HDMI產品設計和兼容測試常見問題與分析

HDMI組織規(guī)定HDMI產品必須通過HDMI CT才能打上HDMI商標。同類產品中的后續(xù)產品也應通過自測試。業(yè)界極力推薦廠商在將產品送測前先做預測試以節(jié)省時間和金錢。Analog Devices (ADI) 分別在美國的綠堡、東京、臺灣和北京設立了四家預測試中心。這些中心可以為客戶提供有關源端和接收端設備的全部測試項目，甚至在測試現場幫助客戶更改器件和線路以驗證修改方案的可行性。這a些措施是為使用ADI產品的客戶提供更好的服務，縮短客戶產品上市的時間，提高客戶產品的穩(wěn)定性。我們的目標是凡是通過我們預測的系統(tǒng)都能通過正式測試。到目前為止我們完全達到了此目標?；谏习俅螠y試過程中積累的經驗，下面我們將總結和討論客戶在HDMI測試中最常遇到的問題，典型測試項目失敗的原因和可能的修改方案。

HDMI兼容測試常見問題與解析：

絕大多數測試客戶在第一次測試的時候都會或多或少的在一些測試項目上失敗。其實跟芯片相關的一些電氣性能測試，比如“Jitter Tolerance”等，芯片廠商都已經在芯片設計階段考慮到如何保證通過這些測試項目。所以客戶需要特別注意一些跟系統(tǒng)設計相關的問題，以及為配合測試所設計的功能，例如源端設備(Tx)需要提供可以將HDCP（High Definition Content Protection）關閉和打開的選項等。以下結合客戶測試常遇到的問題對一些測試項目加以說明，希望能夠幫助讀者在設計階段就避免這些問題。

源端測試(Tx)

EDID 相關的測試

對于HDMI源端設備要求必須支持“Enhanced DDC”協(xié)議，即讀取接收端設備的EDID信息時可以使用段指針0x60讀取首256字節(jié)以后的信息。雖然現在絕大多數客戶使用256字節(jié)的EDID信息，但是HDMI測試時候會檢測讀取4個塊（每塊128個字節(jié)），即512字節(jié)信息的能力。是否存在多塊信息可以從EDID內容的0x7E地址獲知。客戶自己測試時往往只測試對前256字節(jié)的支持能力，而忽略了對段指針的要求。

+5V電源輸出

有些客戶習慣性地在HDMI輸出端口的電源輸出通路上串聯(lián)電阻，起到限流的作用。但在HDMI Tx 的測試中會接一個吸取55mA電流的負載，然后測試輸出電壓，要求電壓在4.8V和5.3V之間。例如圖1所示例子中串接了一個10歐姆的電阻，結果造成輸出電壓為，5－10x0.055 = 4.45V 4.8V，此項測試失敗。

圖1: +5V Power

有關的 DDC/CEC 測量

客戶在處理HDMI端口的消費類電子產品控制(CEC)管腳時，即HDMI端口的第13管腳，如果其產品不支持CEC功能，可以將此管腳懸空。但往往是客戶的產品雖然不支持CEC功能，還是將此管腳連接到了主處理芯片的通用管腳上，已備今后擴展使用，此時需注意對此管腳在電氣性能和物理連接上的一些限制，比如電容需小于100pF等，否則會導致HDMI測試無法通過。

接收端(Rx)測試

EDID相關測試項目應注意的問題

客戶在測試過程中經常會失敗在這些與EDID測試相關的項目。其實這些項目如果熟悉規(guī)范的相關要求，通過相對來說是比較容易的。例如有關規(guī)范要求在EDID的前128個字節(jié)中一定要提供“Monitor Range Limit Header”和“Monitor Name Header”，但如果這兩個項目的內容分別不足18個字節(jié)的話，需要以0x0A為結尾同時以0x20填充剩余的字節(jié)。另外一個經常在EDID測試中遇到的問題是，客戶不能將EDID中的短型視頻描述符(SVD)模塊與提交的能力申報表(CDF)一致，在CDF中表明支持的格式在EDID的SVD模塊中沒有表明支持，或者是相反。