SEMISHARE V系列探針臺全球首發(fā)，閃耀SEMICON Europa 2024

11月12日，德國半導(dǎo)體展覽會SEMICON Europa 2024在慕尼黑盛大啟幕。森美協(xié)尓作為先進晶圓探針臺制造商參展，全球首發(fā)V系列新一代高性能探針臺，用成果展示了晶圓測試領(lǐng)域的無限創(chuàng)新可能，也為不斷變化的半導(dǎo)體測試市場需求作出了有力響應(yīng)。

森美協(xié)爾CEO劉世文先生攜頂尖工程師團隊亮相展會現(xiàn)場，讓客戶沉浸式體驗森美協(xié)爾前沿晶圓測試技術(shù)，共同探討行業(yè)洞見。展位人流絡(luò)繹不絕，V系列探針臺一經(jīng)亮相就憑借其高測試靈活性，優(yōu)異電學(xué)測試精度，集成工業(yè)美學(xué)的外觀和緊湊型尺寸等核心性能，贏得了眾多專業(yè)人士的高度評價和青睞，積極反饋不斷，現(xiàn)場預(yù)售火熱開啟中。

隨著半導(dǎo)體技術(shù)向更精細、更復(fù)雜方向發(fā)展，科研機構(gòu)對于多樣化測試需求不斷增加，半導(dǎo)體封裝測試廠商也面臨提升效率與降低成本的挑戰(zhàn)。森美協(xié)爾V系列探針臺不僅繼承了明星產(chǎn)品X系列半自動探針臺的功能與操作性，也支持加裝loader，實現(xiàn)手動與自動晶圓上片自由切換，賦予科研機構(gòu)及半導(dǎo)體封裝測試廠商更高的測試靈活性，輕松挑戰(zhàn)復(fù)雜多變的測試任務(wù)。

半導(dǎo)體參數(shù)測試對于低漏電流的要求非常高，低漏電流測試能力直接關(guān)系到半導(dǎo)體器件的質(zhì)量和可靠性，森美協(xié)爾V系列卡盤漏電流可達400fA以內(nèi)，使得系統(tǒng)能夠測量更低級別的漏電流參數(shù)。

（V8卡盤漏電流測試結(jié)果）

在外觀方面，V系列探針臺相比X系列產(chǎn)品實現(xiàn)了重大突破。它的體積和重量縮減至原來的二分之一，緊湊的設(shè)計大大減少了占地面積。這一改進無論是在空間有限的科研實驗室，還是布局緊湊的生產(chǎn)車間，它都能游刃有余地安置，完美契合現(xiàn)代半導(dǎo)體行業(yè)對于空間利用的高要求，幫助企業(yè)實現(xiàn)降本增效。

森美協(xié)爾始終專注于半導(dǎo)體測試領(lǐng)域的精研深耕，力求以頂尖科技為全球芯片產(chǎn)業(yè)提供更精準(zhǔn)、高效、可靠的測試解決方案。V8系列新一代探針臺作為團隊的匠心之作將賦能于各類半導(dǎo)體器件檢測流程，讓測試流程化繁為簡、提速增效、靈活可控，亦是對森美協(xié)爾始終堅持創(chuàng)新引領(lǐng)發(fā)展、客戶至上品牌理念的深度詮釋。