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彩色濾光片實(shí)現(xiàn)OLED彩色化的瑕疵分析*

作者:莊筱磊 李榮玉 上海交通大學(xué)電子信息與電氣工程學(xué)院 施展 劉暢 張浩 余峰 張建華 上海大學(xué)廣電電子平板顯示聯(lián)合工程技術(shù)中心 時(shí)間:2009-08-07 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  而尖峰較多的表面會(huì)比一般平整的上制作的器件更容易集中注入空穴,所以表面形態(tài)和器件的漏電流有著直接的聯(lián)系。因?yàn)?a class="contentlabel" href="http://2s4d.com/news/listbylabel/label/ITO">ITO表面的粗糙引尖峰會(huì)成為漏電流的途徑。存在的異物等突起,會(huì)使這些部位電流密度增高,漏電流加大,功耗增加,嚴(yán)重時(shí)造成局部短路,產(chǎn)生黑點(diǎn),結(jié)果是顯示器的發(fā)光效率降低、壽命縮短,甚至因出現(xiàn)嚴(yán)重黑點(diǎn)而報(bào)廢。

本文引用地址:http://2s4d.com/article/96985.htm

  對(duì)于的規(guī)格比較統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)是10mm×10mm正方形面積內(nèi)的AFM測(cè)得的平均粗糙度Ra≤1~3nm、Rp-v≤10~30nm。這樣的要求高于普通STN的ITO基板, LCD用的ITO表面沒有提過如此嚴(yán)格的要求,因?yàn)槠淝昂箅姌O距離有6000nm之多,幾十nm的Spike(突起)與之相比可以忽略。器件會(huì)由于ITO基板表面的粗糙引起的器件像素區(qū)域出現(xiàn)黑點(diǎn),漏電流過大,壽命較短等一系列的問題。

  結(jié)論

  對(duì)于將應(yīng)用于全彩化顯示的技術(shù),目前還有很多課題需要解決。如何解決表面的粗糙度,以及阻隔ITO層下面的有機(jī)層上水氣方面,目前業(yè)內(nèi)還沒有滿意的解決方案。以上這些ITO薄膜的粗糙不平屬于納米級(jí)別的不平問題,灰塵和針孔等缺陷引起的凸凹不平將引起更嚴(yán)重的問題,屬于微米級(jí)別的不平問題,所以必須嚴(yán)格控制各種灰塵和針眼等缺陷。因此,對(duì)于OLED的材料開發(fā)也提出了新的課題,同時(shí)也需要對(duì)OLED的器件結(jié)構(gòu)的改進(jìn)。

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