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關(guān)于LED燈具可靠性檢測工作的思考

作者: 時間:2014-01-20 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

隨著LED技術(shù)的快速發(fā)展,LED在照明領(lǐng)域的各個方面應(yīng)用也越來越廣泛,并逐漸開始占據(jù)照明市場的主導(dǎo)地位。

本文引用地址:http://2s4d.com/article/221877.htm

  LED作為新型照明光源,在很多方面具有傳統(tǒng)光源所無法比擬的優(yōu)勢。但是,它在實際應(yīng)用過程中仍存在一些問題而導(dǎo)致它沒有達(dá)到其理論上的使用壽命和光度參數(shù)上的要求。因此,如果不能實現(xiàn)高可靠性、長壽命的LED光源,即使光效再好,高昂的維護成本必然限制其在各個領(lǐng)域的應(yīng)用。白熾燈的額定壽命一般是1000小時,熒光燈的平均壽命是10000小時,而根據(jù)美國照明研究中心(LRC)Narendran等人對白光LED進行的壽命實驗,LED的壽命可以達(dá)到10萬小時。

  一、的重要性

  照明LED商業(yè)化到現(xiàn)在還不足15年,技術(shù)仍在不斷發(fā)展和完善。而各生產(chǎn)廠商在外延到芯片到封裝技術(shù)水平上也相差較大,同一廠商生產(chǎn)的不同批次LED質(zhì)量也參差不齊。再加上應(yīng)用產(chǎn)品的設(shè)計以及使用方法的差別,照明LED的壽命完全達(dá)不到理論上的10萬小時。因此,提高LED的可靠性是LED研究的重中之重。而對LED可靠性的研究是提高其可靠性和使用壽命的前提和基礎(chǔ)。對LED的可靠性的研究不僅能從根源上對LED的失效機理進行分析,進而從設(shè)計、工藝以及使用等方面提出改進方案,而且可對LED照明產(chǎn)品的可靠性提供全面的評估,為LED早期失效篩選及產(chǎn)品質(zhì)量管理提供依據(jù),因此,LED可靠性的研究無論對于LED科研還是LED產(chǎn)業(yè)都具有非常重要的學(xué)術(shù)價值和實用價值。

  美國能源部(DOE)固態(tài)照明2010年技術(shù)路線也將LED照明產(chǎn)品的可靠性強化試驗和加速壽命試驗的相關(guān)評價與測試技術(shù)作為最近幾年的重要研究方向,并獲得美國研究機構(gòu)的支持??其J、飛利浦等照明巨頭也投入巨大人力、物力進行LED可靠性方面的研究。我國工信部、科技部、國家半導(dǎo)體照明工程研發(fā)及產(chǎn)業(yè)聯(lián)盟(CSA)、廣東省科技廳近年來也投入許多資金加大對LED照明產(chǎn)品可靠性方面的支持和研究。許多高校、研究機構(gòu)、標(biāo)準(zhǔn)聯(lián)盟都提出計劃準(zhǔn)備制定LED可靠性和加速壽命試驗方面的標(biāo)準(zhǔn),但是由于缺少可靠的研究成果,目前各類檢測和認(rèn)證在評估壽命時都仍然按在正常工作狀態(tài)燃點,然后測量光衰的辦法。

二、LED燈具可靠性和壽命檢測的現(xiàn)狀

  按照國家標(biāo)準(zhǔn),傳統(tǒng)熒光燈和節(jié)能燈的性能測試方法都要測試2000h光衰和6000h壽命。目前CQC的LED照明產(chǎn)品節(jié)能認(rèn)證是測量3000h、6000h和10000h光衰來評判LED燈具的壽命;而美國的能源之星對LED照明產(chǎn)品進行認(rèn)證時,光衰減測試的最低要求是6000小時。這些測試方法雖然能檢測出樣品的實際壽命情況,但是測試時間太長,測試費用也過高,完全不能滿足市場的需求。因為有別于傳統(tǒng)燈具技術(shù)比較成熟和穩(wěn)定,LED技術(shù)發(fā)展迅速,每隔半年產(chǎn)品用的芯片和產(chǎn)品外形都有很大的變化,等到6000小時的光衰試驗做完,這個產(chǎn)品可能已經(jīng)被市場淘汰,因此我們必須找到更快速和更科學(xué)的LED燈具方法。

  如果把LED燈具看作一個系統(tǒng),根據(jù)我們可以把它分為三個子系統(tǒng),分別是光源模塊(模組)子系統(tǒng),驅(qū)動電源子系統(tǒng)和接口子系統(tǒng)。筆者認(rèn)為,目前某些研究機構(gòu)提出把整體燈具進行壽命加速試驗然后來預(yù)測壽命這個方法不太妥當(dāng)。不同系統(tǒng)的失效原理和加速原理都差異巨大,得出來的數(shù)據(jù)并不可靠。所以,應(yīng)該按照不同子系統(tǒng)來分開對待。LED燈具的驅(qū)動電源子系統(tǒng)無論和傳統(tǒng)燈具的控制裝置比較,還是和目前市場上的其余電子產(chǎn)品的電源比較,技術(shù)難度并不算高,對光源可靠性的影響也沒有傳統(tǒng)燈具控制器那么大,所以按照目前的LED控制裝置的國家標(biāo)準(zhǔn)和國際標(biāo)準(zhǔn)嚴(yán)格測試就基本可以保證它的可靠性。接口子系統(tǒng)通過振動和接口插拔等試驗也可以保證它的可靠性,關(guān)鍵需要研究的是LED光源模塊子系統(tǒng)。

  三、LED光源模塊的失效原因

  LED光源模塊一般由基板、芯片、封裝材料(包括熒光粉)、透鏡組成,某些模塊還包括散熱裝置和導(dǎo)熱硅膠,現(xiàn)在流行的封裝方式有DOB和COB。因為LED光源模塊設(shè)計的多樣性和組成的復(fù)雜性,所以造成失效的原因也非常多,一般包括以下幾點:

  1.封裝材料退化

  LED在日常生活使用的過程中,長時間的工作會讓LED的藍(lán)光與GaN系統(tǒng)中的帶間輻射復(fù)合所產(chǎn)生的紫外線的輻射和溫度升高而引致LED的外表封裝材料(如環(huán)氧樹脂)內(nèi)的許多聚合物的光學(xué)透明度的大輻度下降,從而引起了LED的出光效率的下降。

  對于這個封裝材料的退化會引起LED的出光效率降低的這個問題,D.L.Barton等人曾做過研究試驗。實驗表明當(dāng)LED的環(huán)境溫度為95℃、驅(qū)動電流大于40mA時,LED的pn結(jié)溫度超過145℃,這個溫度是讓封裝材料達(dá)到了變色的臨界狀態(tài)。如果在大電流的條件下,封裝材料甚至?xí)霈F(xiàn)碳化,從而在器件的表面生成一種不透明物質(zhì)或形成導(dǎo)電通道,致使器件失效。

2.污染物焊接

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