jtag 文章進(jìn)入jtag技術(shù)社區(qū)

TMS320C2XX及其在寬帶恒定束寬波束形成器中的應(yīng)用

TMS320C2XX及其在寬帶恒定束寬波束形成器中的應(yīng)用,自1984年我國(guó)引進(jìn)國(guó)外數(shù)字信號(hào)處理器件以來(lái)，數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)在諸多領(lǐng)域得到了推廣和應(yīng)用，并取得了可喜的成果。特別是美國(guó)TI公司的TMS320系列產(chǎn)品，擁有廣大的用戶群并在其應(yīng)用中積累了豐富的經(jīng)驗(yàn)和技術(shù)支持。為了
關(guān)鍵字：束形成器應(yīng)用束寬波恒定及其寬帶 TMS320C2XX 數(shù)字信號(hào)處理波束形成 JTAG 邏輯掃描電路軟件

JTAG控制電路的應(yīng)用與研究

所有邏輯器件的廠商生產(chǎn)的器件都支持JTAG加載電路,它是一種通用的加載電路.幾乎所有的邏輯工程師或硬件開(kāi)發(fā)工程師都曾被這種簡(jiǎn)單的JTAG控制電路困惑過(guò).本人通過(guò)多次的現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用,把JTAG電路的應(yīng)用技巧總結(jié)如下.(以ALTE
關(guān)鍵字： JTAG 控制電路

JTAG測(cè)試(05-100)

　　現(xiàn)在,邊界掃描技術(shù)可用于以器件為中心方式的測(cè)試中,使得在開(kāi)發(fā)、調(diào)試和生產(chǎn)測(cè)試環(huán)境中采用JTAG(聯(lián)合測(cè)試行動(dòng)組)測(cè)試技術(shù)。
關(guān)鍵字：測(cè)試測(cè)量 JTAG 聯(lián)合測(cè)試行動(dòng)組 XJTAG

基于JTAG的DSP外部FLASH在線編程與引導(dǎo)技術(shù)

在以DSP為核心的數(shù)字信號(hào)處理系統(tǒng)中，通常將可執(zhí)行代碼存放在非易失性存儲(chǔ)器，在系統(tǒng)加電或復(fù)位時(shí)通過(guò)DSP的引導(dǎo)...
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用FPGA動(dòng)態(tài)探頭與數(shù)字VSA對(duì)DSP實(shí)時(shí)分析

隨著FPGA在數(shù)字通信設(shè)計(jì)領(lǐng)域（蜂窩基站、衛(wèi)星通信和雷達(dá)）的高性能信號(hào)處理電路中成為可行的選擇,分析和...
關(guān)鍵字： FPGA 探頭 DSP VSA FFT JTAG 邏輯分析儀

ADSP-21262型DSP的監(jiān)控設(shè)計(jì)

　　1 引言　　隨著數(shù)字信號(hào)處理理論的日趨完善和超大規(guī)模集成電路技術(shù)的飛速發(fā)展,在各種實(shí)時(shí)處理應(yīng)用需求的推動(dòng)下,數(shù)字信號(hào)處理器(DSP)也得到了越來(lái)越廣泛的應(yīng)用。　　DSP的監(jiān)控是DSP開(kāi)發(fā)和應(yīng)用中十分重要的環(huán)節(jié)。目前在DSP的開(kāi)發(fā)過(guò)程中,最常用的方式是通過(guò)購(gòu)買處理器的JTAG仿真器和開(kāi)發(fā)軟件包實(shí)現(xiàn)對(duì)DSP的調(diào)試和監(jiān)控。JTAG調(diào)試工具的功能十分強(qiáng)大,對(duì)于不熟悉DSP內(nèi)部結(jié)構(gòu)和細(xì)節(jié)的開(kāi)發(fā)者而言是一種非常不錯(cuò)的選擇。但是此種方法也有其缺陷：首先,開(kāi)發(fā)成本比較昂貴,一般購(gòu)買正版仿真器和軟件包的價(jià)格都在
關(guān)鍵字： DSP 監(jiān)控 JTAG PC

JTAG基本原理及仿真器性能比較

JTAG基本原理及仿真器性能比較,簡(jiǎn)要介紹JTAG的基本概念及主要應(yīng)用；以簡(jiǎn)易JTAG為例、通過(guò)對(duì)JD4480X和STR710目標(biāo)板的JTAG原理圖進(jìn)行對(duì)比分析，詳細(xì)介紹JTAG的基本工作原理；并對(duì)簡(jiǎn)易JTAG與仿真器的性能進(jìn)行了分析比較。
關(guān)鍵字：性能比較仿真器原理基本 JTAG

利用JTAG OCD加速Linux設(shè)備開(kāi)發(fā)

　　引言　　傳統(tǒng)上，調(diào)試嵌入式Linux產(chǎn)品需要將硬件和軟件工具結(jié)合起來(lái)，如用JTAG工具進(jìn)行硬件bring-up，用基于代理(agent-based)的解決方案進(jìn)行軟件開(kāi)發(fā)。這些JTAG和基于代理的工具相結(jié)合的方法通?？梢越鉀Q單點(diǎn)問(wèn)題，但它們最初并不是專門針對(duì)集成化的Linux開(kāi)發(fā)而設(shè)計(jì)的。因而，在當(dāng)今集成化的產(chǎn)品開(kāi)發(fā)中，這些傳統(tǒng)方法常常是不可行的。　　但是，我們可以在Linux內(nèi)核的配置、補(bǔ)丁管理以及在基于Eclipse的IDE環(huán)境中的用戶空間應(yīng)用開(kāi)發(fā)、調(diào)試和分析之中，將傳統(tǒng)JTAG硬件調(diào)試融
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微處理器和JTAG總線橋接接口(06-100)

　　數(shù)字邏輯設(shè)計(jì)人員在實(shí)現(xiàn)設(shè)計(jì)目標(biāo)時(shí)有不少工具可用。為適應(yīng)所需的大量邏輯數(shù)和數(shù)據(jù)率，設(shè)計(jì)人員可選用FPGA。FPGA在相對(duì)小的空間內(nèi)，以多引腳數(shù)封裝提供巨大數(shù)量的數(shù)字邏輯門。　　在印刷電路板(PCB)放置多個(gè)多引腳FPGA和其他器件，確保所有互連的完整無(wú)損是比較困難的。在制造中用X射線技術(shù)可以檢驗(yàn)大概的互連問(wèn)題，而需要更精確的方法來(lái)檢測(cè)制造、調(diào)試和復(fù)雜PCB更換的互連問(wèn)題。　　一種方法是JTAG(IEEE1149.1)技術(shù)。JTAG(聯(lián)合測(cè)試行動(dòng)組)功能包括基本的輸入/輸出邊界掃描控制(由114
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JTAG接口在嵌入式中的作用

1用于燒寫(xiě)FLASH 燒寫(xiě)FLASH的軟件有很多種包括jatg.exe fluted flashpgm等等，但是所有這些軟件都是通過(guò)jtag接口來(lái)燒寫(xiě)flash的，由于pc機(jī)上是沒(méi)有jtag接口的，所以利用并口來(lái)傳遞信息給目標(biāo)板的jtag接口。所以就需要并口轉(zhuǎn)jtag接口的電路。 2 用于調(diào)試程序同時(shí)應(yīng)該注意到j(luò)tag接口還可以用來(lái)調(diào)試程序。而調(diào)試程序（如ARM開(kāi)發(fā)組件中的AXD）為了通過(guò)jtag接口去調(diào)試目標(biāo)板上的程序，同樣是使用pc的
關(guān)鍵字： JTAG 接口嵌入式系統(tǒng) 單片機(jī) 嵌入式

華邦電子發(fā)布工業(yè)控制用8位控制器Rich系列

　　華邦電子推出新款8位控制器Rich系列：W79E217/W79E227/W79E225。Rich系列采用4個(gè)頻率執(zhí)行一條指令周期的華邦8051核心為基礎(chǔ)，內(nèi)建64K/64K/16K閃存，具備高度整合外圍功能(如10位ADC、UART、I2C與SPI串口接口、PWM、內(nèi)部復(fù)位等)，并整合了眾多關(guān)鍵特性，包括有：執(zhí)行速度快、高抗干擾、工業(yè)規(guī)格等等，適合在要求高性能和高質(zhì)量的通用嵌入式應(yīng)用。　　Rich系列設(shè)計(jì)方案對(duì)于要求封裝體積小又要有足夠I/O及記憶容量之應(yīng)用，提供一個(gè)典型的解決方案，此系列產(chǎn)品可適
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多核調(diào)試新方法探討

　　對(duì)于嵌入式裝置而言，多核技術(shù)可以提供更高的處理器性能、更有效的電源利用率，并且占用更少的物理空間，因而具有許多優(yōu)勢(shì)。　　要想充分發(fā)揮多核以及多處理解決方案的潛能，僅僅擁有高性能的芯片是不夠的，還需要采用新的編程方法、調(diào)試方法和工具。在傳統(tǒng)上，JTAG技術(shù)主要是用于硬件調(diào)試，如今也常常用于基于代理的調(diào)試(Agent-based debugging)。然而，在多核和多處理的環(huán)境中，片上調(diào)試(On-chip debugging)正在扮演著越來(lái)越重要的角色。　　多核軟件調(diào)試的難點(diǎn) 　　多核環(huán)境顯著增
關(guān)鍵字： 0712_A 雜志_技術(shù)長(zhǎng)廊多核內(nèi)存 JTAG MCU和嵌入式微處理器

什么是JTAG及JTAG接口簡(jiǎn)介

1 JTAG(Joint Test Action Group;聯(lián)合測(cè)試行動(dòng)小組)是一種國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試協(xié)議（IEEE 1149.1兼容），主要用于芯片內(nèi)部測(cè)試。現(xiàn)在多數(shù)的高級(jí)器件都支持JTAG協(xié)議，如DSP、FPGA器件等。標(biāo)準(zhǔn)的JTAG接口是4線：TMS、TCK、TDI、TDO，分別為模式選擇、時(shí)鐘、數(shù)據(jù)輸入和數(shù)據(jù)輸出線。 JTAG最初是用來(lái)對(duì)芯片進(jìn)行測(cè)試的，JTAG的基本原理是在器件內(nèi)部定義一個(gè)TAP（Test Access&n
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選擇合適的嵌入式系統(tǒng)軟、硬件調(diào)試工具

嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員正同時(shí)面臨著調(diào)試工具的漸變和劇變。在漸變方面，調(diào)試工具正遵循著一般的設(shè)計(jì)趨勢(shì)，向標(biāo)準(zhǔn)化開(kāi)放式系統(tǒng)邁進(jìn)。而劇變則可能表現(xiàn)在操作層面，因?yàn)殚_(kāi)發(fā)人員在向嵌入式調(diào)試工具中增加無(wú)線連接功能。嵌入式系統(tǒng)需要兩種調(diào)試形式，其中一種基于軟件，另一種則以硬件為中心。而且，業(yè)界在這兩方面都已經(jīng)做了大量標(biāo)準(zhǔn)化工作。其中，基于軟件的調(diào)試正在轉(zhuǎn)向一種基于Eclipse框架的開(kāi)放式系統(tǒng)方法。大多數(shù)軟件開(kāi)發(fā)工具公司現(xiàn)在都有相應(yīng)的插件，使其調(diào)試工具成為Eclipse集成開(kāi)發(fā)環(huán)境(IDE)的一部分。例如，由
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Tensilica獲ByteTools JTAG仿真器支持

ByteTools和Tensilica 公司今天共同宣布，Tensilica Diamond標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)核和Xtensa可配置處理器內(nèi)核的所有客戶可以開(kāi)始獲得ByteTools公司為Tensilica設(shè)計(jì)的低成本Catapult JTAG probe。用戶不需要安裝任何額外的軟件，只需采用Tensilica 提供的軟件開(kāi)發(fā)工具，既可使用Catapult Probe。Catapult Probe 的接口是標(biāo)準(zhǔn)的XOCD 14
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jtag介紹

　　JTAG是英文“Joint Test Action Group（聯(lián)合測(cè)試行為組織）”的詞頭字母的簡(jiǎn)寫(xiě)，該組織成立于1985 年，是由幾家主要的電子制造商發(fā)起制訂的PCB 和IC 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。JTAG 建議于1990 年被IEEE 批準(zhǔn)為IEEE1149.1-1990 測(cè)試訪問(wèn)端口和邊界掃描結(jié)構(gòu)標(biāo)準(zhǔn)。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了進(jìn)行邊界掃描所需要的硬件和軟件。自從1990 年批準(zhǔn)后，IEEE 分別于1993 年和 [ 查看詳細(xì) ]