新聞中心

EEPW首頁(yè) > 模擬技術(shù) > 設(shè)計(jì)應(yīng)用 > 基于多通道寬帶示波器的MIMO射頻測(cè)試調(diào)試

基于多通道寬帶示波器的MIMO射頻測(cè)試調(diào)試

作者: 時(shí)間:2012-05-11 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
行比較,從而確定不同誤差機(jī)制對(duì)射頻發(fā)射機(jī) EVM誤差的影響。例如,天線串?dāng)_可能不會(huì)影響RS EVM值,但會(huì)對(duì)復(fù)合EVM產(chǎn)生影響。另一方面,其他射頻發(fā)射機(jī)減損,例如相位噪聲和PA增益壓縮都可對(duì)RS EVM和復(fù)合EVM產(chǎn)生負(fù)面影響。

  總結(jié)

  四通道測(cè)量存在許多測(cè)試難題,使得故障診斷和調(diào)試變得更具挑戰(zhàn)性。本文介紹了發(fā)射天線定時(shí)誤差,此誤差有可能影響LTE 參考信號(hào)正交,從而影響天線串?dāng)_、星座圖和EVM 等測(cè)量結(jié)果。非常適合進(jìn)行雙通道或四通道測(cè)量,并有助于診斷發(fā)射天線通道之間可能存在的定時(shí)誤差。通過(guò)結(jié)合使用和VSA軟件,工程師能夠從多個(gè)不同方面對(duì)MIMO信號(hào)進(jìn)行測(cè)量和分析:時(shí)域、頻域和調(diào)制域,根據(jù)測(cè)量結(jié)果對(duì)硬件性能問(wèn)題進(jìn)行故障診斷和隔離。通過(guò)對(duì)比RS EVM和復(fù)合 EVM,工程師能夠了解不同誤差機(jī)制(例如相位噪聲、天線串?dāng)_、PA增益壓縮)對(duì)射頻發(fā)射機(jī)EVM誤差的影響。


上一頁(yè) 1 2 3 4 下一頁(yè)

評(píng)論


相關(guān)推薦

技術(shù)專區(qū)

關(guān)閉