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Intel 3 制程詳解:性能相比Intel 4 提升18%!

發(fā)布人:芯智訊 時間:2024-07-14 來源:工程師 發(fā)布文章

6月20日消息,據(jù)Tom's hard ware報道,當?shù)貢r間周三,處理器大廠英特爾宣布其 3nm 級制程工藝技術“Intel 3”已在兩個工廠投入大批量生產,并提供了有關新的制程節(jié)點更多細節(jié)信息。

據(jù)介紹,Intel 3 帶來了更高的性能和更高的晶體管密度,并支持 1.2V 電壓,相比Intel 4 采用了更多的EUV步驟,帶來了18%的性能提升,適用于超高性能應用。該節(jié)點面向英特爾自己的產品以及代工客戶。它還將在未來幾年內還將會推出Intel 3-T、Intel 3-E、Intel 3P-T等多個演進版本。

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英特爾代工技術開發(fā)副總裁 Walid Hafez 表示:“我們基于Intel 3 制程的處理器正在美國俄勒岡州工廠和愛爾蘭工廠進行大批量生產,其中就包括最近推出的面向服務器的Xeon 6 ‘Sierra Forest’和‘Granite Rapids’處理器?!?/p>

相關文章:《英特爾首款Xeon 6處理器上市:最高144個E核,能效提升66%!》

英特爾一直將其Intel 3 制程工藝定位于數(shù)據(jù)中心應用,這些應用需要通過改進的晶體管(與Intel 4 相比)、具有降低的晶體管通孔電阻的供電電路以及設計協(xié)同優(yōu)化來實現(xiàn)尖端性能。該工藝節(jié)點支持 <0.6V 低壓、以及 >1.3V 高壓以實現(xiàn)最大負載。

在性能方面,英特爾承諾,與Intel 4 相比,Intel 3將在相同功率和晶體管密度下實現(xiàn) 18% 的性能提升,這個提升幅度已經是比較大了。要知道臺積電N3制程相比N3也只提升了15%左右。

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雖然Intel 3的Contacted Poly Pitch(接觸孔的多晶硅柵極間距)、Fin Pitch、M0間距參數(shù)基本一致,芯片設計人員針對Intel 3 使用了 240nm 高性能和 210nm 高密度庫的組合,另外M2間距和M4間距均減少了2nm,從而提升了整體的密度和性能。

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此外,英特爾客戶可以在三種金屬堆棧之間進行選擇:14 層(成本優(yōu)化)、18 層(性能和成本之間的最佳平衡)以及 21 層(性能更高)。

目前,英特爾將使用其 3nm 級工藝技術來制造其 Xeon 6 處理器數(shù)據(jù)中心處理器。最終,英特爾代工廠也將利用該生產節(jié)點為其它客戶制造數(shù)據(jù)中心級一類的高性能處理器。

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另外,正如前面所指出的,除了基礎版的Intel 3制程,英特爾還將提供支持硅通孔并可用作基礎芯片的Intel 3-T。后續(xù)英特爾還將為芯片組和存儲應用提供功能增強型Intel 3-E。此外還有性能增強型Intel 3-PT,增加了9um間距TSV和混合鍵合,對晶體管堆疊技術進行優(yōu)化,據(jù)說Intel 3-PT可以再度實現(xiàn)5%的性能提升,以用于各種工作負載,例如 AI/HPC 和通用計算。

編輯:芯智訊-浪客劍


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關鍵詞: 芯片

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