新形勢下電子測試技術(shù)需求新趨勢
● 基于嵌入式系統(tǒng)技術(shù)的全新而廣泛電子應用:
本文引用地址:http://2s4d.com/article/95263.htm* 需要對大量“新技術(shù)”— 之前只在高速系統(tǒng)中使用的技術(shù),現(xiàn)在也廣泛應用在嵌入式系統(tǒng);
* 需要對混合信號環(huán)境進行測試分析;
* 針對多樣化的總線,需要高效靈活的測試方案。
● 基于無線通信技術(shù)的全新下一代網(wǎng)絡應用:
* 以中國為例,需要最全面的能夠支持包括CDMA2000,WCDMA,TD以及核心網(wǎng)的NGN、WiMAX、LTE在內(nèi)的各種技術(shù)的網(wǎng)絡和終端測試解決方案;
* 需要有支持2G/3G融合互操作的網(wǎng)絡優(yōu)化解決方案和管理QoS客戶體驗的質(zhì)量分析方案;下一代通信不只是技術(shù)的競爭,更重要是網(wǎng)絡應用和用戶管理。
挑戰(zhàn)與解決策略
對于測試測量廠商來說,不僅僅要針對技術(shù)需求的重點來進行策略調(diào)整,同時還要面對測試工程師提出的更多新要求,像如何滿足多樣化的測量需求和任務?如何降低選擇和使用測試儀器的風險?如何加快用戶產(chǎn)品設計和調(diào)試周期?如何幫助用戶儀器投資最大化和產(chǎn)品創(chuàng)新?以上種種挑戰(zhàn),歸結(jié)到一點就是:現(xiàn)在我們身處在一個以方案為中心,以需求為導向,以服務為根本的新型電子測試市場。
面臨的挑戰(zhàn)中很重要的一點是如何在改進性能的同時降低測試成本。當然,改進性能涉及到很多方面,與實際應用是不同的。在研發(fā)實驗室中,改進性能通常意味著實現(xiàn)更高的測量精度。在生產(chǎn)條件下,中心問題是提高產(chǎn)能同時保持測量可重復性和精度。在這兩種情況下,最復雜的事情是上一問題中所提到的快速變化的環(huán)境;每當一種測量系統(tǒng)或測量方案變得比較完善時,似乎另外一種新的無線協(xié)議又需要進行測試,或者半導體器件的幾何尺寸又在邁向45nm的道路上經(jīng)過了新一輪“縮小”,從而必須要對測試系統(tǒng)進行重新設計甚至重新構(gòu)建。降低這種情況下的測試成本意味著儀器制造商必須在設計新產(chǎn)品時極富創(chuàng)意。他們的設計是否向后兼容之前的產(chǎn)品?是否能夠?qū)⒍喾N儀器的功能集成到一套工具中,或者在尺寸更小的設備中集成更多的通道?是否集成了智能的固件和軟件功能,從而縮短系統(tǒng)配置和調(diào)試所需的時間?
吉時利公司認為,應對挑戰(zhàn)必須不斷創(chuàng)新,其中包括研制出靈活而實用的測量儀器。例如,一種能夠在不同環(huán)境下用于不同測試的儀器,或者集成多種功能的單臺儀器,能夠節(jié)省用戶購買多臺儀器分別執(zhí)行各個任務的投資成本。很多先進材料,包括納米技術(shù)和基于半導體的材料,都需要進行多種電氣測量,例如超低電流和/或超高電阻特征分析。吉時利已經(jīng)在低壓測量領(lǐng)域獲得了經(jīng)驗。雖然吉時利在這一領(lǐng)域處于領(lǐng)先地位,仍不斷推進測量技術(shù),降低對產(chǎn)能增大的敏感性,提高生產(chǎn)良率,降低測試成本。
羅德與施瓦茨陳峰則展望了在通信和航天與軍用測試領(lǐng)域的技術(shù)發(fā)展需求及挑戰(zhàn)。新的電子技術(shù)的發(fā)展主要體現(xiàn)在通信技術(shù)和航天與國防技術(shù)的發(fā)展,具體頻率和帶寬以及數(shù)字處理的能力的提高,因此,測量技術(shù)在這方面也要隨之提高。需要有更高的速度、更寬的帶寬和更高的精度。在通信領(lǐng)域,LTE的應用是近期發(fā)展的目標;在航天與國防領(lǐng)域,新的測控技術(shù)、新型飛機與艦船、電子對抗以及隱形飛機和對應的雷達技術(shù)帶來新的測試需求。
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