電磁兼容外場測試中的干擾抵消技術(shù)
—— Eliminating Interference in EMC Measurement
作者：葛壽兵 中國電子科技集團(tuán)公司第23研究所 龔成 中國電子科技集團(tuán)公司第50研究所
時(shí)間：2009-04-14
來源：電子產(chǎn)品世界
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引言
本文引用地址：http://2s4d.com/article/93435.htm由于大型電子設(shè)備在進(jìn)行電磁兼容(EMC)性考核時(shí)，很難進(jìn)入屏蔽室進(jìn)行而只能在室外開闊場地進(jìn)行，從而難以控制測試時(shí)的環(huán)境背景噪聲電平，使測試結(jié)果出現(xiàn)很大誤差。如何區(qū)分背景噪聲信號(hào)，鑒別出受試設(shè)備發(fā)出的被測信號(hào)一直是EMC測試中的一個(gè)難題。在各種不同的背景信號(hào)中，同頻干擾與被測信號(hào)無法通過頻譜進(jìn)行分離，本文的目的就是想用空間分離技術(shù)，通過適當(dāng)?shù)臏y試方法，對于任意方向的同頻干擾信號(hào)進(jìn)行有效的擬制，從而得到有效的測試結(jié)果。
消除同頻干擾的基本方法
合成場分析
在圖1所示的測試環(huán)境中，設(shè)待測信號(hào)與干擾信號(hào)均為線極化(在工程實(shí)際中，這樣的假設(shè)是合理的)，待測信號(hào)電場強(qiáng)度為：
干擾信號(hào)電場強(qiáng)度
待測電場為向線極化，沿向傳播，式(1)中Epm是被測信號(hào)源處的電場強(qiáng)度值;rp是被測信號(hào)到測試點(diǎn)的距離;wp是被測信號(hào)的初始相位;wp是被測信號(hào)角頻率。
圖1 電磁兼容性測試環(huán)境示意圖
評(píng)論