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Multitest推出新型MEMS測(cè)試和校準(zhǔn)設(shè)備

作者: 時(shí)間:2011-08-17 來(lái)源: 收藏
        向世界各地的集成元件制造商(IDM)和最終測(cè)試分包商,設(shè)計(jì)和制造最終測(cè)試分選機(jī)、測(cè)試座和負(fù)載板的領(lǐng)先廠商公司,已成功為其測(cè)試和校準(zhǔn)產(chǎn)品系列增加了新應(yīng)用。通過(guò)新應(yīng)用,地磁場(chǎng)傳感器無(wú)需使用GPS,即可用于創(chuàng)新移動(dòng)通信應(yīng)用和先進(jìn)導(dǎo)航應(yīng)用。

  從汽車到移動(dòng)通信/消費(fèi)應(yīng)用,這些器件越來(lái)越關(guān)注成本。新型MT設(shè)備不僅延續(xù)的模塊化概念,而且也順應(yīng)多重DOF(自由度)測(cè)試的趨勢(shì)。尤其值得注意的是,它可以與低重力加速器測(cè)試相結(jié)合。

  除了作為使用地磁場(chǎng)的一種替代方案,該應(yīng)用亦可配置外置式電磁線圈。這種配置可極其準(zhǔn)確地提供強(qiáng)磁力。

  該款適于地磁場(chǎng)傳感器測(cè)試的新設(shè)備現(xiàn)已大批量生產(chǎn)數(shù)月。性能經(jīng)現(xiàn)場(chǎng)驗(yàn)證,肯定了在MEMS測(cè)試方面的領(lǐng)先技術(shù)。


關(guān)鍵詞: Multitest MEMS 3D

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