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如何增強USB-C供電數(shù)據(jù)線保護(hù)?

發(fā)布人:dianlaotie 時間:2022-03-16 來源:工程師 發(fā)布文章

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摘要: USB-C 和 USB-C 供電提高了電壓和功率水平。一種新的可逆連接器,其引腳間距比 USB micro-B 更緊密,增加了短路的風(fēng)險。這與便攜式設(shè)備的日益復(fù)雜性相結(jié)合,導(dǎo)致了更高的 ESD、浪涌和過壓保護(hù)要求。在此設(shè)計解決方案中,我們提出了一款緊湊、功能齊全的保護(hù) IC,可顯著降低 BOM 并減少 PCB 空間占用。

介紹

新的 USB Type-C ? (USB-C) 電纜和連接器規(guī)范極大地簡化了我們互連和為數(shù)碼相機和超薄平板電腦等電子產(chǎn)品供電的方式(圖 1)。該規(guī)范支持高達(dá) 15W 的 USB-C 充電應(yīng)用,并且將充電功率擴展至 100W 的 USB-C 供電 (PD) 包括可互換充電的各種不同設(shè)備。USB Type-C 為保護(hù)系統(tǒng)帶來了新的挑戰(zhàn)。新連接器的間距小于 USB Micro-B 的間距,這會增加 VBUS 機械短路的風(fēng)險。此外,由于與 USB PD 相關(guān)的高電壓,需要更強大的保護(hù)。最后,電子負(fù)載的日益復(fù)雜性要求加強對 ESD 和電壓浪涌的保護(hù)。該設(shè)計解決方案回顧了 USB Type-C PD 架構(gòu)以及與 D+/D- 數(shù)據(jù)信號保護(hù)相關(guān)的挑戰(zhàn)。

圖 1. 通過 USB-C 電纜連接到平板電腦的數(shù)碼相機


USB-C PD系統(tǒng)

圖 2展示了一個典型的便攜式電源管理設(shè)備前端,該設(shè)備可連接到 USB-C 電纜并由鋰離子 (Li+) 電池供電。
當(dāng) VBUS 存在時,它為充電器、系統(tǒng)和其余模塊供電。在這個階段,電池被充電。當(dāng) VBUS 斷開時,電池為系統(tǒng)供電。對于 USB-C 電纜,CC1 和 CC2 引腳決定端口連接、電纜方向、角色檢測和端口控制。D+/D- 線是標(biāo)準(zhǔn)的 USB-C 通信線,以 480Mbps 的速度處理數(shù)據(jù),并受到 D+/D- 保護(hù)裝置的保護(hù)。PD 控制器實現(xiàn)供電協(xié)議。
圖 2. USB PD 電源管理系統(tǒng)


保護(hù)挑戰(zhàn)

電源中的電涌和靜電放電 (ESD) 很常見,可能會干擾或?qū)е码娮迂?fù)載和設(shè)備損壞。ESD 是由靜電荷從身體轉(zhuǎn)移到電子電路引起的,是手持電子設(shè)備的一個大問題。浪涌可能是由閃電引起的,也可能是在靠近雷擊的地方鋪設(shè)的長電纜中引起的。開關(guān)或繼電器會在開啟和關(guān)閉操作期間引起浪涌。負(fù)載突降是通過切斷汽車上的電池連接而產(chǎn)生的浪涌。一個好的數(shù)據(jù)線保護(hù) IC 應(yīng)該提供足夠的保護(hù)而不會顯著降低數(shù)據(jù)質(zhì)量。


綜合解決方案

例如,MAX20334是一款 2 x SPDT 開關(guān),具有過壓保護(hù)功能,適用于便攜式設(shè)備(圖 3)。該 IC 旨在保護(hù)下游數(shù)據(jù)線免受高壓短路、ESD 或浪涌事件的影響。該器件結(jié)合了便攜式電子設(shè)備中高性能開關(guān)應(yīng)用所需的低導(dǎo)通電容和低導(dǎo)通電阻。該 IC 具有內(nèi)部正過壓和浪涌保護(hù)功能。該器件可處理 USB 低/全/高速信號,并采用 2.7V 至 5.5V 電源供電。該 IC 采用 12 凸塊 (1.23mm x 1.63mm) 晶圓級封裝 (WLP),可在 -40°C 至 +85°C 擴展溫度范圍內(nèi)工作。
圖 3. 具有擴展保護(hù)的 2 個 SPDT 開關(guān)


擴展保護(hù)

ESD 保護(hù)結(jié)構(gòu)集成在所有引腳上,以防止在處理和組裝過程中遇到高達(dá) ±2kV(人體模型)的靜電放電。COMA 和 COMB(圖 2 和圖 3)進(jìn)一步受到高達(dá) ±15kV(人體模型)、±15kV(IEC 61000-4-2 中描述的氣隙放電方法)和 ±8kV(接觸放電方法中描述的接觸放電方法)的 ESD 保護(hù)IEC61000-4-2) 無損壞。ESD 結(jié)構(gòu)可承受高 ESD,無論是在正常操作中還是在設(shè)備斷電時。在 ESD 事件之后,IC 繼續(xù)工作而不會發(fā)生閂鎖。該 IC 具有 -30V 至 +45V (IEC61000-4-5) 的浪涌保護(hù)和高達(dá) +20.5V 的過壓保護(hù)。
圖 4將這種高度集成的擴展保護(hù)解決方案的 PCB 布局與提供純正電涌保護(hù)和較低 OV 和 ESD 保護(hù)的典型競爭對手器件進(jìn)行了比較。后者將需要額外的電路來滿足 ESD/浪涌/OV 規(guī)范,從而導(dǎo)致更昂貴的 BOM 和 5 倍更大的 PCB 有效面積占用。
圖 4. 擴展保護(hù)優(yōu)勢


數(shù)據(jù)的完整性

圖 5中的眼圖一目了然地顯示了數(shù)據(jù)信號的良好完整性水平,因為彎曲的藍(lán)線與禁止的紅色區(qū)域保持接近最大的距離。保護(hù) IC 的高帶寬使信號上升和下降時間和抖動的減慢最小,從而產(chǎn)生良好的誤差容限,這對于通過 USB 一致性測試很重要。
圖 5. D+/D- 眼圖


結(jié)論

USB Type-C 為我們的電子產(chǎn)品(如數(shù)碼相機和超薄平板電腦)的互連、供電和保護(hù)帶來了新的挑戰(zhàn)。新連接器的間距小于 USB Micro-B 的間距,導(dǎo)致 VBUS 機械短路的風(fēng)險增加。此外,由于與 USB PD 相關(guān)的高電壓,需要更強大的保護(hù)。最后,電子負(fù)載的日益復(fù)雜性要求加強對 ESD 和電壓浪涌的保護(hù)。在本設(shè)計方案中,我們展示了具有高達(dá) ±15kV ESD 保護(hù)、-30V 至 +45V 浪涌保護(hù)和 +20.5V 過壓保護(hù)的增強型保護(hù)器件可以單獨保護(hù)數(shù)據(jù)線,與集成度較低的器件相比,滿足 ESD/具有較低 BOM 和較小 PCB 有效面積占用的浪涌/OV 規(guī)格。


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