測試 文章 進入測試技術(shù)社區(qū)
安捷倫更新先進設(shè)計系統(tǒng)EDA軟件加強串行鏈路設(shè)計能力
- 安捷倫科技推出先進設(shè)計系統(tǒng)(ADS)高頻電子設(shè)計自動化(EDA)軟件的第3個更新版本(Update 3)。其新增特性包括串行器/解串器(SERDES)/Verilog模擬混合信號(AMS)協(xié)同仿真以及其他信號完整性能力,可為設(shè)計人員提供一個更完整的串行鏈路信號完整性設(shè)計流程,使他們能夠確定模擬元器件和數(shù)字元器件將會協(xié)同工作。 安捷倫EEsof EDA部門產(chǎn)品營銷經(jīng)理Sanjeev Gupta表示:“這是連續(xù)第三次更新的ADS版本,我們?yōu)樾盘柾暾栽O(shè)計人員添加了新的功能。通過協(xié)同仿真和使用ADS中
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KLA-Tencor推出達到關(guān)鍵性45nm晶片幾何度量要求的完整度量解決方案
- KLA-Tencor 公司推出了 WaferSight 2,這是半導體行業(yè)中第一個讓晶片供應(yīng)商和芯片制造商能夠以 45nm 及更小尺寸所要求的高精度和工具匹配度,在單一系統(tǒng)中度量裸晶片平面度、形狀、卷邊及納米形貌的度量系統(tǒng)。憑借業(yè)界領(lǐng)先的平面度和納米形貌測量精度,加之更高的工具到工具匹配度,WaferSight 2 讓晶片供應(yīng)商能夠率先生產(chǎn)下一代晶片,并讓集成電路 (IC) 制造商對未來晶片質(zhì)量的控制能力更具信心。 領(lǐng)先的光刻系統(tǒng)供應(yīng)商的研究表明,在 45nm 工藝中,晶片平面度的細微差異會消耗
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基于虛擬儀器的胎兒心電圖儀的研制
- 介紹了一種基于虛擬儀器的電腦胎兒心電圖系統(tǒng)。該系統(tǒng)由兩部分組成:以PIC單片機為核心硬件的數(shù)據(jù)采集裝置和PC平臺的處理系統(tǒng)。 硬件電路功耗低,直接采用端口供電。軟件平臺采用可視化語言LabView6.1編程實現(xiàn),由于使用其大量成熟軟件模塊,大大提高了開發(fā)效率。介紹了LabView實現(xiàn)的匹配濾波器等算法,并改進了匹配濾波的模板更新。臨床試用取得了滿意效果。 1 前言 虛擬儀器是機技術(shù)與儀器相結(jié)合產(chǎn)生的一種新型儀器模塊,它通常是由計算機、模塊化的功能硬件與帶有數(shù)據(jù)處理、過程控制的可視化軟
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仿真軟件Multisim與PSpice在電路設(shè)計中的功能比較
- 隨著計算機技術(shù)的迅速發(fā)展,計算機輔助設(shè)計技術(shù)(CAD)已滲透到電子線路設(shè)計的各個領(lǐng)域,包括電路圖生成、邏輯模擬、電路分析、優(yōu)化設(shè)計、最壞情況分析、印刷板設(shè)計等。目前國際上比較流行兩個仿真軟件:Multisim (EWB的版本)和PSpice。通過對兩個軟件的認真學習和反復比較,發(fā)現(xiàn)二者存在很多差異,下面進行一一說明。 1 Muitisim與PSpice元器件的異同 Muhisim的元器件分為電源/信號源元器件、虛擬元器件和真實元器件3種,電源/信號源器件大多放在電源分類庫中;虛擬元器件,其
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450A接觸電流測試儀測試網(wǎng)絡(luò)和數(shù)據(jù)采集的設(shè)計
- 1.引言 隨著社會的發(fā)展,人們使用的家用電器越來越多,品種和范圍也越來越廣,家用電器安全的重要性不言而喻。而防觸電是所有安全標準中最基本也是最重要的要求,家電產(chǎn)品的接觸電流就是關(guān)于電器安全方面要求的內(nèi)容之一,在中國強制認證(簡稱CCC認證)中也是產(chǎn)品安全型式認可試驗的主要測試項目,以及生產(chǎn)企業(yè)確認檢查的測試項目。450A接觸電流測試儀就是一款專業(yè)用于測量接觸電流的儀器。 2.定義 接觸電流:當人體或動物接觸一個或多個裝置的或設(shè)備的可觸及零部件時,流過他們身體的電流。 模擬人體阻
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精確測量 PFM 模式效率
- 摘要 對使用脈沖頻率調(diào)制的 DC-DC 轉(zhuǎn)換器效率進行測量時,必須注意要保證測量的準確性。鑒于工作在 PFM 模式下的轉(zhuǎn)換器的性質(zhì),對測量的準確性要求極高的測量設(shè)置不同于對工作在 PWM 模式下器件的測量設(shè)置。不正確的測量設(shè)置會導致與德州儀器 (TI) 提供的產(chǎn)品說明書參數(shù)差別較大的效率測量數(shù)據(jù)。 本應(yīng)用報告包括一些能幫助用戶獲得精確效率測量數(shù)據(jù)的指導方法,以及一個對 TPS61020 進行測量的例子。 1、引言 脈沖頻率調(diào)制 (PFM) 是一種轉(zhuǎn)換方法,通常被應(yīng)用于 DC-D
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基于虛擬儀器的電磁輻射自動監(jiān)測系統(tǒng)
- 1.前吾 近年來隨著科學技術(shù)和經(jīng)濟的不斷發(fā)展,各種電器設(shè)備的廣泛應(yīng)用,電磁輻射作為一個重要的干擾和污染因素已越來越引起人們的高度重視,研究表明電磁輻射不但對人們的生產(chǎn)活動產(chǎn)生影響而且嚴重地危害了人們的健康。為了有效地防治電磁輻射帶來的危害,促進生產(chǎn)生活的正常進行,就必須對可能產(chǎn)生電磁污染一些主要的上作崗位、生產(chǎn)生活場所進行電磁輻射監(jiān)測,以便能即時了解這些場所的污染情況并作出及時處理,為查找輻射污染源,提出防止輻射污染的有效措施提供較為可靠的事實依據(jù)。 由于電磁輻射監(jiān)測多為長時間的實時監(jiān)測,
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二極管激光器在尾氣遙感監(jiān)測中的應(yīng)用
- 1.引言 機動車尾氣的遙感監(jiān)測,因其能在機動車正常行駛情況下監(jiān)測機動車的瞬時排放而收到廣泛關(guān)注和研究。自1989年,美國Denwer大學研制出第一臺遙感監(jiān)測設(shè)備開始,遙感監(jiān)測技術(shù)已經(jīng)從基于非分光紅外技術(shù)(nondispersion infrared, NDIR)發(fā)展到基于可調(diào)諧二極管激光器(tunablediode laser,TDL)技術(shù)[1],檢測污染物種類從單一的co發(fā)展到CO、HC和Nox均能有效監(jiān)測。遙感監(jiān)測技術(shù)在各國均開始有益的試驗研究和實際應(yīng)用[2]。 本文從光學原理人手介紹
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安捷倫科技擴展其DisplayPort(顯示端口)測試解決方案
- 安捷倫科技宣布擴展其DisplayPort(顯示端口)測試解決方案,這是為源端和接受端的設(shè)計、表征、調(diào)試及一致性測試推出的最靈活和最全面的解決方案。工程師因此能加快新個人計算機顯示器的開發(fā)周期和上市時間。 安捷倫為源端和接受端測試提供DisplayPort測試解決方案包括 DSO80804B Infiniium示波器和 E4887A TMDS 信號發(fā)生器,它已作為符合一致性測試規(guī)范(CTS)描述的源端和接受端一致性測試實現(xiàn)方法(MOI)提交給視頻電子標準化協(xié)會(VESA)。 Display
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三季磁盤存儲系統(tǒng)容量增長近50%
- 市場調(diào)研廠商IDC在本周四發(fā)表的一份報告中表示,今年第三季度銷售的磁盤存儲系統(tǒng)容量較上年同期增長了近50%,在大多數(shù)類型的磁盤存儲系統(tǒng)領(lǐng)域,EMC仍然是領(lǐng)頭羊。 IDC在一份新聞稿中說,第三季度銷售的磁盤存儲系統(tǒng)━━包括內(nèi)置和外圍系統(tǒng),網(wǎng)絡(luò)連接存儲(NAS)、開放存儲區(qū)域網(wǎng)絡(luò)(Open SAN)的容量達到了1.3Exa字節(jié)。這一數(shù)字較上年同期增長了49.4%。 IDC表示,所有類型磁盤存儲系統(tǒng)的銷售收入較上年同期增長了4.3%,而為63億美元。 據(jù)IDC稱,在外置式存儲系統(tǒng)、NAS、
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安捷倫宣布Agilent 成套 HDMI 測試產(chǎn)品已成為 HDMI 1.3b 測試環(huán)境的主要測試解決方案
- 安捷倫科技宣布Agilent 成套 HDMI 測試產(chǎn)品已成為Allion 測試實驗室最新的全面 HDMI 1.3b 測試環(huán)境的主要測試解決方案。該 Agilent HDMI 測試解決方案包括 DSO80804B 高性能示波器,E4887A TMDS 信號發(fā)生器和 N5998A 協(xié)議分析儀和 發(fā)生器。Allion 測試實驗室是位于臺灣的 IT 測試機構(gòu)。 Allion 技術(shù)主管 James Ou 說:“Agilent HDMI 1.3b 測試解決方案具有最高的測試性能和最快的測試速度,通過幫助我們
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測試測量儀器的市場、總線和趕超
- 摘要: 本文回顧近年來測試測量儀器業(yè)的市場變化,介紹幾種關(guān)鍵儀器總線的發(fā)展趨勢,以及探討我國測試測量儀器的趕超問題。 關(guān)鍵詞: 測試測量;儀器;總線;LXI;PXI;USB 測試測量儀器國際市場 新千禧年起點的2000年,全球電子市場一片興旺,測試測量業(yè)也迎來開門紅,年銷售額增長20%,與過去10年的平均年增長率5%~10%相比,業(yè)績非常突出。但好景不長,從2001年年中開始,全球信息業(yè)受網(wǎng)絡(luò)泡沫破滅的影響,使包括測試測量儀器業(yè)在內(nèi)的相關(guān)市場全部受到重挫,銷售額連續(xù)三年下跌,大小公司
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“開蓋”革命引領(lǐng)測試儀器新時代
- 一直以來,與其他電子設(shè)備相比,電子測量儀器看起來像是個封閉的盒子,在儀器公司的要求中一直強調(diào)禁止客戶主動打開儀器的外殼去改動內(nèi)部的任何設(shè)置。于是,測試儀器看起來更像是一個一次性的消費品,沒有任何擴展的可能。在絕對硬件為主的儀器時代,許多工程師經(jīng)常是一臺儀器用上10年一直只能提供一種測試,然后被淘汰。您的儀器如果想實現(xiàn)其他的功能,抱歉,請您再買個新的。正是因為儀器的這個特點,讓許多繁忙工程師的桌案上被大量不同類型的儀器占據(jù)了絕大多數(shù)空間。這不僅浪費了大量資金,更主要的是讓工作空間變得狹小混亂,進而極大影
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測試介紹
中文名稱:
測試
英文名稱:
test
定義1:
對在受控條件下運動的裝備,進行其功能和性能的檢測。
應(yīng)用學科:
航空科技(一級學科);航空器維修工程(二級學科)
定義2:
用任何一種可能采取的方法進行的直接實際實驗。
應(yīng)用學科:
通信科技(一級學科);運行、維護與管理(二級學科)
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