校準工作在測試中的重要性
校準工作好像總是安排在項目的最關鍵時刻進行,比如工作團隊忙著準備年度行業(yè)展會時。作為說明校準對項目影響的例子,我們假設某臺測試設備的校準周期為6個月。在第5個月時,設計工程師啟動了一項持續(xù)時間為兩個月的測試項目。如果在測試期間對該儀器進行重新校準,那么前5個月累積形成的漂移或誤差將比較大,這將導致需要重新進行測試。在啟動需要該設備的大型項目之前校準該設備是否會更好?又或者說推遲校準以防意外是否妥當?與其它任何事件一樣,應該在項目規(guī)劃軟件中制定校準計劃,并且應處于關鍵路徑中。如果忽視校準,會造成項目延遲。
什么是校準?
有些人將讀數(shù)相同的兩臺儀器(例如示波器和萬用表)認為是“校準過”的。然而,這種方法存在問題,至少是完全不科學的。這就好比讓一個會計審計自己的賬目。如果按這種方式進行校準,有三種顯而易見的情況是無法解釋的:首先,如果一臺儀器正確,另一臺儀器錯誤,那么誰是誰非?其次,如果兩臺儀器發(fā)生錯誤的方式相反,工程師怎么能說明兩者都不正確?最后,如果兩臺儀器發(fā)生錯誤的方式相同,結果就是錯誤的,而工程師毫不知情。如果沒有真正的可溯源外部標準,就不能說某臺儀器是正確的。
圖1. NASA的火星探測漫游者利用其導航攝像頭記錄2011年7月17日行動之后的畫面。對于該項任務而言,校準標準(圓圈中的部件)至關重要。感謝NASA/JPL-Caltec提供圖片
計量實驗室
嚴謹?shù)墓こ處熧徺I頂端品牌的儀器,并且預期這些電子測試儀器的精度較高。隨著使用時間加長,有些參數(shù)發(fā)生漂移,所以工程師將儀器送至計量實驗室進行校準。但計量實驗室的真實情況如何呢?
大多數(shù)計量實驗室是好的、有效的。不幸的是,有些則是不合格的。有些公司選擇價格最低的實驗室,而不調(diào)研其資質(zhì),由工程師負責核實實驗室的真實性。好的實驗室非常樂意讓您參觀,并為其標準的溯源性而自豪。您可以拿著儀器的校準手冊,與實驗室人員坐在一起,確認實驗室擁有完成高精度校準所必需的儀器。
您還必須確保實驗室的儀器經(jīng)過正確校準,具有可溯源性。大多數(shù)國家擁有自己的國家標準實驗室,比如美國的國家標準與技術研究院(NIST)1。好的計量實驗室會有記錄證明其儀器與標準鏈進行了正確比對,可溯源至由NIST或其它國家標準維護的主標準。
測試儀器的內(nèi)部零件(例如電壓基準、輸入分壓器、放大器增益,以及失調(diào))會隨時間變化而發(fā)生漂移。好的校準方式可確保典型的小漂移不會影響測量。校準就是要發(fā)現(xiàn)并修正這種漂移。但有時也會有意外:儀器可能會跌落或操作人員可能會滑倒以及探測較高電壓。例如,數(shù)字萬用表(DMM)可能會過載,從而產(chǎn)生較大誤差。由于數(shù)字萬用表的輸入有保險絲或斷路器保護,所以有些人錯誤的認為這種情況不會造成其超標。然而,高電壓可能會跳過輸入保護裝置,或者會在保護裝置發(fā)揮作用之前的瞬間對電路造成破壞。
當我們將儀器送去校準時,我們希望計量實驗室使儀器恢復至校準狀態(tài)。工程師還應該收到一份校準報告,其中列出儀器在校準前及調(diào)節(jié)后的指標偏移。如果校準報告顯示儀器存在較大的校準誤差,可能有必要重新執(zhí)行已使用該儀器完成的測試項目,進行新的測量。
校準的頻度有何要求?
這個問題不能一概而論,因為隨儀器、環(huán)境和應用的不同而有所不同。測試儀器制造商會給出典型條件下的建議校準周期;極端條件以及關鍵測量時,可能需要更頻繁地校準。以下是關于校準周期的一些通用規(guī)則:
1. 根據(jù)用戶合同、質(zhì)量標準組織、軍用規(guī)范或其它行業(yè)要求的規(guī)定,必須進行例行校準。在測試之前,必須考慮適用的要求,以確保滿足測試設備的校準或驗證。
2. 關鍵測量項目之前和之后。例如,完成新產(chǎn)品的試運行后,設計工程師將對產(chǎn)品進行特征分析,以確保滿足技術要求,并優(yōu)化測試步驟。此時進行的最終測試調(diào)整會從根本上縮短測試時間并影響收益。完備而可靠的測試要求在測試周期之前和之后驗證儀器的狀態(tài)。
3. 懷疑測量錯誤,或者儀器過載或跌落時。檢查確認校準和安全狀態(tài)(例如儀器跌落時造成導線與外殼短路)非常重要。
高精度校準不是可有可無的奢侈品——校準確保了測試儀器的可靠性甚至人員安全性。例如,在使用設備之前,工程師可能會測量儀表電壓以確保其安全。如果儀表損壞或提供的信息不準確,就會造成人員傷害甚至死亡。此外,校準是質(zhì)量的保證,可確保產(chǎn)品最終測試結果的準確性,以及在交付客戶時滿足技術指標要求。
參考文獻
1. 美國國家標準與技術研究院(NIST)是美國商務部的一個部門。http://www.nist.gov/index.html
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