利用PXI、LXI、TSPTM和GPIB混合系統(tǒng)縮短測試時(shí)間

　　在各種測試架構(gòu)中，LXI系統(tǒng)具有很好的靈活性，GPIB設(shè)備非常普及，PXI系統(tǒng)速度較快，因此，現(xiàn)在的測試工程師在為其應(yīng)用尋找最佳解決方案時(shí)必須在多項(xiàng)性能因素之間進(jìn)行權(quán)衡分析?；旌?a class="contentlabel" href="http://2s4d.com/news/listbylabel/label/測試">測試系統(tǒng)能夠根據(jù)應(yīng)用的需求，將多種通信接口集成在一個(gè)系統(tǒng)之中。分布式編程和并行執(zhí)行是實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)集成的關(guān)鍵。吉時(shí)利的混合測試系統(tǒng)集成了多種支持不同工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)協(xié)議的儀器，包括PXI、LXI和GPIB，融合了具有測試腳本處理功能的“智能”儀器、嵌入式編程技術(shù)以及支持分布式編程和并行執(zhí)行的列表模式，對測試成本和測試開發(fā)時(shí)間進(jìn)行優(yōu)化。

　　基于TSP功能和“智能”儀器的分布式編程

　　分布式編程是指定一個(gè)系統(tǒng)內(nèi)的不同微處理器處理專門的任務(wù)。在混合測試系統(tǒng)中，它是指用一臺PC機(jī)處理圖形數(shù)據(jù)顯示或組織連接，而用其他硬件專門實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)采集和測試算法?！爸悄堋眱x器是專為在一個(gè)系統(tǒng)內(nèi)處理分布式任務(wù)而設(shè)計(jì)的。它通常具有支持板級判斷的功能，例如pass/fail測試、特殊功能、循環(huán)處理、裝箱操作等。吉時(shí)利的TSPTM（測試腳本處理器）技術(shù)支持單個(gè)儀器存儲并執(zhí)行獨(dú)立的測試程序，其采集、分析和提交結(jié)果的方式都獨(dú)立于總的測試系統(tǒng)控制器。

這種技術(shù)使得系統(tǒng)的測試速度比那些使用傳統(tǒng)測試方法的系統(tǒng)快得多。

　　用戶可以在一系列由儀器控制的測試操作中調(diào)用這一功能。當(dāng)所有的測試完成之后，測試儀器分析數(shù)據(jù)并設(shè)置用于控制機(jī)械手接口的數(shù)字I/O引腳。用戶還可以通過簡單的編程，向系統(tǒng)控制器發(fā)送pass/fail位，以及可選的數(shù)據(jù)報(bào)告。使用TSP技術(shù)相比需要計(jì)算機(jī)控制的前一代測試儀器，測試速度大概提高了10倍。

　　基于TSP的測試儀僅僅是吉時(shí)利提供的多種單系統(tǒng)分布式處理簡捷測試方法中的一種。例如，PXI系統(tǒng)采用一臺專用的PC機(jī)控制一組模塊。這臺PC機(jī)（即PXI控制器）能夠執(zhí)行用多種編程語言編寫的程序，這些程序能夠控制PXI模塊以及通過GPIB總線與系統(tǒng)相連的多個(gè)儀器子系統(tǒng)。通過數(shù)字I/O或通信模塊，控制器能夠觸發(fā)其他測試子系統(tǒng)或與其他測試子系統(tǒng)通信，包括那些支持TSP功能的儀器構(gòu)成的子系統(tǒng)。PXI控制器是一臺完整的基于Windows的PC機(jī)，可以作為主測試控制器處理數(shù)據(jù)以及處理多個(gè)子系統(tǒng)的測試結(jié)果。

　　吉時(shí)利的2810型射頻矢量頻譜分析儀和2910型射頻矢量信號發(fā)生器是“智能”儀器的例子。這些基于LXI架構(gòu)的儀器具有列表模式功能，能夠通過一條命令啟動一系列測量操作。這種分布式處理技術(shù)非常適合于在一個(gè)測試序列中實(shí)現(xiàn)測量操作和數(shù)據(jù)處理的批處理；同時(shí)不同測量操作之間所需的儀器重構(gòu)時(shí)間也達(dá)到了最小。

　　混合測試子系統(tǒng)中的并行執(zhí)行

　　顯然，分布式編程技術(shù)利用一臺測試儀器獨(dú)立執(zhí)行測試操作，能夠減少測試時(shí)間，但是當(dāng)測試涉及多組儀器，儀器之間必須通過測試程序協(xié)同工作時(shí)，如何減少測試時(shí)間就面臨著新的挑戰(zhàn)。對于很多高級的測試系統(tǒng)而言，構(gòu)建能夠執(zhí)行獨(dú)立測試操作的子系統(tǒng)是一項(xiàng)重要的功能。例如，對于同時(shí)需要直流和射頻源與測量功能的某個(gè)RFIC測試來說，多臺儀器（射頻信號發(fā)生器、射頻頻譜分析儀和大量的SMU）必須密切配合才能實(shí)現(xiàn)這一測試序列。圖1說明了這些測試儀器與RFIC之間的連接方式。

　　這種測試結(jié)構(gòu)采用了兩種方法來優(yōu)化RFIC測試子系統(tǒng)的速度。第一，帶TSP功能的SMU具有TSP-Link，它是一種觸發(fā)同步和單元間的通信總線。TSP-Link可以用于構(gòu)建真正可擴(kuò)展的測試系統(tǒng)，對于大型多通道應(yīng)用，各個(gè)測試儀器可以配置成主/從的工作方式（即一臺儀器控制系統(tǒng)中的其他儀器）。對于上述RFIC測試，射頻儀器沒有TSP-Link功能，因此它們通過數(shù)字I/O觸發(fā)功能與2602 SMU相連（參見圖2）。這個(gè)子系統(tǒng)就包含了在一起工作的多個(gè)具有不同接口的測試儀器。

　　我們可以通過LXI配置射頻儀器（2810和2910）。LXI（LAN eXtensions for Instrumentation）是一種用于通過以太網(wǎng)連接控制測試儀器的協(xié)議。這種子系統(tǒng)可以在測試之前進(jìn)行配置，一旦啟動測試過程之后，運(yùn)行在SMU上的TSP腳本就支持所有四臺儀器都參與測試操作，而不需要計(jì)算機(jī)的干預(yù)。然后數(shù)據(jù)可以通過基于LXI儀器的以太網(wǎng)鏈路或者通過帶TSP功能的SMU的GPIB通道返回給系統(tǒng)控制器。