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解析基于FPGA的智能控制器設(shè)計(jì)及測(cè)試方法

作者: 時(shí)間:2012-06-11 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
  1 引 言
  隨著市場(chǎng)需求的增長(zhǎng),超大規(guī)模集成電路的集成度和工藝水平不斷提高,在一個(gè)芯片上完成系統(tǒng)級(jí)的設(shè)計(jì)已成為可能。固有的并行運(yùn)算處理能力,使得它能夠提供各種數(shù)字化所需要的大量復(fù)雜運(yùn)算,適合于設(shè)計(jì)一些對(duì)處理速度和實(shí)時(shí)性要求較高的。近幾年,基于描述,實(shí)現(xiàn)的控制器設(shè)計(jì)研究比較活躍,如Torralba等人完成了4輸入、12個(gè)隸屬度、64條規(guī)則的模糊邏輯控制器的實(shí)現(xiàn)[1],Cirstea等人基于FPGA設(shè)計(jì)模糊控制器,成功的用于變速器的控制[2]。另外,由于FPGA設(shè)計(jì)的靈活性和通用性,使得基于FPGA的控制器開(kāi)發(fā)效率高,成本低,上市時(shí)間短。
  由于FPGA在方面的大量使用,設(shè)計(jì)后的測(cè)試便成了設(shè)計(jì)者在開(kāi)發(fā)過(guò)程中必須重點(diǎn)考慮的問(wèn)題,同時(shí),一種好的測(cè)試方法不僅能及早發(fā)現(xiàn)設(shè)計(jì)中存在的問(wèn)題CONTROL ENGINEERING China版權(quán)所有,而且能提高設(shè)計(jì)的可靠性。目前基于描述的測(cè)試一般是通過(guò)開(kāi)環(huán)時(shí)序仿真來(lái)驗(yàn)證其邏輯設(shè)計(jì)的正確性,而對(duì)于一些輸入激勵(lì)信號(hào)不固定或比較多的智能控制器來(lái)說(shuō),開(kāi)環(huán)時(shí)序仿真并不能確切模擬控制器的激勵(lì)輸入信號(hào)。由此,本文在開(kāi)環(huán)時(shí)序仿真的基礎(chǔ)上提出一種基于QuartusII、DSP Builder和Modelsim的閉環(huán)時(shí)序方法,并借助于某一特定智能控制器的設(shè)計(jì)對(duì)該閉環(huán)測(cè)試方法進(jìn)行了較為深入的研究。
  2 FPGA設(shè)計(jì)與測(cè)試平臺(tái)
  研究采用QuartusII4.0、 DSP Builder3.0以及Modelsim SE6.0作為FPGA的設(shè)計(jì)及測(cè)試平臺(tái)。
  QuartusII4.0是Altera公司的第四代可編程邏輯器件集成開(kāi)發(fā)環(huán)境,提供從設(shè)計(jì)輸入、設(shè)計(jì)編譯、功能仿真、設(shè)計(jì)處理、時(shí)序仿真到器件編程的全部功能。同時(shí),它可以產(chǎn)生并識(shí)別EDIF網(wǎng)表文件、網(wǎng)表文件和Verilog HDL網(wǎng)表文件,并且為其它EDA工具提供了方便的接口??梢栽谏厦孀詣?dòng)運(yùn)行其它EDA工具,包括Synplicity的Synplify/Synplify Pro、Mentor Graphics子公司Exemplar Logic 的LeonardoSpectrum以及Synopsys的FPGA CompilerII等。這些綜合軟件能以很高的效率將VHDL/Verilog設(shè)計(jì)軟件轉(zhuǎn)換為針對(duì)選定器件的標(biāo)準(zhǔn)網(wǎng)表文件。此外,QuartusII4.0里還集成了一個(gè)SOPC Builder開(kāi)發(fā)工具,支持SOPC開(kāi)發(fā)[3]。
  DSP Builder以Matlab/Simulink的Blockset形式出現(xiàn),可以在Simulink中進(jìn)行圖形化設(shè)計(jì)和仿真,同時(shí)通過(guò)Signal Compiler可以將Matlab/Simulink的設(shè)計(jì)文件(.mdl)轉(zhuǎn)換成相應(yīng)的VHDL文件(.vhd),以及用于控制綜合與編譯的TCL腳本[4]。
  Mentor Graphics公司的Modelsim是業(yè)界中比較好的仿真工具,其仿真功能強(qiáng)大,支持模擬波形顯示,且圖形化界面友好,具有結(jié)構(gòu)、信號(hào)、波形、進(jìn)程和數(shù)據(jù)流等窗口。
  通過(guò)綜合使用上述三種平臺(tái),可以很好的規(guī)劃設(shè)計(jì)流程,充分利用各個(gè)工具的優(yōu)點(diǎn),提高開(kāi)發(fā)效率,所得的測(cè)試結(jié)果也更加可靠。
  3 智能控制器的VHDL設(shè)計(jì)及測(cè)試特點(diǎn)
  以模糊自整定PID控制器為例,其位置式控制算法為:
  ui = Kp ei+Ki T∑ei+Kd/T(ei-ei-1)+u0 ; 3.1
  其中:Kp = kp+tp×△Kp、Ki = ki+ti×△Ki、Kd = kd+td×△Kd為PID控制器實(shí)時(shí)參數(shù);△Kp、△Ki、△Kd為模糊推理得出的修正值。模糊推理過(guò)程采取Mamdani直接推理法,采用質(zhì)心法求取相應(yīng)的最終精確值。
  基于VHDL描述的模糊自整定PID控制器設(shè)計(jì)采用自頂向下設(shè)計(jì)方法,在RTL級(jí)對(duì)各個(gè)單元模塊進(jìn)行設(shè)計(jì)描述,用結(jié)構(gòu)VHDL將各個(gè)單元通過(guò)單元映射(PORT MAP)聯(lián)系起來(lái),組成整個(gè)控制器芯片??刂破餍酒暮诵氖强刂婆c運(yùn)算單元,涉及基本的數(shù)據(jù)處理、存儲(chǔ)和I/O控制。其頂層模塊的電路原理圖如圖1所示。

圖1控制器頂層模塊電路原理圖

  其中:control:控制模塊,產(chǎn)生存儲(chǔ)器內(nèi)數(shù)據(jù)的讀寫地址;ram:存儲(chǔ)模塊www.cechina.cn,存儲(chǔ)外部采集來(lái)的數(shù)據(jù);accum:累加模塊,累加10次,讀進(jìn)存儲(chǔ)器的數(shù)據(jù);max_min:求Max/Min模塊,對(duì)采集來(lái)的數(shù)據(jù)進(jìn)行最大最小值求解;sub:減法模塊,剔除Max/Min;average_8:濾波模塊,對(duì)剔除后的數(shù)據(jù)進(jìn)行8次平均濾波;compare:比較模塊,與給定值相比較,產(chǎn)生偏差e;delay:延遲模塊,產(chǎn)生偏差的變化率ec;fpid:模糊自整定PID控制器模塊,產(chǎn)生控制器的輸出信號(hào)。
  本系統(tǒng)中,A/D采用AD574A,其轉(zhuǎn)換速度最大為35μs,轉(zhuǎn)換精度小于等于0.05%。在用VHDL設(shè)計(jì)A/D的I/O模塊時(shí),采用的是狀態(tài)機(jī)描述。狀態(tài)機(jī)分為5個(gè)狀態(tài):STATE0:實(shí)現(xiàn)A/D574的初始化;STATE1:產(chǎn)生片選信號(hào),啟動(dòng)轉(zhuǎn)換;STATE2:STATUS電平監(jiān)測(cè),狀態(tài)切換;STATE3:8位輸出數(shù)據(jù)有效;STATE4:由Lock信號(hào)對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行鎖存。
  基于VHDL語(yǔ)言描述的智能控制器測(cè)試特點(diǎn)是:控制器模塊可以作為一個(gè)獨(dú)立模塊通過(guò)開(kāi)環(huán)時(shí)序測(cè)試基準(zhǔn)對(duì)其邏輯功能的正確性進(jìn)行測(cè)試。但是,對(duì)于控制系統(tǒng)來(lái)說(shuō),我們更關(guān)心的是在典型輸入信號(hào)作用下,系統(tǒng)輸出的時(shí)間響應(yīng)過(guò)程,包括動(dòng)態(tài)過(guò)程和穩(wěn)態(tài)過(guò)程,因此采用閉環(huán)時(shí)序測(cè)試顯得尤為必要。
  4 基于FPGA的智能控制器開(kāi)環(huán)時(shí)序測(cè)試
  基于FPGA的智能控制器開(kāi)環(huán)時(shí)序測(cè)試機(jī)理是:通過(guò)連接激勵(lì)實(shí)體和在測(cè)模塊,將在測(cè)模塊的輸出響應(yīng)值同期望值相比較來(lái)驗(yàn)證控制器設(shè)計(jì)是否符合設(shè)計(jì)要求,設(shè)計(jì)者可以用QuartusII軟件的波形編輯器產(chǎn)生作為仿真器激勵(lì)的向量波形文件(.vwf),也可以使用基于文本的向量文件(.vec)作為仿真器的激勵(lì)。其中VWF使用圖形化的波形形式描述了仿真器的輸入向量和仿真的輸出結(jié)果,而VEC則使用一種特殊格式的文件為模塊中的輸入信號(hào)和向量添加激勵(lì)[5],這是目前設(shè)計(jì)中最常采用的測(cè)試方法。模糊自整定PID控制器開(kāi)環(huán)時(shí)序如圖2所示。


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