同步控制和即時(shí)DSP的先進(jìn)混合訊號測試

由于IC制程和設(shè)計(jì)技術(shù)的進(jìn)步以及對于晶片功能和效能的需求，使得目前IC的功能性、效能和速度大幅提升。由于系統(tǒng)的周邊功能越來越多樣化，因此元件也變得越來越復(fù)雜。同樣的趨勢也發(fā)生在處理類比和數(shù)位訊號的混合訊號元件。

為了像系統(tǒng)一樣地測試混合訊號元件，元件的類比和數(shù)位輸入和輸出訊號必須具有彈性同步化的功能。此外也需要非同步訊號來模擬實(shí)際元件的操作。測試機(jī)本身必須能夠產(chǎn)生和測量高解析度的訊號[1][2]并進(jìn)行快速可靠的測試。針對復(fù)雜訊號的產(chǎn)生和量測，即時(shí)測試訊號的序列控制可以有效地縮短測試時(shí)間。

在本文中，藉由具有同步時(shí)脈的復(fù)雜序列控制的分割直方圖法(divided section linaer histogram method)，可以達(dá)到比傳統(tǒng)類比量測更快速且正確的的高解析度ADC(Analog to Digital Convertor, 類比數(shù)位轉(zhuǎn)換器)測試。此外，藉由即時(shí)序列控制的分散數(shù)位訊號處理(DSP)測試架構(gòu)可以達(dá)到快速測試來解決復(fù)雜混合訊號測試的問題。本文以具有特定閃爍的ISDN 2B1Q訊號和行動通訊的PI/4-Shift-DQPSK基頻元件的向量誤差量測為例來驗(yàn)證即時(shí)DSP架構(gòu)的復(fù)雜測試功能。

混合訊號元件模型

為了解決混合訊號元件測試的要求和問題，我們定義了混合訊號元件測試所需要的同步和非同步控制的通用模型。圖1是混合訊號元件測試的通用模型。　

圖1：混合訊號元件的通用模型

這個(gè)通用模型假設(shè)混合訊號測試機(jī)具備產(chǎn)生元件測試所需要的各種頻率和時(shí)脈關(guān)系的能力以及同步不同訊號序列的能力。由于這些訊號會在元件中進(jìn)行處理元件而輸入或輸出會以相同或不同的方式，因此測試機(jī)必須具備彈性來控制這些訊號以符合元件的操作特性并有效地控制測試設(shè)備進(jìn)行快速測試的能力。

測試機(jī)架構(gòu)

在本文中我們開發(fā)出符合上節(jié)所提到具備同步和非同步控制的混合訊號測試機(jī)。

圖2測試機(jī)的時(shí)脈區(qū)塊圖和即時(shí)波形控制。測試機(jī)的主要硬體元件分成：

供應(yīng)時(shí)脈每個(gè)次系統(tǒng)的主時(shí)脈次系統(tǒng)(master clock subsystem)；產(chǎn)生和擷取數(shù)位訊號的兩個(gè)數(shù)位次系統(tǒng)；藉由任意波形產(chǎn)生器(Arbitrary Waveform Generator, AWG)產(chǎn)生類比訊號的波形產(chǎn)生器次系統(tǒng)；擷取類比訊號的波形數(shù)位化次系統(tǒng)(waveform digitizer substysterm)。用來直接與DUT(Device Under Test)介面進(jìn)行從屬序列控制(slave squencer control)的ADC次系統(tǒng)(未圖示于圖中)。由測試機(jī)控制器(CPU)下載的測試程式的程序會執(zhí)行在每個(gè)次系統(tǒng)的控制和資料記憶體。訊號可以在不干擾測試機(jī)控制器的情形下藉由浮動接地(floating ground)的光學(xué)介面產(chǎn)生和測量訊號而次系統(tǒng)間的訊號則由平衡線(balanced lines)傳輸以避免雜訊的影響。此外，在即時(shí)序列控制時(shí)每個(gè)測試設(shè)備具有一個(gè)高效能32位元浮點(diǎn)運(yùn)算的DSP單元并與資料傳輸路徑連接。具彈性的程式讓DSP可以符合復(fù)雜的通訊元件測試所需要的復(fù)雜測試訊號和資料流?！?/P>

圖2：先進(jìn)測試系統(tǒng)架構(gòu)

測試系統(tǒng)控制

　　每個(gè)次系統(tǒng)是以兩個(gè)主時(shí)脈的時(shí)脈控制方式來進(jìn)行操作，主時(shí)脈可以鎖定元件的時(shí)脈輸出因此可以進(jìn)行個(gè)別的頻率設(shè)定。這種雙主時(shí)脈架構(gòu)在次系統(tǒng)間提供同步和非同步的時(shí)脈控制。在產(chǎn)生和測量不同訊號之前，會先由測試機(jī)的控制器中下載程序。并由每個(gè)硬體模組序列控制器控制執(zhí)行的序列，序列控制器根據(jù)時(shí)脈產(chǎn)生器的時(shí)脈來控制混合訊號?；旌嫌嵦栭g的控制是以階層式的主/從序列架構(gòu)來進(jìn)行。測試機(jī)與元件數(shù)位控制電路介面的數(shù)位次系統(tǒng)的序列作為主序列而與其他硬體模組的序列作為從屬序列。

　　測試機(jī)對應(yīng)實(shí)際測試項(xiàng)目的五種測試狀態(tài)如圖3：READY、STATIC、PAUSE、ARMING和RUNNING，狀態(tài)之間的改變由測試機(jī)的控制器控制。在測試程式的開發(fā)方面可以使用整合性的工具軟體來簡化開發(fā)流程。

　　RUNNING狀態(tài)主要是產(chǎn)生和測量混合訊號，PAUSE狀態(tài)讓測試機(jī)的控制器可以在維持DUT操作的條件下，也就是不需要中斷混合訊號的產(chǎn)生更改硬體模組設(shè)定。這項(xiàng)功能對于除錯(cuò)時(shí)的操作很有幫助。圖4是混合訊號的波形?！?/P>

　　因此，相對于傳統(tǒng)測試數(shù)位元件所面臨的問題，這種測試機(jī)提供接近工作環(huán)境所需的精確非同步訊號輸入和輸出以及測試的簡便性。硬體模組可以輕易地產(chǎn)生和測量不同訊號，每個(gè)硬體模組針對I/O埠都可以提供同步和非同步時(shí)脈關(guān)系的序列功能。這些功能也可以延伸到多DUT的測試以改善測試速度，因此可以平行測試相同或不同的DUT或是平行進(jìn)行DUT 不同功能的測試。

高解析度 ADC 測試

　　通常高解析度ADC的小線性誤差必須使用昂貴的測試設(shè)備以低測試速度來進(jìn)行量測。由于DUT的低反應(yīng)速度和大量的測試序列碼使得測試時(shí)間非常長。因此這些元件的測試成本非常高。如果使用稱為分割直方圖法(divided section linear historgram mehthod)[5]的線性直方圖法，可以得到高準(zhǔn)確度的高解析度ADC測試結(jié)果。使用線性直方圖法的系統(tǒng)架構(gòu)可以比傳統(tǒng)使用微處理器控制的DVM(Digital Volt Meter)的類比量測減少約十倍的測試時(shí)間。分割直方圖法將整個(gè)測試ADC的范圍分割成不同的部分，然后施加具有DC偏移值(DC offset)的上升波形(ramp waveform)給每個(gè)部分。這個(gè)方法可以降低測試設(shè)備的線性需求。

　　分割直方圖法中會施加16位元的50KHz ADC訊號。圖5是這個(gè)測試架構(gòu)的簡單區(qū)塊圖。

　　在這個(gè)方法中，分割部分的數(shù)目會決定測試的準(zhǔn)確性，因此是很重要的參數(shù)。分割部分的數(shù)目也必須符合線性的要求，分割部分的數(shù)目可以用下式來表示：

n≥2(a-s)хEs/Er 公式(1)

n：分割部分的數(shù)目
s：測試設(shè)備的位元數(shù)目
a：測試ADC的位元數(shù)目
Es：在LSB測試設(shè)備的線性誤差
Er：在LSB ADC測試的測試準(zhǔn)確性　

　　但是，分割部分的數(shù)目除了由上式(1)所決定之外還必須考慮測試的解析度。根據(jù)直方圖法，測試解析度是由輸入訊號的slewrate和測試ADC的轉(zhuǎn)換時(shí)脈頻率所決定。通常由AWG或測試設(shè)備所產(chǎn)生的輸出訊號并不是一個(gè)理想的上升波形而是呈現(xiàn)階梯狀的波形。因此測試設(shè)備上升波形的slewrate可以用(2)表示如下：

Ss=DsxfsxFs/2S 公式(2)

Ss：測試設(shè)備上升波形的slewrate(V/sec)
Ds：在LSB上升波形每個(gè)步驟的差值
fs：測試設(shè)備的轉(zhuǎn)換時(shí)脈頻率(Hz)
Fs：測試設(shè)備的測試范圍(V)

　　另一方面，符合測試解析度的slewrate要求可以表示如(3)：

Sr=RrxftxFa/2a 公式(3)

Sr：ADC輸入訊號所需的slewrate(V/sec)
Rr：在LSB所需的測試解析度
fs：ADC的轉(zhuǎn)換時(shí)脈頻率(Hz)
Fs：ADC的全部范圍(V)

上升波形的slewrate必須低于所需的slewrate和分割部分的數(shù)目，n為Fa/Fs。由(2)和(3)以及(1)和(4)可以決定分割部分的數(shù)目。

n≥2(a-s)хDsxfs/Rrxft 公式(4)

　 　上述中最重要的部分為上升波形和上升波形之間的暫態(tài)電流。因此主AWG、offset AWG和資料擷取必須改變序列。測試系統(tǒng)的主序列器可以很精確地處理這些工作。圖6是暫態(tài)部分的詳細(xì)波形。

　 　在上升波形結(jié)束，主AWG傳送條件訊號給主序列器之后，主序列器停止擷取資料并傳送控制訊號給offset AWG和主AWG。這個(gè)訊號強(qiáng)迫offset AWG提供下一個(gè)偏移值，而主AWO輸出’0’。在AWG使用計(jì)時(shí)器達(dá)到穩(wěn)定之后，主序列器傳送控制訊號給主AWG重新開始上升并重復(fù)擷取資料量測。圖7是16 位元50KHz ADC實(shí)際的線性測試結(jié)果，測試準(zhǔn)確性約為19位元而解析度為20位元(16位元的0.05 LSB)。

　　表1是實(shí)際經(jīng)過測試實(shí)驗(yàn)之后所得到ADC測試方法的比較表。分割直方圖法不需要專屬的測試硬體便能達(dá)到高解析度、高速以及準(zhǔn)確性的ADC測試.

即時(shí)DSP應(yīng)用

　　其他復(fù)雜的混合訊號應(yīng)用例還包括如使用即時(shí)DSP架構(gòu)的通訊元件測試。每個(gè)測試設(shè)備的分散DSP單元可以產(chǎn)生和分析復(fù)雜的訊號進(jìn)行資料處理和計(jì)算，而量測訊號則作為測試設(shè)備和DUT的介面。圖8是jitter generation的范例。施加ISDN 2B1Q訊號，the可變系數(shù)的有限脈沖濾波器(coefficient-variable FIR Finite Impulse Response filter)設(shè)計(jì)成具有0.0008 UI (Unit Interval)解析度的七階訊號并在AWG產(chǎn)生即時(shí)訊號的期間進(jìn)行操作。

　　另一個(gè)有趣的即時(shí)DSP應(yīng)用例為數(shù)位個(gè)人手機(jī)(Personal Handy Phone，PHP) 基頻元件的PI/4-Shift-DQPSK向量誤差測試。由DUT輸出的I-訊號和Q-訊號使用兩個(gè)768KHz取樣速率的數(shù)位波形進(jìn)行測試，這個(gè)速率為PHP symbol rate的四倍。I-訊號和Q-訊號的數(shù)位資料內(nèi)差到512倍并在分散即時(shí)DSP單元的Root Nyquist濾波器進(jìn)行處理。圖9是DSP 所形成得單元環(huán)的叢集圖。

圖8：Eye Pattern with Jitter (0.3 U I)

向量誤差定義為叢集的暗區(qū)點(diǎn)：

　　基頻元件測試的DUT系統(tǒng)時(shí)脈和數(shù)位化strobe時(shí)脈之間的同步準(zhǔn)確性必須小于1%的向量誤差。圖10是量測誤差和strobe時(shí)脈偏移的關(guān)系。藉由多速率濾波器，即時(shí)DSP可以達(dá)到0.2 sec以內(nèi)的向量誤差測試和最佳化的計(jì)算點(diǎn)，測試速率會優(yōu)于專用機(jī)。

結(jié)論

　　混合訊號元件測試包括產(chǎn)生和測量各種不同可變頻率的訊號。這些訊號需要復(fù)雜的序列控制以符合DUT的測試條件。本文證實(shí)雙主時(shí)脈和主/從多序列的方式可以在實(shí)際操作環(huán)境下提供即時(shí)控制l的混合訊號復(fù)雜且快速的的測試。16 位元ADC的整體線性測試具有20位元的解析度，所使用的分割直方圖法比傳統(tǒng)的類比量測的測試速率快十倍。

　　因此，分散即時(shí)DSP的特性證實(shí)可以產(chǎn)生和分析復(fù)雜的混合訊號和2B1Q ISDN訊號和PI/4-Shift-DQPSI基頻元件向量誤差測試的操作測試。這種測試機(jī)架構(gòu)可以適用在各種通用的測試機(jī)。