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polyspace test
羅克韋爾自動(dòng)化在NVIDIA GTC 2025大會(huì)上首次展示Emulate3D Factory Test
工控自動(dòng)化
羅克韋爾自動(dòng)化
NVIDIA GTC
Emulate3D Factory Test
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2025-03-19
西門子推出Tessent In-System Test,在硅片全生命周期內(nèi)實(shí)現(xiàn)先進(jìn)的確定性測(cè)試
EDA/PCB
西門子
Tessent In-System Test
確定性測(cè)試
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2024-11-13
Polyspace靜態(tài)程序代碼分析 高效遵循多重規(guī)范
汽車電子
Polyspace
靜態(tài)程序代碼分析
車用軟件
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2023-09-25
MathWorks在MATLAB和Simulink發(fā)行版2023b中推出Simulink Fault Analyzer和Polyspace Test
EDA/PCB
MathWorks
MATLAB
Simulink
Simulink Fault Analyzer
Polyspace Test
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2023-09-21
全新測(cè)量、控制、試驗(yàn)管理平臺(tái)軟件- imc STUDIO 2023
嵌入式系統(tǒng)
imc STUDIO 2023
imc Test&Measurement
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2023-05-08
新的MATLAB Test使工程師和研究人員能夠大規(guī)模開發(fā)、執(zhí)行、測(cè)量和管理MATLAB代碼中的動(dòng)態(tài)測(cè)試
嵌入式系統(tǒng)
MATLAB Test
MATLAB
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2023-03-22
e絡(luò)盟開售NI最新Test Workflow軟件
測(cè)試測(cè)量
e絡(luò)盟
NI
Test Workflow
|
2022-07-14
ADI公司收購(gòu)Test Motors,擴(kuò)展面向工業(yè)4.0的機(jī)器狀態(tài)監(jiān)控方案
ADI
Test Motors
工業(yè)4.0
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2019-11-01
羅德與施瓦茨聯(lián)合Marvin Test Solutions共同為5G波束賦型IC開發(fā)了一個(gè)交鑰匙生產(chǎn)型測(cè)試解決方案
手機(jī)與無(wú)線通信
羅德與施瓦茨
Marvin Test Solutions
5G波束賦型IC
交鑰匙生產(chǎn)型測(cè)試解決方案
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2019-07-23
C++test在對(duì)Tornado 2.2-VxWorks-5.5 simulator 下針對(duì)C++代碼單元測(cè)試
測(cè)試測(cè)量
simulator
Tornado
VxWorks
test
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2016-10-22
基于VxWorks/Linux/Android的分布式開發(fā)測(cè)試環(huán)境探索與實(shí)現(xiàn)
嵌入式系統(tǒng)
Workbench
操作系統(tǒng)
Test
Management
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2013-10-23
MathWorks 引入兩款 Polyspace 代碼驗(yàn)證新產(chǎn)品
嵌入式系統(tǒng)
MathWorks
Polyspace
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2013-09-10
基于LMS Test. Lab 的車內(nèi)聲振傳遞路徑分析
嵌入式系統(tǒng)
車內(nèi)聲振
傳遞路徑
LMS
Test.
Lab
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2013-04-09
基于LMS Test.Xpress測(cè)試系統(tǒng)的薄型天埋室內(nèi)機(jī)噪音診斷
測(cè)試測(cè)量
噪音診斷
LMS
Test.Xpress
頻譜尖峰值
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2013-02-06
C++test 7.3新功能初探 -- 靜態(tài)規(guī)則分析部分
嵌入式系統(tǒng)
規(guī)則
分析
部分
靜態(tài)
初探
7.3
新功能
test
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2012-06-20
C++test在對(duì)Tornado 2.2-VxWorks-5.5 simulator 下
測(cè)試測(cè)量
simulator
Tornado
VxWorks
test
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2012-06-20
ARM RVDS - C++test Window下的測(cè)試
測(cè)試測(cè)量
Window
RVDS
test
ARM
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2012-06-20
Test Advantage 收購(gòu)Microstats
測(cè)試測(cè)量
Test Advantage
Microstats
自動(dòng)測(cè)試設(shè)備
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2011-06-07
基于PXI和LabVIEW的FCT(Functional Circuit Test)
測(cè)試測(cè)量
Functional
LabVIEW
Circuit
Test
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2010-05-10
科利登獲《測(cè)試與測(cè)量世界》Best in Test Award
測(cè)試測(cè)量
Award
Best
in
Test
測(cè)試與測(cè)量世界
科利登
測(cè)試測(cè)量
|
2006-01-20
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