首頁  資訊  商機(jī)   下載  拆解   高校  招聘   雜志  會(huì)展  EETV  百科   問答  電路圖  工程師手冊(cè)   Datasheet  100例   活動(dòng)中心  E周刊閱讀   樣片申請(qǐng)
EEPW首頁 >> 主題列表 >> sar adc

高動(dòng)態(tài)范圍ADC:逐次逼近型抑或Σ-Δ型?

  • 工業(yè)、儀器儀表和醫(yī)療設(shè)備中使用的高性能數(shù)據(jù)采集信號(hào)鏈需要寬動(dòng)態(tài)范圍和高精度。 通過增加可編程增益放大器,或者并聯(lián)使用多個(gè)ADC,然后利用數(shù)字后處理對(duì)結(jié)果進(jìn)行平均,可以提高ADC的動(dòng)態(tài)范圍,但受制于功耗、空間
  • 關(guān)鍵字: ADC    動(dòng)態(tài)范圍    過采樣    SAR型    Σ-Δ型  

ADC應(yīng)用工程師困惑:是ENOB還是有效分辨率?

  • 您可能知道,有效位數(shù) (ENOB) 和有效分辨率都是與 ADC 分辨率有關(guān)的參數(shù)。理解它們的區(qū)別并確定哪個(gè)更具相關(guān)性,是令 ADC 用戶與應(yīng)用工程師等極為困惑的問題,經(jīng)常因此發(fā)生爭(zhēng)論。您認(rèn)為哪個(gè)更重要?ADC 的分辨率位數(shù)
  • 關(guān)鍵字: ADC    ENOB    有效分辨率  

好噪聲?壞噪聲?教你認(rèn)識(shí)ADC輸入噪聲

  • 引言所有模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)都有一定數(shù)量的折合到輸入端的噪聲——它被看作一種與無噪聲ADC的輸入端串聯(lián)的噪聲源模型。不能把折合到輸入端的噪聲與量化噪聲相混淆,量化噪聲僅在ADC處理隨時(shí)間變化的信號(hào)時(shí)有
  • 關(guān)鍵字: 微分線性誤差  輸入噪聲  ADC  

工業(yè)信號(hào)電平的單電源ADC系統(tǒng)設(shè)計(jì)

  • 連接/參考器件AD7176-2 24位、250 kSPS Sigma;-Delta;型ADC,建立時(shí)間20 mu;sAD8475 精密、可選增益、全差分漏斗放大器ADR445 5 V超低噪聲LDO XFET基準(zhǔn)電壓源評(píng)估和設(shè)計(jì)支持電路評(píng)估板AD7176-2電路評(píng)估板(EVAL-A
  • 關(guān)鍵字: 電源技術(shù)  ADC  

FPGA與ADC數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)輸出的接口及LVDS應(yīng)用訣竅

  • 現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列(FPGA)與模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)輸出的接口是一項(xiàng)常見的工程設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)。本文簡(jiǎn)要介紹各種接口協(xié)議和標(biāo)準(zhǔn),并提供有關(guān)在高速數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器實(shí)現(xiàn)方案中使用LVDS的應(yīng)用訣竅和技巧。接口方式和標(biāo)準(zhǔn)現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列
  • 關(guān)鍵字: FPGA    ADC    LVDS    JESD204    接口方式  

ADC分類及特點(diǎn)介紹

  • 在儀器儀表系統(tǒng)中,常常需要將檢測(cè)到的連續(xù)變化的模擬量如:溫度、壓力、流量、速度、光強(qiáng)等轉(zhuǎn)變成離散的數(shù)字量,才能輸入到計(jì)算機(jī)中進(jìn)行處理。這些模擬量經(jīng)過傳感器轉(zhuǎn)變成電信號(hào)(一般為電壓信號(hào)),經(jīng)過放大器放大后
  • 關(guān)鍵字: ADC    逐次逼近    SAR    Σ-Δ    雙積分  

解析ADC不同類型數(shù)字輸出及挑戰(zhàn) ― 全方位學(xué)習(xí)模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)

  • ADC不同類型數(shù)字輸出深解在當(dāng)今的模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)領(lǐng)域,ADC制造商主要采用三類數(shù)字輸出。這三種輸出分別是:互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體(CMOS)、低壓差分信號(hào)(LVDS)和電流模式邏輯(CML)。每類輸出均基于采樣速率、分辨率、
  • 關(guān)鍵字: ADC  數(shù)字輸出  全方位  模數(shù)轉(zhuǎn)換器    

ADC輸入轉(zhuǎn)換器電路分析 ― 全方位學(xué)習(xí)模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)

  • ADC輸入轉(zhuǎn)換器電路分析許多高精度模/數(shù)轉(zhuǎn)換器的輸入范圍要求介于0.0V至5.0V之間。例如,MAX1402 (18位多通道Sigma;-Delta; ADC)測(cè)量?jī)蓚€(gè)輸入之間的差值。典型的單端應(yīng)用中,該ADC將輸入電壓與固定的基準(zhǔn)電壓(例如2
  • 關(guān)鍵字: ADC  輸入  電路分析  全方位    

ADC關(guān)鍵性能指標(biāo)及誤區(qū) ― 全方位學(xué)習(xí)模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)

  • ADC關(guān)鍵性能指標(biāo)及誤區(qū)由于ADC產(chǎn)品相對(duì)于網(wǎng)絡(luò)產(chǎn)品和服務(wù)器需求小很多,用戶和集成商在選擇產(chǎn)品時(shí)對(duì)關(guān)鍵指標(biāo)的理解難免有一些誤區(qū),加之部分主流廠商刻意引導(dǎo),招標(biāo)規(guī)范往往有不少非關(guān)鍵指標(biāo)作被作為必須符合項(xiàng)。接下
  • 關(guān)鍵字: ADC  性能指標(biāo)  全方位  模數(shù)轉(zhuǎn)換器    

JESD204B轉(zhuǎn)換器內(nèi)確定性延遲解密

  • 對(duì)于需要一系列同步模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)的高速信號(hào)采樣和處理應(yīng)用,轉(zhuǎn)換器具有去相位偏移和匹配延遲變化的能力至關(guān)重要。圍繞該特性展開的系統(tǒng)設(shè)計(jì)極為關(guān)鍵,因?yàn)閺哪M采樣點(diǎn)到處理模塊之間的任何延遲失配都會(huì)使性能下
  • 關(guān)鍵字: JESD204B    ADC    FPGA  

用于±10 V輸入的12位、300 kSPS、單電源、完全隔離式數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)

  • 連接/參考器件AD8606/ 精密、低噪聲、雙通道CMOS、軌到軌輸入/輸出運(yùn)算放大器AD7091R/ 1 MSPS、超低功耗、12位ADCADuM5401/ 集成DC/DC轉(zhuǎn)換器的四通道2.5 kV隔離器12位、300 kSPS、單電源、完全隔離式數(shù)據(jù)采集系統(tǒng),
  • 關(guān)鍵字: 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)    運(yùn)算放大器    ADC    隔離式    單電源  

大信號(hào)輸出的硅應(yīng)變計(jì)與模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)的接口實(shí)現(xiàn)方法

  • 電橋是精密測(cè)量電阻或其他模擬量的一種有效的方法。本文介紹了如何實(shí)現(xiàn)具有較大信號(hào)輸出的硅應(yīng)變計(jì)與模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)的接口,特別是Sigma;-Delta; ADC,當(dāng)使用硅應(yīng)變計(jì)時(shí),它是一種實(shí)現(xiàn)壓力變送器的低成本方案  
  • 關(guān)鍵字: ADC  大信號(hào)  硅應(yīng)變計(jì)  模數(shù)轉(zhuǎn)換器    

基于單片機(jī)的數(shù)控恒流源系統(tǒng)設(shè)計(jì)

  • 摘要:主要介紹了一種高穩(wěn)定性恒流源系統(tǒng)的設(shè)計(jì)方案,該系統(tǒng)在負(fù)載為1Omega;~15Omega;時(shí),恒流輸出可調(diào)范圍0A~1A,且恒流源電流可以在該范圍內(nèi)任意設(shè)定,精度為plusmn;3mA。該恒流源系統(tǒng)主要由PIC單片機(jī)電路、A
  • 關(guān)鍵字: PIC單片機(jī)  ADC  DAC  恒流源  

用于低噪聲CMOS圖像傳感器的流水線ADC設(shè)計(jì)及其成像驗(yàn)證

  • 摘要:在對(duì)低噪聲CMOS圖像傳感器的研究中,除需關(guān)注其噪聲外,目前數(shù)字化也是它的一個(gè)重要的研究和設(shè)計(jì)方向,設(shè)計(jì)了一種可用于低噪聲CMOS圖像傳感器的12 bit,10 Msps的流水線型ADC,并基于0.5mu;m標(biāo)準(zhǔn)CMOS工藝進(jìn)行
  • 關(guān)鍵字: CMOS  ADC  低噪聲  成像驗(yàn)證    

SoC內(nèi)ADC子系統(tǒng)集成驗(yàn)證挑戰(zhàn)

  • 現(xiàn)實(shí)世界的本質(zhì)就是模擬。我們需要從周圍世界采集的任何信息始終是一個(gè)模擬值。但要在微處理器內(nèi)處理模擬數(shù)據(jù)需要先將這些數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為數(shù)字形式。因此,SoC中使用多種不同的ADC(模數(shù)轉(zhuǎn)換器)。根據(jù)幾個(gè)參數(shù)(即吞吐量、
  • 關(guān)鍵字: SoC    ADC    驗(yàn)證  
共1023條 14/69 |‹ « 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 » ›|

sar adc介紹

您好,目前還沒有人創(chuàng)建詞條sar adc!
歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對(duì)sar adc的理解,并與今后在此搜索sar adc的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

熱門主題

樹莓派    linux   
關(guān)于我們 - 廣告服務(wù) - 企業(yè)會(huì)員服務(wù) - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案:1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473