開關(guān)損耗 文章 進入開關(guān)損耗技術(shù)社區(qū)
了解E類放大器中的開關(guān)損耗
- 在本文中,我們研究了非零開關(guān)轉(zhuǎn)換時間如何影響E類功率放大器的效率。通常假設(shè)具有理想組件的E級效率為100%。在實踐中,有幾個非理想因素會降低E類放大器的效率。在本文中,我們將只討論一個:實際開關(guān)的非零轉(zhuǎn)換時間。了解這種損耗機制可以幫助我們更真實地估計放大器的性能,并實現(xiàn)更準確的熱系統(tǒng)設(shè)計。如果您從“E類功率放大器簡介”開始閱讀本系列文章,您可能還記得這些放大器的負載網(wǎng)絡(luò)旨在最大限度地減少開關(guān)損耗。即使使用非理想晶體管,設(shè)計良好的E級的導(dǎo)通開關(guān)損耗也可能接近于零。然而,關(guān)斷開關(guān)損耗可能相當(dāng)大,我們很快就會看
- 關(guān)鍵字: E類放大器,開關(guān)損耗
雙極性結(jié)型晶體管的開關(guān)損耗
- 在SPICE仿真的幫助下,我們研究了當(dāng)BJT用作開關(guān)時發(fā)生的兩種類型的功耗。雙極性結(jié)型晶體管(BJT)既可以用作小信號放大器,也可以用作開關(guān)。盡管現(xiàn)在你在電路板上看不到很多分立的BJT放大器——使用運算放大器要方便有效得多——但作為開關(guān)連接的BJT仍然很常見。BJT開關(guān)通常用于阻斷或向有刷直流電機、燈或螺線管等負載輸送電流。它們有時也出現(xiàn)在更高頻率的開關(guān)應(yīng)用中,如開關(guān)模式調(diào)節(jié)器或D類放大器。圖1顯示了BJT開關(guān)的兩種常見應(yīng)用:高強度LED照明(左)和繼電器控制(右)。兩個開關(guān)都由微控制器上的通用輸入/輸出
- 關(guān)鍵字: LTspice 雙極性結(jié)型晶體管 開關(guān)損耗
MOSFET開關(guān)損耗簡介
- 本文將通過解釋MOSFET功耗的重要來源來幫助您優(yōu)化開關(guān)模式調(diào)節(jié)器和驅(qū)動器電路。MOSFET的工作可以分為兩種基本模式:線性和開關(guān)。在線性模式中,晶體管的柵極到源極電壓足以使電流流過溝道,但溝道電阻相對較高??鐪系赖碾妷汉土鬟^溝道的電流都是顯著的,導(dǎo)致晶體管中的高功耗。在開關(guān)模式中,柵極到源極電壓足夠低以防止電流流動,或者足夠高以使FET處于“完全增強”狀態(tài),在該狀態(tài)下溝道電阻大大降低。在這種狀態(tài)下,晶體管就像一個閉合的開關(guān):即使大電流流過通道,功耗也會很低或中等。隨著開關(guān)模式操作接近理想情況,功耗變得可
- 關(guān)鍵字: MOSFET 開關(guān)損耗
簡單的速率控制技術(shù)可降低開通能耗
- Wolfgang?Frank?(英飛凌) 摘?要:電力電子系統(tǒng)(如馬達)中的開關(guān)損耗降低受到電磁干擾(EMI)或開關(guān)電壓斜率等參數(shù)的限制。通常是通過選擇有效的功率晶體管柵極電阻來解決這一問題。但這在運行中是無法自主進行調(diào)整的?! ”疚膶⒔榻B一種通過并聯(lián)常規(guī)柵極驅(qū)動芯片來攻克這一難題的簡單方法。文中還介紹了與開通能耗改進有關(guān)的表征數(shù)據(jù)的評估?! £P(guān)鍵詞:馬達;開關(guān)損耗;EMI;開關(guān)電壓斜率;柵極驅(qū)動 0 引言 連接MOS柵極功率晶體管的柵極電阻選型,一般有2個優(yōu)化目標。首先,應(yīng)通過選擇電阻值較小的
- 關(guān)鍵字: 202006 馬達 開關(guān)損耗 EMI 開關(guān)電壓斜率 柵極驅(qū)動
理解MOSFET時間相關(guān)及能量相關(guān)輸出電容Coss(tr)和Coss(er)
- Understanding time-related and energy-related output capacitances Coss(tr) and Coss(er)劉松(萬國半導(dǎo)體元件(深圳)有限公司,上海 靜安 200070)??????摘要:本文論述了功率MOSFET數(shù)據(jù)表中靜態(tài)輸出電容Coss、時間相關(guān)輸出電容Coss(tr)和能量相關(guān)輸出電容Coss(er)的具體定義以及測量的方法,特別說明了在實際的不同應(yīng)用中,采用不同的輸出電
- 關(guān)鍵字: 輸出電容 死區(qū)時間 開關(guān)損耗 超結(jié) 201904
MOSFET開關(guān)損耗分析
- 摘要:為了有效解決金屬一氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管(MOSFET)在通信設(shè)備直流-48 V緩啟動應(yīng)用電路中出現(xiàn)的開關(guān)損耗失效問題,通過對MOSFET柵極電荷、極間
- 關(guān)鍵字: MOSFET 帶電插拔 緩啟動 開關(guān)損耗
技術(shù)解析:有效地降低開關(guān)電源開關(guān)損耗的原理
- 基于電感的開關(guān)電源(SM-PS)包含一個功率開關(guān),用于控制輸入電源流經(jīng)電感的電流。大多數(shù)開關(guān)電源設(shè)計選擇MOSFE...
- 關(guān)鍵字: 開關(guān)電源 開關(guān)損耗
淺析讓IGBT更快的技巧
- IGBT關(guān)斷損耗大;拖尾是嚴重制約高頻運用的攔路虎。這問題由兩方面構(gòu)成:1)IGBT的主導(dǎo)器件—GTR的基區(qū)儲...
- 關(guān)鍵字: IGBT 開關(guān)損耗
論述如何控制IGBT逆變器設(shè)計中的雜散電感
- IGBT技術(shù)不能落后于應(yīng)用要求。因此,英飛凌推出了最新一代的IGBT芯片以滿足具體應(yīng)用的需求。與目前逆變器設(shè)...
- 關(guān)鍵字: 反向恢復(fù) 過壓 開關(guān)損耗
零電壓開關(guān)技術(shù)在降壓穩(wěn)壓器上的應(yīng)用
- 對降壓穩(wěn)壓器的關(guān)鍵要求通常是尺寸和效率。由于印制電路板面積彌足珍貴,哪個設(shè)計人員也不愿意分配額外的空...
- 關(guān)鍵字: 零電壓 開關(guān)損耗 功率密度
開關(guān)調(diào)節(jié)器的效率(忽略交疊開關(guān)損耗)
- 了解了開關(guān)管V和續(xù)流二極管D的電流D(見圖d、e)就可以計算電路的損耗和效率。若電流流過開關(guān)管V和二極管D...
- 關(guān)鍵字: 開關(guān)調(diào)節(jié)器 開關(guān)損耗
開關(guān)調(diào)節(jié)器的效率(考慮交疊開關(guān)損耗)
- 交疊開關(guān)損耗(或稱為電壓電流重疊損耗),可以根據(jù)某時段內(nèi)電壓電流的動態(tài)曲線按照上升電流和下降電壓的斜率...
- 關(guān)鍵字: 開關(guān)調(diào)節(jié)器 開關(guān)損耗
理解MOSFET開關(guān)損耗和主導(dǎo)參數(shù)
- 本文詳細分析計算開關(guān)損耗,并論述實際狀態(tài)下功率MOSFET的開通過程和自然零電壓關(guān)斷的過程,從而使電子工程師知...
- 關(guān)鍵字: MOSFET 開關(guān)損耗 主導(dǎo)參數(shù)
功率MOSFET的開關(guān)損耗的研究
- 本文詳細分析計算開關(guān)損耗,并論述實際狀態(tài)下功率MOSFET的開通過程和自然零電壓關(guān)斷的過程,從而使電子工程師知...
- 關(guān)鍵字: 功率MOSFET 開關(guān)損耗
國內(nèi)高頻變換中小功率逆變電源存在問題分析
- 20世紀70年代初期,20kHzPWM型開關(guān)電源的應(yīng)用在世界上引起了所謂“20kHz電源技術(shù)革命”。逆變電源按變換方式...
- 關(guān)鍵字: 磁性材料 開關(guān)損耗 諧振
開關(guān)損耗介紹
您好,目前還沒有人創(chuàng)建詞條開關(guān)損耗!
歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對開關(guān)損耗的理解,并與今后在此搜索開關(guān)損耗的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
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