性和最小的瞬態(tài)倍。傳統(tǒng)SMU技術(shù)無法提供此功能。

　　結(jié)合使用NI LabVIEW系統(tǒng)設計軟件，這些新PPMU和SMU模塊為半導體測試提供了模塊化的軟件定義測量方式，從而提高質(zhì)量，降低成本并減少整個測試驗證，特性研究和生產(chǎn)的時間。 LabVIEW具有靈活性編程語言與先進的工程工具的力量，使工程師能夠滿足特定、定制化的要求。