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測試 文章 最新資訊

應(yīng)用材料公司推出全新SEMVision G4缺陷再檢測系統(tǒng)

  •   近日,應(yīng)用材料公司推出最先進(jìn)的缺陷再檢測SEM(掃描電子顯微鏡)SEMVision™ G4系統(tǒng),它將應(yīng)用材料公司非常成功的SEMVision系統(tǒng)的技術(shù)和生產(chǎn)能力提升到45納米及更小的技術(shù)節(jié)點(diǎn)。SEMVision G4系統(tǒng)的關(guān)鍵在于全新的SEM聚焦離子槍技術(shù)和增強(qiáng)的多視角SEM成像系統(tǒng)(MPSI),他們具有卓越的2納米物理精度,能提供無與倫比的成像質(zhì)量,其每秒一個(gè)缺陷的檢測速度也設(shè)定了新的基準(zhǔn)。   應(yīng)用材料公司工藝診斷和控制事業(yè)部SEM部門總經(jīng)理Ronen Benzion表示:“45納米
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TD測試百舸爭流 3G商用蓄勢待發(fā)

  •   TD-SCDMA產(chǎn)業(yè)每一階段的測試都牽動(dòng)著業(yè)內(nèi)企業(yè)的神經(jīng),不論是設(shè)備制造商還是芯片商,抑或是終端提供商,都在緊盯著中國3G這塊“蛋糕”伺機(jī)而動(dòng)。2007年針對TD-HSDPA、TD-SCDMA與GSM切換的測試正在電信研究院的組織下進(jìn)行。今年9-10月的測試側(cè)重在單小區(qū)的應(yīng)用情況,11月側(cè)重在多小區(qū)的全網(wǎng)優(yōu)化和網(wǎng)絡(luò)覆蓋。進(jìn)入12月,電信研究院又在北京懷柔開始對TD-HSDPA進(jìn)行測試,此次測試的重點(diǎn)放在了HSDPA的高速下載和GSM/TD-SCDMA的切換功能。TD-HSDPA作為TD-SCDMA的后
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基于SHT11的混凝土結(jié)構(gòu)環(huán)境溫濕度測量系統(tǒng)的設(shè)計(jì)

  •   摘 要:本文首先介紹了SHT11的內(nèi)部結(jié)構(gòu)、測量原理,然后給出了采用SHT11和PIC16F73構(gòu)成的溫濕度測量系統(tǒng)的硬件接口電路。并使用VB編制的界面進(jìn)行實(shí)時(shí)溫濕度顯示。   關(guān)鍵詞:SHT11;溫濕度監(jiān)測系統(tǒng);PIC16F73;Visual Basic   引言   為了有效地開展現(xiàn)代混凝土結(jié)構(gòu)耐久性的基礎(chǔ)研究,揭示混凝土結(jié)構(gòu)生命全過程的損傷演變規(guī)律,從根本上改善混凝土工程的耐久性,保證其應(yīng)有的使用壽命,對混凝土使用環(huán)境進(jìn)行溫濕度檢測顯得尤為重要。   通常使用熱敏電阻和濕敏電容來分別測量
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安捷倫更新先進(jìn)設(shè)計(jì)系統(tǒng)EDA軟件加強(qiáng)串行鏈路設(shè)計(jì)能力

  •   安捷倫科技推出先進(jìn)設(shè)計(jì)系統(tǒng)(ADS)高頻電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化(EDA)軟件的第3個(gè)更新版本(Update 3)。其新增特性包括串行器/解串器(SERDES)/Verilog模擬混合信號(AMS)協(xié)同仿真以及其他信號完整性能力,可為設(shè)計(jì)人員提供一個(gè)更完整的串行鏈路信號完整性設(shè)計(jì)流程,使他們能夠確定模擬元器件和數(shù)字元器件將會(huì)協(xié)同工作。   安捷倫EEsof EDA部門產(chǎn)品營銷經(jīng)理Sanjeev Gupta表示:“這是連續(xù)第三次更新的ADS版本,我們?yōu)樾盘柾暾栽O(shè)計(jì)人員添加了新的功能。通過協(xié)同仿真和使用ADS中
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KLA-Tencor推出達(dá)到關(guān)鍵性45nm晶片幾何度量要求的完整度量解決方案

  •   KLA-Tencor 公司推出了 WaferSight 2,這是半導(dǎo)體行業(yè)中第一個(gè)讓晶片供應(yīng)商和芯片制造商能夠以 45nm 及更小尺寸所要求的高精度和工具匹配度,在單一系統(tǒng)中度量裸晶片平面度、形狀、卷邊及納米形貌的度量系統(tǒng)。憑借業(yè)界領(lǐng)先的平面度和納米形貌測量精度,加之更高的工具到工具匹配度,WaferSight 2 讓晶片供應(yīng)商能夠率先生產(chǎn)下一代晶片,并讓集成電路 (IC) 制造商對未來晶片質(zhì)量的控制能力更具信心。   領(lǐng)先的光刻系統(tǒng)供應(yīng)商的研究表明,在 45nm 工藝中,晶片平面度的細(xì)微差異會(huì)消耗
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基于虛擬儀器的胎兒心電圖儀的研制

  •   介紹了一種基于虛擬儀器的電腦胎兒心電圖系統(tǒng)。該系統(tǒng)由兩部分組成:以PIC單片機(jī)為核心硬件的數(shù)據(jù)采集裝置和PC平臺(tái)的處理系統(tǒng)。   硬件電路功耗低,直接采用端口供電。軟件平臺(tái)采用可視化語言LabView6.1編程實(shí)現(xiàn),由于使用其大量成熟軟件模塊,大大提高了開發(fā)效率。介紹了LabView實(shí)現(xiàn)的匹配濾波器等算法,并改進(jìn)了匹配濾波的模板更新。臨床試用取得了滿意效果。   1 前言   虛擬儀器是機(jī)技術(shù)與儀器相結(jié)合產(chǎn)生的一種新型儀器模塊,它通常是由計(jì)算機(jī)、模塊化的功能硬件與帶有數(shù)據(jù)處理、過程控制的可視化軟
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仿真軟件Multisim與PSpice在電路設(shè)計(jì)中的功能比較

  •   隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)的迅速發(fā)展,計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)技術(shù)(CAD)已滲透到電子線路設(shè)計(jì)的各個(gè)領(lǐng)域,包括電路圖生成、邏輯模擬、電路分析、優(yōu)化設(shè)計(jì)、最壞情況分析、印刷板設(shè)計(jì)等。目前國際上比較流行兩個(gè)仿真軟件:Multisim (EWB的版本)和PSpice。通過對兩個(gè)軟件的認(rèn)真學(xué)習(xí)和反復(fù)比較,發(fā)現(xiàn)二者存在很多差異,下面進(jìn)行一一說明。   1 Muitisim與PSpice元器件的異同   Muhisim的元器件分為電源/信號源元器件、虛擬元器件和真實(shí)元器件3種,電源/信號源器件大多放在電源分類庫中;虛擬元器件,其
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450A接觸電流測試儀測試網(wǎng)絡(luò)和數(shù)據(jù)采集的設(shè)計(jì)

  •   1.引言   隨著社會(huì)的發(fā)展,人們使用的家用電器越來越多,品種和范圍也越來越廣,家用電器安全的重要性不言而喻。而防觸電是所有安全標(biāo)準(zhǔn)中最基本也是最重要的要求,家電產(chǎn)品的接觸電流就是關(guān)于電器安全方面要求的內(nèi)容之一,在中國強(qiáng)制認(rèn)證(簡稱CCC認(rèn)證)中也是產(chǎn)品安全型式認(rèn)可試驗(yàn)的主要測試項(xiàng)目,以及生產(chǎn)企業(yè)確認(rèn)檢查的測試項(xiàng)目。450A接觸電流測試儀就是一款專業(yè)用于測量接觸電流的儀器。   2.定義   接觸電流:當(dāng)人體或動(dòng)物接觸一個(gè)或多個(gè)裝置的或設(shè)備的可觸及零部件時(shí),流過他們身體的電流。   模擬人體阻
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精確測量 PFM 模式效率

  •   摘要   對使用脈沖頻率調(diào)制的 DC-DC 轉(zhuǎn)換器效率進(jìn)行測量時(shí),必須注意要保證測量的準(zhǔn)確性。鑒于工作在 PFM 模式下的轉(zhuǎn)換器的性質(zhì),對測量的準(zhǔn)確性要求極高的測量設(shè)置不同于對工作在 PWM 模式下器件的測量設(shè)置。不正確的測量設(shè)置會(huì)導(dǎo)致與德州儀器 (TI) 提供的產(chǎn)品說明書參數(shù)差別較大的效率測量數(shù)據(jù)。   本應(yīng)用報(bào)告包括一些能幫助用戶獲得精確效率測量數(shù)據(jù)的指導(dǎo)方法,以及一個(gè)對 TPS61020 進(jìn)行測量的例子。   1、引言   脈沖頻率調(diào)制 (PFM) 是一種轉(zhuǎn)換方法,通常被應(yīng)用于 DC-D
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基于虛擬儀器的電磁輻射自動(dòng)監(jiān)測系統(tǒng)

  •   1.前吾   近年來隨著科學(xué)技術(shù)和經(jīng)濟(jì)的不斷發(fā)展,各種電器設(shè)備的廣泛應(yīng)用,電磁輻射作為一個(gè)重要的干擾和污染因素已越來越引起人們的高度重視,研究表明電磁輻射不但對人們的生產(chǎn)活動(dòng)產(chǎn)生影響而且嚴(yán)重地危害了人們的健康。為了有效地防治電磁輻射帶來的危害,促進(jìn)生產(chǎn)生活的正常進(jìn)行,就必須對可能產(chǎn)生電磁污染一些主要的上作崗位、生產(chǎn)生活場所進(jìn)行電磁輻射監(jiān)測,以便能即時(shí)了解這些場所的污染情況并作出及時(shí)處理,為查找輻射污染源,提出防止輻射污染的有效措施提供較為可靠的事實(shí)依據(jù)。   由于電磁輻射監(jiān)測多為長時(shí)間的實(shí)時(shí)監(jiān)測,
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二極管激光器在尾氣遙感監(jiān)測中的應(yīng)用

  •   1.引言   機(jī)動(dòng)車尾氣的遙感監(jiān)測,因其能在機(jī)動(dòng)車正常行駛情況下監(jiān)測機(jī)動(dòng)車的瞬時(shí)排放而收到廣泛關(guān)注和研究。自1989年,美國Denwer大學(xué)研制出第一臺(tái)遙感監(jiān)測設(shè)備開始,遙感監(jiān)測技術(shù)已經(jīng)從基于非分光紅外技術(shù)(nondispersion infrared, NDIR)發(fā)展到基于可調(diào)諧二極管激光器(tunablediode laser,TDL)技術(shù)[1],檢測污染物種類從單一的co發(fā)展到CO、HC和Nox均能有效監(jiān)測。遙感監(jiān)測技術(shù)在各國均開始有益的試驗(yàn)研究和實(shí)際應(yīng)用[2]。   本文從光學(xué)原理人手介紹
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安捷倫改進(jìn)第一款DisplayPort源端一致性測試和表征測試解決方案

  •   安捷倫推出Infiniium DSO 80000 系列示波器的DisplayPort(顯示端口)一致性測試軟件的擴(kuò)展。該 1.5版軟件在原軟件提供的擴(kuò)展源端和電纜終端物理層測試基礎(chǔ)上,為鏈路層一致性測試增加了更多可控一致性測試和其它驗(yàn)證測試。這些為一致性測試和表征測試增加的自動(dòng)測量在速度和易用性上取得了明顯進(jìn)展。   Agilent U7232A 1.5版一致性測試軟件提供嚴(yán)格遵從DisplayPort一致性測試規(guī)范(CTS)的一致性測試。該軟件提供三種物理層測試模式:   在第一種模式中,工程師
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安捷倫科技擴(kuò)展其DisplayPort(顯示端口)測試解決方案

  •   安捷倫科技宣布擴(kuò)展其DisplayPort(顯示端口)測試解決方案,這是為源端和接受端的設(shè)計(jì)、表征、調(diào)試及一致性測試推出的最靈活和最全面的解決方案。工程師因此能加快新個(gè)人計(jì)算機(jī)顯示器的開發(fā)周期和上市時(shí)間。   安捷倫為源端和接受端測試提供DisplayPort測試解決方案包括 DSO80804B Infiniium示波器和 E4887A TMDS 信號發(fā)生器,它已作為符合一致性測試規(guī)范(CTS)描述的源端和接受端一致性測試實(shí)現(xiàn)方法(MOI)提交給視頻電子標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)(VESA)。   Display
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三季磁盤存儲(chǔ)系統(tǒng)容量增長近50%

  •   市場調(diào)研廠商IDC在本周四發(fā)表的一份報(bào)告中表示,今年第三季度銷售的磁盤存儲(chǔ)系統(tǒng)容量較上年同期增長了近50%,在大多數(shù)類型的磁盤存儲(chǔ)系統(tǒng)領(lǐng)域,EMC仍然是領(lǐng)頭羊。   IDC在一份新聞稿中說,第三季度銷售的磁盤存儲(chǔ)系統(tǒng)━━包括內(nèi)置和外圍系統(tǒng),網(wǎng)絡(luò)連接存儲(chǔ)(NAS)、開放存儲(chǔ)區(qū)域網(wǎng)絡(luò)(Open SAN)的容量達(dá)到了1.3Exa字節(jié)。這一數(shù)字較上年同期增長了49.4%。   IDC表示,所有類型磁盤存儲(chǔ)系統(tǒng)的銷售收入較上年同期增長了4.3%,而為63億美元。   據(jù)IDC稱,在外置式存儲(chǔ)系統(tǒng)、NAS、
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TS9980測試系統(tǒng)S1測量不確定的評定

  •   1.引言   測量時(shí),由于種種原因,被測物理量的測量結(jié)果總是偏離真值。這種偏差就叫做誤差。   測量誤差可分為隨機(jī)誤差、系統(tǒng)誤差、粗大誤差三類。   在同一測量條件下,多次重復(fù)測量同一量值時(shí),每次測量誤差的絕對值和符號都以不可預(yù)知的方式變化的誤差,稱為隨機(jī)誤差。隨機(jī)誤差由對測量值影響微小但卻互不相關(guān)的大量因素共同造成。   在同一測量條件下,多次測量重復(fù)同一量時(shí),測量誤差的絕對值和符號都保持不變,或在測量條件改變時(shí)按一定規(guī)律變化的誤差,稱為系統(tǒng)誤差。   粗大誤差是一種顯然與實(shí)際值不符的誤差
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測試介紹

  中文名稱:   測試   英文名稱:   test   定義1:   對在受控條件下運(yùn)動(dòng)的裝備,進(jìn)行其功能和性能的檢測。   應(yīng)用學(xué)科:   航空科技(一級學(xué)科);航空器維修工程(二級學(xué)科)   定義2:   用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實(shí)際實(shí)驗(yàn)。   應(yīng)用學(xué)科:   通信科技(一級學(xué)科);運(yùn)行、維護(hù)與管理(二級學(xué)科) [ 查看詳細(xì) ]
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